可測試性設計（DFT）實現(xiàn)：掃描鏈插入與邊界掃描測試向量生成

在集成電路設計復雜度持續(xù)提升的背景下，傳統(tǒng)功能測試方法面臨覆蓋率不足、故障定位困難等挑戰(zhàn)?？蓽y試性設計（DFT）通過在芯片中嵌入測試結構，顯著提升了故障檢測效率。本文聚焦掃描鏈插入與邊界掃描測試向量生成兩大核心技術，探討其實現(xiàn)方法與工程應用。

DFT概述

離散傅里葉變換(DFT)，是傅里葉變換在時域和頻域上都呈現(xiàn)離散的形式，將時域信號的采樣變換為在離散時間傅里葉變換(DTFT)頻域的采樣。在形式上，變換兩端(時域和頻域上)的序列是有限長的，而實際上這兩組序列都應當被認為是離散周期信號的主值序列。即使對有限長的離散信號作DFT，也應當將其看作經(jīng)過周期延拓成為周期信號再作變換。在實際應用中通常采用快速傅里葉變換以高效計算DFT。

LTE上行DFT/IDFT的一種設計實現(xiàn)

FFT、PFT和多相位DFT濾波器組瞬態(tài)響應的比較

引言 濾波器組頻率響應的研究是一個非常復雜的課題。這方面的大多數(shù)文章只研究穩(wěn)定狀態(tài)下的響應，事實上，雷達和其它突發(fā)方式的信號具有瞬時的特性。因此，了解濾波器組

DFT、DTFT和DFS你搞清楚了嗎？

大家好，又到了每日學習的時間了，今天咱們來聊一聊數(shù)字信號處理中DFT、DTFT和DFS的關系，咱們通過幾幅圖來對比，探討一下哦。

提高DFT測試覆蓋率的方法

　伴隨著現(xiàn)代大規(guī)模集成電路制造工藝的快速發(fā)展，設計工程師必需直面芯片制造過程中可能產生的物理缺陷。現(xiàn)今流行的可測試性設計(DFT：Design For Testability)應運而生，并為保證芯片的良品率擔任著越

借助硬件加速仿真將 DFT 用于芯片設計

可測試性設計 (DFT) 在市場上所有的電子設計自動化 (EDA) 工具中是最不被重視的，縱然在設計階段提高芯片的可測試性將會大幅縮減高昂的測試成本，也是如此。最近的分析數(shù)據(jù)表明，在制造完成后測試芯片是否存在制造缺陷的成本已增至占制造成本的 40%，這已達到警戒水平。