在通信及電子技術日益發(fā)展的今天， 所有的系統(tǒng)依舊由各種元器件組成。多種多樣的元器件仍然在各個行業(yè)扮演著發(fā)展基石的角色。這個角色不可或缺，而又多種多樣。

針對當今豐富的器件測試需求和挑戰(zhàn)，如何完成器件的性能鑒定直接影響著未來整個系統(tǒng)的性能與穩(wěn)定。

今天我們將會針對器件測試的各種挑戰(zhàn)為您做詳細解讀。都是滿滿的干貨喲!

1.有源器件測試

我們先來說一下最常見的有源器件測試。在這一部分，被測件通常是是放大器，混頻器或變頻器。

憑借超高的集成度和靈活的硬件結構，Keysight的當紅小生PNA-B系列矢量網絡分析儀可憑借一己之力取代以往復雜的測試機柜，單槍匹馬完成以下這些復雜測試，著實一個‘戲精’的存在，Keysight資深工程師們都打心眼里佩服它呢，太會搶戲了!它有的殺手锏如下：

2.毫米波太赫茲器件測試

毫米波太赫茲器件測試是行業(yè)內成長最快的新銳力量，隨著5G技術的普及，汽車雷達的廣泛應用，以及太赫茲成像等先進技術的快速商用進程，毫米波器件的應用越來越廣泛。

Keysight N5290A/91A寬帶單次掃描解決方案支持900Hz-120GHz頻率覆蓋范圍，配合擴頻模塊，可以達到高達1.5THz的頻率覆蓋。最最重要的事情，千萬不要忘記這套系統(tǒng)的測試引擎可是剛剛介紹過的那個戲精PNA-B矢量網絡分析儀。

所以，即使是在毫米波和太赫茲領域，除了它最擅長的S參數測試以外，還能幫助工程師完成：

毫米波頻譜分析

在毫米波頻率范圍內進行真正的差分和I/Q器件測量

毫米波范圍的多通道測試

毫米波頻段混頻器和變頻器損耗，增益及輸入輸出匹配測試

3.晶圓測試

晶圓測試在炙手可熱的半導體行業(yè)里也扮演著至關重要的角色。對于器件建模，技術開發(fā)，半導體工藝開發(fā)和規(guī)范，過程控制，元器件定標和試生產來說，精確的和可重復的晶圓級測量必不可少。

為了減少用戶在配置系統(tǒng)上所消耗的時間，Keysight和CascadeMicrotech 建立了全球統(tǒng)一的全新服務模式，使用Keysight測試儀器及測試軟件Cascade Microtech晶圓級探針臺及附件等提供了一系列完全綜合的元器件測量和器件表征解決方案。

該方案在業(yè)界樹立的全新服務及技術支持模式，我們稱之為WMS(Wafer-level Measurement Solution Program),可以為半導體用戶提供有保證的配置，安全和全面的技術支持：

精確可重復的晶圓級測量

單次連接，多次測量，保證晶圓的出品率

與Cascade Mirotech一起為用戶提供有保證的系統(tǒng)配置

首次測量時間最短

4.無源器件測試

無源器件在電子行業(yè)中用量大、普及廣、成本低。

在中國制造高速成長的幾十年間，得到的真理就是高可靠性、穩(wěn)定性和重復性的產線測試解決方案即是最有效的成本控制手段。

作為行業(yè)旗艦和標準的ENA經濟型網絡分析儀在大規(guī)模生產環(huán)境下已經被驗證，并且成為了業(yè)界的典范。

針對大量多端口器件的研發(fā)生產，復雜的市場環(huán)境，多變的產品，動態(tài)變化的出貨量，處處是挑戰(zhàn)。為了幫助用戶靈活應對，模塊化矢量網絡分析儀應運而生。關鍵能力包括：

