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32位ARM嵌入式處理器的調(diào)試技術(shù)
摘要：針對(duì)32位ARM處理器開(kāi)發(fā)過(guò)程中調(diào)試技術(shù)的研究，分析了目前比較流行的基于JTAG的實(shí)時(shí)調(diào)試技術(shù)，介紹了正在發(fā)展的嵌入式調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)，并展望期趨勢(shì)。 關(guān)鍵詞：嵌入式 調(diào)試
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