隨著我們繼續(xù)推進(jìn)電子產(chǎn)品的可能性,對(duì)可靠和高性能電子系統(tǒng)的需求繼續(xù)增長(zhǎng)。因此,印刷電路板裝配件的復(fù)雜性日益增加,因此需要進(jìn)行測(cè)試,以確保電子制造層的質(zhì)量、可靠性和功能。

挑戰(zhàn)#1：增加PCBA密度和制造業(yè)的大量需求

隨著技術(shù)的進(jìn)步，人們對(duì)緊湊和設(shè)計(jì)復(fù)雜的設(shè)備的需求發(fā)生了重大變化。這引發(fā)了PCBA設(shè)計(jì)的重大發(fā)展，其特點(diǎn)是有兩個(gè)關(guān)鍵的發(fā)展：

· 設(shè)備小型化，以應(yīng)對(duì)對(duì)所有更小巧更快的東西日益增長(zhǎng)的需求。因此，設(shè)計(jì)人員正在積極增加PCBA的功能，從而增加需要測(cè)試訪問的組件數(shù)量。

· PCBA的容量很大，雖然測(cè)試訪問的增加是不可避免的，但這種容量的增長(zhǎng)在電路內(nèi)測(cè)試(ICT)系統(tǒng)中造成了瓶頸。

應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)意味著利用能夠容納更多測(cè)試節(jié)點(diǎn)的技術(shù)。這最終意味著增加容量并允許處理較大的面板。

挑戰(zhàn)#2:高阻抗節(jié)點(diǎn)的長(zhǎng)期短測(cè)試

短測(cè)試是信通技術(shù)期間進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)無動(dòng)力測(cè)試。這個(gè)測(cè)試檢查在ppba上的組件之間的不需要的短褲。在接下來的動(dòng)力測(cè)試階段,短測(cè)試也有助于保護(hù)板不受損壞。隨著技術(shù)的發(fā)展,由于對(duì)信號(hào)質(zhì)量的需求不斷增加、耗電量降低和功能改進(jìn),高阻抗節(jié)點(diǎn)的普及率一直在上升。

然而,高阻抗節(jié)點(diǎn)的短測(cè)試時(shí)間明顯較長(zhǎng)。平均而言,測(cè)試高阻抗節(jié)點(diǎn)比測(cè)試低阻節(jié)點(diǎn)需要三倍的時(shí)間。在測(cè)試中出現(xiàn)這種差異是由于高阻抗節(jié)點(diǎn)的獨(dú)特特性,由于低電流流,需要更長(zhǎng)的穩(wěn)定時(shí)間,以及少量的噪聲如何影響測(cè)量。因此,測(cè)試人員必須將測(cè)試信號(hào)延長(zhǎng)一段時(shí)間,以穩(wěn)定電壓或電流,以確保準(zhǔn)確的讀數(shù)。當(dāng)在高阻抗節(jié)點(diǎn)上檢測(cè)到短時(shí),短隔離過程中也會(huì)有復(fù)雜性,隔離和識(shí)別特定的短隔離節(jié)點(diǎn)可能是一個(gè)更復(fù)雜的過程。這種延長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間可能會(huì)妨礙生產(chǎn)線的總體測(cè)試吞吐量,對(duì)效率和生產(chǎn)速度提出挑戰(zhàn)。

針對(duì)測(cè)試高阻抗節(jié)點(diǎn)的挑戰(zhàn),增強(qiáng)短測(cè)試包括兩個(gè)階段:檢測(cè)階段和隔離階段。該算法是為提高高阻抗節(jié)點(diǎn)的短檢測(cè)效率而設(shè)計(jì)的,不適用于已知短阻抗節(jié)點(diǎn)或低阻節(jié)點(diǎn)。

考慮一個(gè)包含100個(gè)高阻抗節(jié)點(diǎn)的情況。在這種情況下,每個(gè)節(jié)點(diǎn)將有一個(gè)7位標(biāo)識(shí)符長(zhǎng)度。通過實(shí)施增強(qiáng)的短測(cè)試,測(cè)試過程大大簡(jiǎn)化,只需要7次迭代完成測(cè)試,而不是100次。因此,這種減少迭代次數(shù)的方法有效地最大限度地減少了整個(gè)測(cè)試的持續(xù)時(shí)間。

在隔離階段,如果檢測(cè)到短路,增強(qiáng)短測(cè)試方法就采用了將技術(shù)減半的方法,以確定意外短發(fā)生的特定節(jié)點(diǎn),并鏡像標(biāo)準(zhǔn)算法。然而,一個(gè)關(guān)鍵的區(qū)別在于順序:短節(jié)點(diǎn)最初從一個(gè)組確定,然后從另一個(gè)組確定,優(yōu)化識(shí)別過程的效率。

挑戰(zhàn)3:在電路測(cè)試中測(cè)試超級(jí)電容器(1-100法拉茲)