高可靠性的典范性能

端口數量靈活配置

測試站點靈活調整

多端口器件的一次性測試

高達32端口的全交叉校準和測量

5.材料測試

隨著各種先進技術的快速發(fā)展，作為真正的基礎學科的材料科學近兩年來受到更多的重視。

面對豐富奇葩五花八門的各種待測材料，大到電子行業(yè)中的方方面面的材料，如常用天線材料，航空領域材料需求，家電行業(yè)中材料需求，小到我們日常生活中的水果成熟度和含糖量，這些都統(tǒng)統(tǒng)離不開材料測試。

在這個領域，Keysight也絕對不會手軟哈!用Keysight網絡分析儀和最新的材料測試軟件N1500A將會為您提供最完善的材料測試的功能。要知道N1500A是業(yè)界最權威的材料測試工具呢!

介電常數和磁導率的自動化測試功能

靈活配置的測量方法支持傳輸線法，拱形反射率，諧振腔法，同軸探頭法，自由空間法等

豐富的測試夾具支持能力

6.便攜式綜測儀讓您隨時隨地精確測量

在外場怎么辦?請您帶上一只 ”野外小狐貍”, 別看它小小一只，其實什么都能做。Fieldfox N995X便攜式射頻微波綜合分析儀是您在外場不可或缺的小幫手。下面這些工作，它全都能幫到您呢!

7.信號完整性

您知道矢量網絡分析儀可以幫您完成信號完整性的測試嗎?

針對于越來越高的數據速率，使用網絡分析儀作為核心結合物理層測試軟件PLTS的情景越來越多，他們的完美結合可以完成下列的測試功能。此外，靈活多變的多端口器件處理小能手PXI矢量網絡分析儀與PLTS結合，會擦出更多的火花呢!

比如，構建高達32端口的高速電纜、背板的完整時域、頻域特性的一致性測試系統(tǒng)。測量單條Mini-SAS電纜的總測試時間只需要十幾秒鐘。PLTS的主要功能：

接插件、背板的時域和頻域特性

頻域包括回波損耗、插入損耗、模式轉換、近端串擾、遠端串擾等

時域包括連接器和電纜、走線的阻抗，電時延、對內時延差和對間時延差等

眼圖和眼圖模板測試

時域和頻域、眼圖指標的一致性測試

支持COM測試和PAM4眼圖仿真

使用PLTS的自動夾具移除AFR功能可以很方便地提取夾具效應并做去嵌入，從而得到被測件真實的特性

差分TRL校準功能，可以提取差分夾具的串擾效應，從而得到更加精確的結果

看了這么多滿滿的干貨之后，我們知道一臺好的矢網確實能夠讓您事半功倍。當然好馬配好鞍，好的矢網永遠離不開好的校準件的搭配。

每天使用電子校準件對矢網進行校準能夠達到類似于為電子秤歸零的作用，這樣才能更快速、輕松、精確地使用矢量網絡分析儀進行測量。然而您是否有好好關心保養(yǎng)它呢?

電子校準件是從根本上來說是一種非常穩(wěn)定的器件。如果連接、儲存和處理方法正確的話，電子校準件在校準周期內使用時可以達到保證的技術指標。但是極端的環(huán)境、過大的輸入和不正確的處理方法都會降低其穩(wěn)定性和可重復性。最終連接器損壞可能會顯著影響測量精度。

重~點~來~了~

產生這些OOT(校準超差)的原因，一個是電子校準件內部標準發(fā)生了變化，另一個是不正確的處理方式導致連接器受到損壞。

內部標準

電子校準件阻抗標準件的特征受老化率、漂移等因素的影響會發(fā)生變化。為了達到電子校準件的性能技術指標，必須定期更新電子校準件內置存儲器中保存的阻抗標準件S參數數據。

連接方式

有缺陷或受到損壞的連接器會降低電子校準件的性能，進而影響您的測量結果的準確性。下圖顯示了完好連接器與受損連接器的對比示例。