在MCU開發(fā)和應用中，工程師都需要進行MCU的能力測試，通用的做法是用Benchmark（基準）程序來測試。然而，在做基準測試時，編譯器的優(yōu)化能力也在測試結果中有較為明顯的影響，同一套硬件平臺，選用不同的編譯器和不同的優(yōu)化選項，可能得出的結果相差較大。

為了最大程度釋放MCU的性能，在基準測試中取得最理想的結果，往往需要工程師不僅對自身的硬件比較了解，更需要深入了解編譯器的優(yōu)化原理，并靈活應用，才能在基準測試中發(fā)揮出MCU的全部性能。IAR Systems作為全球知名的嵌入式工具廠商，其編譯器在優(yōu)化能力上有獨特的優(yōu)勢，MCU配合IAR的編譯器往往能夠得出較好的基準測試結果。

本文以已在MCU領域內廣泛使用的IAR Embedded Workbench開發(fā)工具套件為例，來分享MCU軟件基準測試應該注意的項目和以下技巧，從而幫助讀者能夠去生成業(yè)內最高效和最完備的代碼。利用以下項目和設置，工程師可以精準調整優(yōu)化等級，最大限度地進行測試和提升所開發(fā)和應用代碼的性能。

選擇代碼尺寸還是執(zhí)行速度

利用IAR Embedded Workbench等開發(fā)工具套件，工程師可以對整個工程范圍或對單個文件設定優(yōu)化級別和類型。在源代碼中，甚至可以對單個函數使用 #pragma optimize 指令來完成此操作。

優(yōu)化的目的是減少代碼尺寸和提高執(zhí)行速度。如果只能滿足其中一個目標，編譯器會根據用戶指定的設置進行優(yōu)先處理。因此，在實際的軟件基準測試中，工程師可以嘗試各種設置來獲得最佳效果。舉個例子，由于函數內聯(lián)更側重于執(zhí)行速度的優(yōu)化，相較于采用通用代碼尺寸優(yōu)化設置，采用函數內聯(lián)與通用代碼執(zhí)行速度優(yōu)化設置將獲得更小的程序代碼。

選擇小型內存模型

為了能夠充分地發(fā)揮MCU器件的性能和減少應用中的問題，軟件開發(fā)必須充分考慮MCU器件的內存等資源限制，因此需要為目標器件和項目選擇盡可能小的內存模型。小型內存模型的優(yōu)點包括：

更小尺寸的地址

更小尺寸的指令

更小尺寸的指針

效率更高

代碼更少

諸如IAR Embedded Workbench這樣的成熟的開發(fā)工具套件也集成了相關評估功能，可以對內存模型進行多方面評估，從而幫助工程師去測試軟件的規(guī)模和優(yōu)化設計。

選擇合適的運行時庫

默認情況下，運行時庫是以最高代碼尺寸優(yōu)化級別進行編譯的。如果您想要對速度進行優(yōu)化，請考慮重新編譯生成這些庫?？梢酝ㄟ^配置選項來設置某些標準庫功能（如語言環(huán)境、文件描述符和多字節(jié)）最適合的級別。

根據具體需求，在庫選項中選擇 scanf 輸入和 printf 的格式。默認選項并非最小格式。

使用正確的數據類型

數據類型與代碼尺寸或者執(zhí)行速度息息相關，因此需要利用開發(fā)工具來對數據類型進行觀察和分析，以便找到適合硬件資源的類型。在IAR Embedded Workbench開發(fā)工具套件中，開發(fā)人員可以從以下幾個方面著手進行測試和優(yōu)化：

選擇最適合您應用程序的的數據類型尺寸

盡量使用無符號字符型，這樣就能執(zhí)行位操作而不是算術操作

檢查目標特定選項

檢查能提高性能的目標特定選項，這在日常的MCU設計和應用開發(fā)中往往需要工程師具有相當的經驗，但是通過使用諸如IAR Embedded Workbench這類成熟的開發(fā)工具套件則可以快速而完善地完成必要的性能檢查：

高效的尋址模式——可實現(xiàn)高效的內存訪問

使用特定的寄存器來處理常量/變量——代碼在寄存器上的操作效率比在內存上更高

偶對齊函數入口——偶對齊指令可以提高速度

字節(jié)對齊對象——更小的存儲空間需求，但可能生成更大的代碼尺寸

使用基準測試相關代碼

所有的MCU開發(fā)工具都應該提供基準測試相關代碼，但是成熟的通用開發(fā)工具的代碼庫都是這些提供商在相關領域經驗的濃縮，因此更為全面和高效。其中的重要經驗包括：

嵌入式系統(tǒng)的基準測試應該針對嵌入式程序的特點來設計。

實際的應用程序通常也適用于基準測試，但需要確保代碼的可執(zhí)行性。鏈接器會刪除未引用的代碼和變量，但并非所有的鏈接器都具備這種功能。

確保測試代碼不受測試工具（測試相關函數）的影響。以下示例其實是對 printf() （測試相關函數）進行了基準測試。

比較鏈接后生成的代碼。一款編譯器可能會采用內聯(lián)代碼，而另一款編譯器可能會調用庫。

充分了解用于執(zhí)行基準測試的應用代碼！

總結

通過使用諸如IAR Embedded Workbench這類成熟的開發(fā)工具套件，發(fā)揮其在幾十年全球性應用中行匯聚和迭代出的知識，MCU設計和應用開發(fā)工程師可以快速完成上述這些必要的性能測試，同時也可以進一步有針對性地發(fā)揮MCU的性能，從而實現(xiàn)目標器件最優(yōu)化的、軟硬件合一的功能。