摘要:針對32位ARM處理器開發(fā)過程中調(diào)試技術(shù)的研究,分析了目前比較流行的基于JTAG的實時調(diào)試技術(shù),介紹了正在發(fā)展的嵌入式調(diào)試標(biāo)準,并展望期趨勢。 關(guān)鍵詞:嵌入式 調(diào)試
《21ic技術(shù)洞察》系列欄目第二期:工業(yè)自動化中的AI視覺系統(tǒng)
IT002國家為什么要重點發(fā)展區(qū)塊鏈技術(shù)
指針才是C的精髓
ARM開發(fā)進階:深入理解調(diào)試原理
、深度剖析 C 語言 結(jié)構(gòu)體/聯(lián)合/枚舉/位域:鉑金十三講 之 (12)
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