超級(jí)電容器,常被稱為超級(jí)電容器,是一種以其高電容為特征的電容器,電容從1法拉德到100法拉德不等。一般而言,電容器是電化學(xué)器件,旨在以靜電能的形式存儲(chǔ)能量。

超級(jí)電容器的非凡儲(chǔ)能能力使其在許多應(yīng)用中特別有價(jià)值,例如支持電動(dòng)和混合動(dòng)力汽車(EVS/HEV)和插插式混合動(dòng)力汽車(PHVV)。它們被用于停止啟動(dòng)功能、快速加速度和再生制動(dòng)操作。

除了汽車應(yīng)用之外,超級(jí)電容器還充當(dāng)輔助電源,在關(guān)鍵系統(tǒng)發(fā)生故障或啟動(dòng)過程中提供應(yīng)急備份電源。此外,它們?cè)诰S持車輛電力系統(tǒng)內(nèi)的穩(wěn)定電壓水平,從而提高電力質(zhì)量方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用。這種穩(wěn)定性確保敏感電子元件獲得一致和可靠的電源,有助于系統(tǒng)的整體可靠性和性能。

因此,必須精確地充電、測(cè)試和放電超級(jí)電容器。

挑戰(zhàn)#4:電路內(nèi)測(cè)試中的低電流測(cè)量

泄漏和睡眠電流對(duì)各種裝置,包括移動(dòng)裝置、醫(yī)療設(shè)備和汽車裝置的性能起著至關(guān)重要的作用。這些電流是設(shè)備能量消耗的特別重要的指標(biāo),提供了對(duì)電池在需要充電或更換前能持續(xù)運(yùn)行多久的洞察力。

在汽車應(yīng)用中,發(fā)動(dòng)機(jī)控制單元(ECU)說明了管理泄漏和睡眠電流的重要性。ECU監(jiān)督發(fā)動(dòng)機(jī)運(yùn)行中的關(guān)鍵功能,如氣候控制、氣囊管理和防鎖制動(dòng)系統(tǒng)。在ECU中對(duì)這些電流的處理效率低下,可能導(dǎo)致電池不必要的流失,導(dǎo)致電池壽命縮短和潛在的電氣故障。

除效率問題外,滲漏電流也構(gòu)成重大的安全風(fēng)險(xiǎn)。這些電流引起的故障可能會(huì)導(dǎo)致ECU內(nèi)部的安全臨界電路無法預(yù)測(cè)的行為,可能導(dǎo)致危險(xiǎn)情況。例如,故障的安全系統(tǒng)可能導(dǎo)致安全氣囊在碰撞中部署失敗?？紤]到這些潛在的風(fēng)險(xiǎn),必須進(jìn)行細(xì)致的低電流測(cè)量。

挑戰(zhàn)#5:對(duì)PCBA的有限測(cè)試訪問

實(shí)現(xiàn)對(duì)高密度PCBA的全面測(cè)試需要在整個(gè)電路的每個(gè)電節(jié)點(diǎn)上設(shè)置測(cè)試點(diǎn),使電路內(nèi)測(cè)試器能夠進(jìn)行徹底的組件測(cè)試和連接測(cè)試。然而,在密集包裝的PCBA中容納所有電氣節(jié)點(diǎn)上的測(cè)試點(diǎn)是不切實(shí)際的。測(cè)試點(diǎn)分配的這種限制導(dǎo)致高密度PCBA測(cè)試覆蓋率下降。

可以通過引入自動(dòng)集群形成和這些集群的測(cè)試生成來解決這一問題。一個(gè)自動(dòng)化功能計(jì)算了無源模擬集群的等效阻抗,并將其與測(cè)量結(jié)果進(jìn)行了比較。隨后,為測(cè)量密集包裝pcba上的集群組件制定一個(gè)全面的測(cè)試計(jì)劃。這大大減少了手工識(shí)別集群和生成測(cè)試所需的工程努力。

在高密度電路內(nèi)測(cè)試器中引入了增強(qiáng)的集群測(cè)試算法,為建立可靠的無源設(shè)備集群和生成測(cè)試計(jì)劃提供了一種自動(dòng)化解決方案。利用先進(jìn)集群庫(acl)算法的力量,確保集群的有效形成。隨后的階段涉及嚴(yán)格的硬件需求驗(yàn)證,有助于為測(cè)試目的確定可靠的集群。通過簡(jiǎn)化流程,即使是新的測(cè)試工程師也能有效地執(zhí)行測(cè)試。這一進(jìn)步為客戶提供了改進(jìn)測(cè)試精度、更快測(cè)試執(zhí)行和提高生產(chǎn)過程可靠性的可能性,所有這些都得到了自動(dòng)集群測(cè)試算法的促進(jìn)。

總結(jié)

為了解決今天pcba測(cè)試的挑戰(zhàn),減少迭代次數(shù)是至關(guān)重要的,從而減少高密度pcba所需的測(cè)試時(shí)間。通過加快測(cè)試時(shí)間和重新設(shè)想測(cè)試覆蓋面,制造商將能夠克服復(fù)雜性。