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泰克推出針對(duì)MHL CTS 2.0規(guī)范的首款自動(dòng)測(cè)試解決方案
21ic訊 泰克公司日前宣布推出針對(duì)最新移動(dòng)高清連接 (MHL) 一致性測(cè)試規(guī)范 (CTS) 2.0的自動(dòng)測(cè)試解決方案，支持對(duì)發(fā)射器 (Tx)、接收器 (Rx) 和dongle 進(jìn)行物理 (PHY) 層及協(xié)議層的測(cè)試。該解決方案提供了獨(dú)特一體化的
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Cd4017網(wǎng)線自動(dòng)測(cè)試器
這種網(wǎng)絡(luò)自動(dòng)測(cè)試器，可方便地檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)線的連通情況的連接線序，具有一定的實(shí)用價(jià)值，最適合初學(xué)者自制。電路工作原理見下圖所示。用NE555型電路制作成頻率約f=1Hz的對(duì)稱方波，由3腳輸出至十進(jìn)制計(jì)數(shù)/分頻器的IC2、I
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安捷倫在自動(dòng)測(cè)試會(huì)議上展出最新ATE解決方案
安捷倫科技公司日前宣布，將在 2012 年自動(dòng)測(cè)試會(huì)議（AUTOTESTCON 2012）上展出其最近發(fā)布的多種 ATE 儀器和軟件。該會(huì)議將于 9 月 11 日至 13 日在加州阿納海姆迪斯尼樂(lè)園度假酒店（Disneyland Resort in Anaheim,
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安捷倫在自動(dòng)測(cè)試會(huì)議上展出最新ATE解決方案
安捷倫科技公司日前宣布，將在 2012 年自動(dòng)測(cè)試會(huì)議（AUTOTESTCON 2012）上展出其最近發(fā)布的多種 ATE 儀器和軟件。該會(huì)議將于 9 月 11 日至 13 日在加州阿納海姆迪斯尼樂(lè)園度假酒店（Disneyland Resort in Anaheim,
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安捷倫在自動(dòng)測(cè)試會(huì)議上展出最新ATE解決方案
21ic訊 安捷倫科技公司日前宣布，將在 2012 年自動(dòng)測(cè)試會(huì)議(AUTOTESTCON 2012)上展出其最近發(fā)布的多種 ATE 儀器和軟件。該會(huì)議將于 9 月 11 日至 13 日在加州阿納海姆迪斯尼樂(lè)園度假酒店(Disneyland Resort in Ana
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電路板故障診斷的多總線自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究
摘要：為滿足現(xiàn)代越來(lái)越復(fù)雜的電子裝備的測(cè)試需求，結(jié)合測(cè)試儀器接口多元化的發(fā)展，提出了將VXI、GPIB、1394集成于一體的多總線自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。該測(cè)試系統(tǒng)采用具有高傳輸速率的VXI與1394總線，提高了電路板功能測(cè)試
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DFT測(cè)試方法之比較
ASIC設(shè)計(jì)的平均門數(shù)不斷增加，這迫使設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將20%到50%的開發(fā)工作花費(fèi)在與測(cè)試相關(guān)的問(wèn)題上，以達(dá)到良好的測(cè)試覆蓋率。盡管遵循可測(cè)試設(shè)計(jì)(DFT)規(guī)則被認(rèn)為是好做法，但對(duì)嵌入式RAM、多時(shí)鐘域、復(fù)位線和嵌入式IP的測(cè)
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led自動(dòng)測(cè)試與分揀設(shè)備是實(shí)現(xiàn)高速高精度的關(guān)鍵
杭州中為光電技術(shù)有限公司技術(shù)總監(jiān)周銘分析了國(guó)內(nèi)LED封裝生產(chǎn)企業(yè)對(duì)自動(dòng)測(cè)試與分揀設(shè)備的需求情況及標(biāo)準(zhǔn)化現(xiàn)狀，介紹LED自動(dòng)測(cè)試與分揀設(shè)備實(shí)現(xiàn)高速高精度的關(guān)鍵問(wèn)題，以及LED測(cè)試與分揀設(shè)備工作原理、目前的技術(shù)狀況
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led自動(dòng)測(cè)試與分揀設(shè)備是實(shí)現(xiàn)高速高精度的關(guān)鍵
杭州中為光電技術(shù)有限公司技術(shù)總監(jiān)周銘分析了國(guó)內(nèi)LED封裝生產(chǎn)企業(yè)對(duì)自動(dòng)測(cè)試與分揀設(shè)備的需求情況及標(biāo)準(zhǔn)化現(xiàn)狀，介紹LED自動(dòng)測(cè)試與分揀設(shè)備實(shí)現(xiàn)高速高精度的關(guān)鍵問(wèn)題，以及LED測(cè)試與分揀設(shè)備工作原理、目前的技術(shù)狀況
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基于CompactPCI的GSM基站自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)的構(gòu)建
中國(guó)通訊產(chǎn)業(yè)的高速增長(zhǎng)促進(jìn)了通訊制造業(yè)的測(cè)試技術(shù)水平不斷改進(jìn)和發(fā)展。在通訊設(shè)備的制造過(guò)程中，越來(lái)越復(fù)雜的測(cè)試條件和高度自動(dòng)化的大生產(chǎn)環(huán)境，迫切需要開發(fā)出功能更強(qiáng)大、成本更低廉、系統(tǒng)更靈活的通用測(cè)試儀器
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通用自動(dòng)測(cè)試軟件平臺(tái)設(shè)計(jì)
