一直以來，頻譜分析儀都是大家的關注焦點之一。因此針對大家的興趣點所在，小編將為大家?guī)眍l譜分析儀的相關介紹，詳細內(nèi)容請看下文。

一、頻譜分析儀大顯身手

1.EMI場地勘測

便攜式的頻譜分析儀與寬帶天線的組合在探測電磁干擾過程中特別有用。在1KHz～1GHz之間的輻射電磁干擾探測僅用一臺頻譜儀和一根天線就可完成。不同地理位置環(huán)境干擾的勘測有助于確定最佳的EMI開闊測試場地?？睖y的信息也可用于確定安置EMI敏感校驗或設計組的最佳位置。多數(shù)情況下，來自建筑物外最小的環(huán)境電磁干擾區(qū)域趨于建筑物的中央。對于多層建筑物，地下室或較低樓層通常具有最小的環(huán)境電磁干擾。

有時，甚至在EMI敏感設備放置一段時間后會突然發(fā)生電磁干擾問題，頻譜分析儀則是標出問題緣由的重要診斷工具。天線用于決定發(fā)射源的方向并標出最大干擾的區(qū)域。RF電流間斷電源(UPS)產(chǎn)生的干擾，通過頻譜分析儀與寬帶天線跟蹤追查某寬帶電磁干擾到一間裝有UPS的房間，用RF電流探頭探出干擾源是蓄電池線纜。

2.屏蔽效能測試

頻譜分析儀能用來測試材料、設備屏蔽箱體、甚至較大屏蔽測試室的屏蔽效能。材料樣品可以通過橫電磁波(TEM波)室、頻譜分析儀和跟蹤發(fā)生器測試，測試裝置與濾波器衰減測試很相似，只是用TEM波室代替了濾波器。材料樣本放在TEM室里測試其頻率變化的衰減特性或屏蔽效能。

另一種用頻譜分析儀測試材料的方法是將材料樣本蒙在測試盒的開口上。這里，跟蹤發(fā)生器與一小發(fā)射天線相連并放在測試盒的內(nèi)部。接收天線放在測試盒的外面并與頻譜儀相連。用材料樣本覆蓋的測量值之差就是屏蔽效能值。

二、頻譜分析儀實現(xiàn)相位噪聲測量

FSUP Signal Source Analyzer信號源分析儀(見圖)建立于該公司非常成功的FSU頻譜分析儀平臺，包括了額外的相位噪聲測量能力。它有兩種不同的工作模式：作為一臺頻譜分析儀或作為一臺信號源分析儀。在后一種模式下，它提供帶有頻譜分析儀的相位噪聲測量，帶有相位比較儀的相位噪聲測量，以及帶有相位比較儀和交叉關聯(lián)的相位噪聲測量。FSUP可以使用其內(nèi)部參考振蕩器或用戶提供的外部參考源。該儀器是一種強大振蕩器測試工具，對于可調(diào)振蕩器具有寬廣的測量范圍，包括對壓控振蕩器(VCO)調(diào)節(jié)特性、VCO DC特性、VCO RF特性、調(diào)諧靈敏度、VCP偏壓，以及諧波功率的測試。

各種測量提供了無與倫比的性能和準確性，如其動態(tài)范圍如下：顯示平均噪聲水平(DANL)為-160dBm、三階交調(diào)截取點為+25 dBm。為可靠地測量高頻振蕩器的相位噪聲，F(xiàn)SUP分析儀中包括一個低噪聲內(nèi)部參考源，它能夠提供1-GHz載波頻率偏移10 kHz處-134 dBc/Hz的相位噪聲，或同樣載波頻率偏移10 MHz處-170dBc/Hz的相位噪聲。雜散電平為-80 dBc/8GHz、-68 dBc/26.5GHz，以及-62 dBc/50GHz?？蛇x擇的型號FSUP-B60為FSUP分析儀提供了兩條平行接收路徑，以通過兩路徑之間的交叉關聯(lián)進行相位噪聲測量。這樣就消除了內(nèi)部參考源固有的噪聲，并使動態(tài)范圍改善高達20 dB。

FSUP Signal Source Analyzer信號源分析儀具有解析頻寬(RBW)濾波器功能，在10 Hz ~20 MHz具有3dB帶寬，以及50-MHz寬帶濾波器。這些分析儀還包括在200 Hz、9 kHz和120 kHz具有6dB帶寬的電磁噪聲干擾(EMI)濾波器，以及在1 Hz ~30 kHz具有3dB帶寬的快速傅利葉變換 (FFT)數(shù)字過濾器。視頻(3dB)帶寬濾波器在1 Hz ~10 MHz范圍。在兩種測量模式下的頻率解析度均為0.01 Hz。FSUP分析儀可顯示DANL至+30dBm的振幅水平。

測試結果顯示于具有800 x 600像素SVGA分辨率的8.4英寸(21 cm) LCD TFT顯示屏。可選擇功能包括：0~30dB電子衰減，20dB增益前置放大器，和用于可以將測量能力擴展到110GHz的外部混頻器的端口。FSUP分析儀包括 Ethernet (RJ45)、通用串行總線(USB)、RS-232C串口以及GPIB接口。

以上就是小編這次想要和大家分享的有關頻譜分析儀的內(nèi)容，希望大家對本次分享的內(nèi)容已經(jīng)具有一定的了解。如果您想要看不同類別的文章，可以在網(wǎng)頁頂部選擇相應的頻道哦。