基于UVM的SoC寄存器級(jí)驗(yàn)證環(huán)境構(gòu)建方法

在SoC（System on Chip）驗(yàn)證中，寄存器級(jí)驗(yàn)證是確保芯片功能正確性的核心環(huán)節(jié)。UVM（Universal Verification Methodology）憑借其標(biāo)準(zhǔn)化的寄存器模型（RAL）和層次化驗(yàn)證架構(gòu)，成為寄存器驗(yàn)證的主流方法。本文結(jié)合工程實(shí)踐，闡述基于UVM的寄存器驗(yàn)證環(huán)境構(gòu)建方法。