傳統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)缺乏通用性，最根本的解決方法是標(biāo)準(zhǔn)化。本文以ABBET（A BroadBased Environment for Test）標(biāo)準(zhǔn)為主,與ATS(Automatic Test System)相關(guān)的其他國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)為輔，采用符合標(biāo)準(zhǔn)描述的軟件層次結(jié)構(gòu)，使用C
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泰克推出業(yè)界首個(gè)MHL CTS 1.2自動(dòng)測(cè)試解決方案
中國(guó)北京，2012年3月13日 –全球示波器市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)廠商---泰克公司日前宣布，推出針對(duì)最新移動(dòng)高清連接（MHL™）一致性測(cè)試規(guī)范（CTS）1.2的自動(dòng)測(cè)試解決方案，支持對(duì)發(fā)射機(jī)、接收機(jī)和轉(zhuǎn)換器（dongle）進(jìn)行
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LabVIEW、多核技術(shù)及FPGA技術(shù)如何改變自動(dòng)測(cè)試
關(guān)鍵字：LabVIEW、多核技術(shù) FPGA技術(shù)編輯筆記：Eric Starkloff，美國(guó)國(guó)家儀器的模塊化儀器和儀器控制產(chǎn)品營(yíng)銷總監(jiān)。他將和我們一起討論影響儀器技術(shù)和自動(dòng)測(cè)試的一些變化，以及NI的LabVIEW，多核處理器技術(shù)和現(xiàn)場(chǎng)可編
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泰克推出針對(duì)SFP+標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)測(cè)試和調(diào)試解決方案
21ic訊 泰克公司日前宣布，推出用于SFF-8431、SFP+ PHY和SFP+直連電纜規(guī)范“10GSFP+CU”測(cè)量的首款完善的自動(dòng)測(cè)試和調(diào)試解決方案，可顯著減少測(cè)試時(shí)間，并大大提高設(shè)計(jì)工程師和技術(shù)人員的生產(chǎn)力。用于DPO/
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日本愛(ài)德萬(wàn)公司董事長(zhǎng)訪問(wèn)北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所
2010年8月26日，世界著名集成電路測(cè)試設(shè)備公司日本愛(ài)德萬(wàn)(ADVANTEST)公司董事長(zhǎng)丸山利雄一行三人到北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所訪問(wèn)，所長(zhǎng)張東、總工程師馮建科給予了熱情的接待。 張東所長(zhǎng)向來(lái)訪人員介紹了測(cè)試所目前
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中國(guó)LED芯片測(cè)試和分選技術(shù)獲得突破
據(jù)了解，LED芯片測(cè)試和分選技術(shù)，是繼LED芯片和外延片后，困擾我國(guó)LED行業(yè)的另一個(gè)重大技術(shù)難題。不過(guò)，日前已被志成華科率先突破。并成功研發(fā)設(shè)計(jì)了LED芯片自動(dòng)測(cè)試與分選設(shè)備，正醞釀開展產(chǎn)業(yè)化。據(jù)悉目前，志成華
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中國(guó)LED芯片測(cè)試和分選技術(shù)獲得突破
據(jù)了解，LED芯片測(cè)試和分選技術(shù)，是繼LED芯片和外延片后，困擾我國(guó)LED行業(yè)的另一個(gè)重大技術(shù)難題。不過(guò)，日前已被志成華科率先突破。并成功研發(fā)設(shè)計(jì)了LED芯片自動(dòng)測(cè)試與分選設(shè)備，正醞釀開展產(chǎn)業(yè)化。據(jù)悉目前，志成華
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基于架構(gòu)與基于流程的DFT測(cè)試方法之比較
ASIC設(shè)計(jì)的平均門數(shù)不斷增加，這迫使設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將20%到50%的開發(fā)工作花費(fèi)在與測(cè)試相關(guān)的問(wèn)題上，以達(dá)到良好的測(cè)試覆蓋率。盡管遵循可測(cè)試設(shè)計(jì)(DFT)規(guī)則被認(rèn)為是好做法，但對(duì)嵌入式RAM、多時(shí)鐘域、復(fù)位線和嵌入式IP的測(cè)
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基于多MCU的自動(dòng)測(cè)試診斷系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
隨著IT產(chǎn)業(yè)和通信技術(shù)、電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)的高速發(fā)展，大量的生產(chǎn)裝備和產(chǎn)品的電子化、數(shù)字化、自動(dòng)化、智能化的程度越來(lái)越高，與之配套的電子測(cè)量設(shè)備必須適應(yīng)這種形勢(shì)。因此，綜合測(cè)量技術(shù)、電子技術(shù)、自動(dòng)化技
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直升機(jī)自動(dòng)測(cè)試中的數(shù)據(jù)采集及濾波模塊的研究
摘要：針對(duì)國(guó)內(nèi)某型號(hào)直升機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)際應(yīng)用需求，設(shè)計(jì)了基于TMS320F2812的可配置參數(shù)的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集及濾波模塊。模塊能夠?qū)?shí)時(shí)數(shù)據(jù)進(jìn)行FIR濾波、FFT頻譜分析，實(shí)現(xiàn)CAN通訊。在介紹硬件系統(tǒng)的基礎(chǔ)上，研究了
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