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面向高成品率設(shè)計(jì)的EDA技術(shù)
成品率下滑已成為當(dāng)今納米集成電路設(shè)計(jì)中面臨的最大挑戰(zhàn)之一。如何在研發(fā)高性能IC 同時保證較高的成品率已成為近年來學(xué)術(shù)界及工業(yè)界關(guān)注的熱點(diǎn)問題。 一 芯片成品率在電子產(chǎn)品生產(chǎn)中，成品率問題由于與生產(chǎn)成本以及企
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