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富士通尋求聯盟伙伴 開發(fā)芯片及集成業(yè)務
據路透社的一份報告稱，富士通微電子公司(Fujitsu Microelectronics)正在尋求日本以外的半導體公司與其進行聯盟，雙方討論的重點包括了一系列特權，如聯合開發(fā)先進芯片及集成業(yè)務。 富士通微電子還表示，該公司的2
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集成LED驅動器的6通道觸摸控制器（Atmel）
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新的MIPS Navigator集成元件套件（MIPS）
新的MIPS Navigator集成元件套件（MIPS）
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新的MIPS Navigator集成元件套件（MIPS）
新的MIPS Navigator集成元件套件（MIPS）
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新的MIPS Navigator集成元件套件（MIPS）
新的MIPS Navigator集成元件套件（MIPS）
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Y977A／B 霹靂閃光燈集成模塊電路圖
Y977A／B 模塊可用于各種家用電器電子閃光控制，如錄音機、音響閃光顯示等，也可用于歌廳、舞廳及店鋪裝飾性閃光控制，還可用于電子玩具閃光和摩托車后車廂閃光控制等。如圖所示為其引腳排列及內部框圖。
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新型光耦合集成隔離放大器3650和3652
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集成LED驅動器的6通道觸摸控制器（Atmel）
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集成LED驅動器的6通道觸摸控制器（Atmel）
集成LED驅動器的6通道觸摸控制器（Atmel）
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Tata Elxsi和Discretix宣布集成新的移動電視解決方案
致力于為移動設備和快閃記憶體提供嵌入式安全內容保護解決方案的Tata Elxsi和Discretix宣布，將Discretix的綜合移動電視安全客戶端方案整合進Tata Elxsi的獨立移動電視平臺。 集成后的綜合解決方案將為設備制造商提供
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亞洲行業(yè)盛事頻繁 IR節(jié)能創(chuàng)新再成矚目焦點
國際整流器公司 (International Rectifier，簡稱IR) 宣布將全面參加在2008年秋季舉行的聚焦節(jié)能環(huán)保行業(yè)盛會。屆時，IR將展示其最新為亞洲市場而設的節(jié)能電源管理技術和產品，這些技術和產品主要應用在汽車、家用電器
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TI推出具有集成時鐘抖動清除器的四通道SerDes器件TLK3134
德州儀器 (TI) 宣布推出一款可實現速度達 30 Gbps 雙向點對點數據傳輸速率的四通道串行器/解串器 (SerDes) 集成電路TLK3134。該器件具備高靈活性，可配置為 XAUI 或 10 GFC 收發(fā)器。這種多速率收發(fā)器支持每串行通道
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集成式熱插拔控制器（Linear）
凌力爾特公司 (Linear Technology Corporation) 推出 2A 集成式熱插拔 (Hot Swap) 控制器 LTC4217，該器件用于保護負載電源電壓范圍為 2.9V 至 26.5V 的低功率電路板。
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集成鎖相環(huán)芯片Si4133的原理及應用
頻率合成技術是近代射頻微波系統的主要信號源。目前廣泛采用的是數字式頻率合成器，一般由晶體振蕩器、分頻器、鑒相器、濾波器和VCO(壓控振蕩器)等組成，將晶體振蕩器輸出的頻率信號分頻得到標準頻率信號，然后與VCO輸出的頻率信號在鑒相器中進行相位比較，并產生環(huán)路鎖定控制電壓，該電壓通過濾波器加到VCO上，便可對VCO輸出的信號進行控制和校正，直到環(huán)路被鎖定為止。
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具有集成時鐘抖動清除器的高靈活性四通道SerDes器件（TI）
TI推出具有集成時鐘抖動清除器的高靈活性四通道SerDes器件，超寬速度范圍使設計人員能通過一體化器件輕松實施多種不同通信標準
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集成式熱插拔控制器（Linear）
凌力爾特公司 (Linear Technology Corporation) 推出 2A 集成式熱插拔 (Hot Swap) 控制器 LTC4217，該器件用于保護負載電源電壓范圍為 2.9V 至 26.5V 的低功率電路板。
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集成壓力信號調理器MAX1450構成的電橋驅動電路圖
集成壓力信號調理器MAX1450構成的電橋驅動電路圖:
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高精度集成壓力信號調理器MAX1457的溫度補償電路圖
高精度集成壓力信號調理器MAX1457的溫度補償電路圖:
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多通道壓力巡檢儀的電路框圖(高精度集成壓力信號調理器MAX1457)
利用多片MAX1457亦可配單片A／D轉換器和單片機，構成多通道壓力巡檢儀，電路框圖如圖所示。圖中采用一片八選一模擬開關CD4051，最多可接收8路傳感信號。每只傳感器的校準系數都存儲在93C66中。CD4051的輸出接ICL7135
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基于SPI總線的高精度壓力測試系統(高精度集成壓力信號調理器MAX1457)
使用MAX1457、27C64各一片，再配上壓阻式壓力傳感器，即可構成一個壓力測量模塊。由n個壓力測量模塊與微機、數字電壓表構成基于SPI總線的高精度壓力測試系統，電路如圖所示。它是由6條傳輸線組成的測試系統，包括兩條
