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當(dāng)前位置:首頁(yè) > 測(cè)試測(cè)量 > 測(cè)試測(cè)量
[導(dǎo)讀] 測(cè)量誤差的來源是由測(cè)試系統(tǒng)的精度、以及在對(duì)OLED給出信號(hào)和進(jìn)行測(cè)量期間所未曾想到的瞬態(tài)過程引起的。在進(jìn)行快速的生產(chǎn)測(cè)試時(shí),在穩(wěn)定狀態(tài)下進(jìn)行精確DC測(cè)量的能力,是與盡可能快地完成測(cè)試的需求相互牽制的。測(cè)試周

 測(cè)量誤差的來源是由測(cè)試系統(tǒng)的精度、以及在對(duì)OLED給出信號(hào)和進(jìn)行測(cè)量期間所未曾想到的瞬態(tài)過程引起的。在進(jìn)行快速的生產(chǎn)測(cè)試時(shí),在穩(wěn)定狀態(tài)下進(jìn)行精確DC測(cè)量的能力,是與盡可能快地完成測(cè)試的需求相互牽制的。測(cè)試周期的時(shí)間長(zhǎng)短是由源/測(cè)量以及開關(guān)操作組成的,而這一周期時(shí)間可以有非常大的變化范圍。比如,如果2400被設(shè)置成用最短的測(cè)試時(shí)間間隔(aperture)完成操作,即0.01 NPLC,那么源/測(cè)量過程就可以在1ms內(nèi)完成。如果把積分(integration)周期或測(cè)量時(shí)間增加到1.0 NPLC,那么測(cè)量時(shí)間就增加到大約17ms。用犧牲測(cè)試速度來增加測(cè)試時(shí)間間隔的好處是,可以得到極優(yōu)的噪聲抑制,也就是在比較“安靜”的狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試。

為了得到穩(wěn)定和可重復(fù)的測(cè)量,關(guān)鍵一點(diǎn)是被測(cè)參數(shù)在源/測(cè)量期間達(dá)到和保持在一個(gè)穩(wěn)定值上。這個(gè)概念對(duì)于OLED測(cè)試是特別重要的。OLED的電與光的特性是與時(shí)間有關(guān)的,而且呈現(xiàn)出滯后效應(yīng)1,2。與比較熟悉的基于半導(dǎo)體的光電發(fā)射器相比,OLED的電特性則非常之不同。由于這個(gè)原因,我們?cè)谠噲D設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)之前,必須對(duì)測(cè)試參數(shù)的瞬態(tài)行為有一個(gè)完整的理解。瞬態(tài)過程的特性也有助于測(cè)試協(xié)議的開發(fā),并可簡(jiǎn)化測(cè)試數(shù)據(jù)的分析,以及增進(jìn)對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的可信度。信號(hào)源延遲時(shí)間,也就是,從把信號(hào)加到OLED至測(cè)量開始之間的這一可變的時(shí)間延遲,也許可以用來降低瞬態(tài)效應(yīng)。圖1表示了在測(cè)試系統(tǒng)被設(shè)置為NPLC = 10以及信號(hào)源延遲從0.0005變化到10秒的條件下,對(duì)四像素同時(shí)測(cè)試時(shí)的每個(gè)像素的漏電流。為了達(dá)到小于1nA的穩(wěn)態(tài)漏電流,就至少需要數(shù)秒的時(shí)間。

圖1. 四像素測(cè)試時(shí)每個(gè)像素的反向偏置電流,其中源/測(cè)量時(shí)間延遲從0.0005變化到10秒,使用6V偏壓。

測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試性能取決于測(cè)試儀器的基本精度、以及由系統(tǒng)中其他元件引起的誤差源。電纜和開關(guān)卡的漏電流是電流測(cè)量的一個(gè)誤差源。對(duì)于測(cè)試夾具和電纜連線,這一誤差會(huì)隨著被測(cè)電流絕對(duì)值的降低而增加。選擇正確的掃描卡,也就是說,掃描卡的額定漏電流至少要比最小的被測(cè)電流低一個(gè)數(shù)量級(jí),該指標(biāo)非常關(guān)鍵。對(duì)于設(shè)計(jì)成用2400進(jìn)行10-8A測(cè)量的測(cè)試系統(tǒng),無需保護(hù)電路。

采用兩線感出結(jié)構(gòu)的電壓測(cè)量誤差,是由掃描卡上使用的繼電器的“導(dǎo)通”電阻以及電纜的電阻壓降損耗產(chǎn)生的。7015-C卡上的兩個(gè)繼電器合起來,將對(duì)信號(hào)通路產(chǎn)生最大 < 300Ω的電阻。對(duì)于小于50μA的電流測(cè)量,包含典型的電阻壓降損耗在內(nèi)的電壓誤差將是很小的,其典型值為 < 15μV。對(duì)于較大的電流測(cè)量,比如當(dāng)顯示器的一整列被激勵(lì)時(shí),誤差將正比于OLED的電流。這一數(shù)值也許可以用Verror = 2 * (Rrelay)×IOLED(s)來計(jì)算。那些要求電壓測(cè)量精度非常高的應(yīng)用,也就是,電壓測(cè)量不受DUT電流的影響,則需要一種四線測(cè)試結(jié)構(gòu)。

7158型和7058型掃描卡上的機(jī)械繼電器有一個(gè)大約等于或小于1Ω的接觸電阻,由此引起的電壓誤差是可以忽略的,即使在大電流時(shí)也如此。對(duì)于這一應(yīng)用,由下述掃描卡的接觸電勢(shì)所引起的誤差也許也可看作是可忽略的;這些掃描卡的接觸電勢(shì)是:7015-C為 < 5mV,7058和7158分別為 < 250μV和 < 200μV。

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