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[導(dǎo)讀]本文介紹了通過Vf—TJ 曲線的標(biāo)出并控制LED 在控定的結(jié)溫下測量其光、色、電參數(shù)不僅對采用LED的照明器具的如何保證LED 工作結(jié)溫提供了目標(biāo)限位,同時也使LED 及其模塊的光、色、電參數(shù)的測量參數(shù)更接近于實際的應(yīng)用條件。

一、序言

對于一個新興的產(chǎn)品,其產(chǎn)品自身的發(fā)展總是先于產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和檢測方法。雖然產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)和檢測方法不可能先于產(chǎn)品的研發(fā),但是,產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)和檢測方法應(yīng)盡可能地緊跟產(chǎn)品設(shè)計開發(fā)的進(jìn)度,因為產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)和檢測方法的制定過程本身就是對產(chǎn)品研發(fā)過程的回顧研討和小結(jié),只要條件基本成熟,產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和檢測方法的制訂越及時,就越能減少產(chǎn)品研發(fā)過程的盲目性。LED照明產(chǎn)業(yè)發(fā)展到現(xiàn)在,我們對LED照明產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和檢測方法的回顧、小結(jié)的時候已經(jīng)基本到來。

二、LED模塊的光電參數(shù)和檢測方法的現(xiàn)狀和改進(jìn)方法

1、傳統(tǒng)的LED模塊的檢測方法

目前傳統(tǒng)的LED模塊的檢測方法主要有兩種,第一種是采用脈沖測量的方法,它是把照明LED模塊固定在測量裝置上(例如積分球的測量位置等),采用脈沖恒流電源與瞬時測量光譜儀的同步聯(lián)動,即對LED發(fā)出數(shù)十毫秒~數(shù)佰毫秒恒流的脈沖電流的同時,同步打開瞬時測量光譜儀器的快門,對LED發(fā)出的光參數(shù)(光通量、光色參數(shù)等)進(jìn)行快速檢測,同時,也同步采集LED的正向壓降和功率等參數(shù)。

第二種檢測方法是把LED模塊安裝在檢測裝置上后,可能帶上一固定的散熱器(也可能具有基座控溫功能),給LED施加其聲稱的工作電流,受傳統(tǒng)的照明光源檢測方法的影響,也是等到LED達(dá)到熱平衡后再開始測量它的光電參數(shù)。這種方法看似比較嚴(yán)密,但實際上,它的熱平衡條件和工作條件與此類LED裝入最終的照明器具中的狀態(tài)仍沒有好的關(guān)聯(lián)性,因此所測的光電參數(shù)與今后實際的應(yīng)用狀態(tài)的參數(shù)仍不具有可參比性。

2、LED模塊測量方法的改進(jìn)

眾所周知,LED的光、電參數(shù)特性與它的工作時的結(jié)溫密切相關(guān),同一個LED產(chǎn)品,結(jié)溫的不會造成這些參數(shù)的明顯不同,這也造成了同一個LED光、色、電參數(shù)測量結(jié)果的明顯不一致性,所以測量LED的光電參數(shù)首先應(yīng)考慮在設(shè)定的工作結(jié)溫的條件下來進(jìn)行。例如,目前我們大量采用的LED封裝方法和技術(shù),在LED的發(fā)光面前,都具有高分子硅膠加熒光粉的覆蓋層。

(1)目前LED的結(jié)溫測量方法大概有

1)、通過測量管腳溫度和芯片耗散功率和熱阻系數(shù)求得結(jié)溫。但是因為耗散功率和熱阻系數(shù)的不準(zhǔn)確,所以測量精度比較低。

2)、紅外熱成像法,利用紅外非接觸溫度儀直接測量LED芯片的溫度,但要求被測器件處于未封裝的狀態(tài),另外對LED封裝材料折射率有特殊要求,否則無法準(zhǔn)確測量,測量精度比較低。

3)、利用發(fā)光光譜峰位移測定結(jié)溫,也是一種非接觸的測量方法,直接從發(fā)光光譜確定禁帶寬度移動技術(shù)來測量結(jié)溫,這一方法對光譜測試儀器分辨精度要求較高,發(fā)光峰位的精度測定難度較大,而光譜峰位移1納米的誤差變化就對應(yīng)著測量結(jié)溫約30度的變化,所以測量精度和重復(fù)性都比較低。

4)、向列型液晶熱成像技術(shù),對儀器分辨率要求高,只能測量未封裝的單個裸芯片,不能測量封裝后的LED。

5)、利用二極管PN結(jié)電壓與結(jié)溫的Vf-TJ關(guān)系曲線,來測量LED的結(jié)溫。

從上述介紹的各種LED結(jié)溫的測量方法可看出,采用監(jiān)視二極管PN結(jié)電壓的變化來推算結(jié)溫的方法最具有可行性并且測量精度也最高,所以在很多集成IC電路中,為了檢測IC芯片的工作結(jié)溫,往往會刻出或值入1個或幾個二極管,通過測量其正向電壓降的變化來達(dá)到測量芯片結(jié)溫的目的。

(2)目前國際上較先進(jìn)的Vf—TJ測量方法

目前國際上先進(jìn)的Vf—TJ測量方法是把被測的LED連上引出線放入在硅油缸內(nèi),隨后加熱硅油缸使硅油的溫度達(dá)到140℃左右,隨后讓缸內(nèi)硅油自然冷卻,只要冷卻時硅油溫度下降的速度足夠慢,就可以認(rèn)為LED的結(jié)溫與LED的熱沉的溫度是基本一致的,在此過程中,根據(jù)所測的硅油溫度,每下降2℃~10℃時瞬時給LED輸入規(guī)定的電流脈沖,并測量其在這一溫度下的正向電壓降,把這一測量點的溫度和正向電壓降導(dǎo)入到電腦軟件的數(shù)據(jù)庫,從140℃左右開始,隨溫度的下降,每下降一個設(shè)定的等分溫度測量一次熱沉溫度和正向電壓降,一直測量到25℃左右,當(dāng)完成這一組測量數(shù)據(jù)并導(dǎo)入到電腦軟件的數(shù)據(jù)庫后,由軟件產(chǎn)生一個Vf—TJ曲線。這一方法屬于在溫度下降時測量方法,對于測量來說是可行的。

(3)新的Vf—TJ檢測方法

本機(jī)構(gòu)發(fā)明的檢測方法是采用溫度上升時的測量方法,采用電腦設(shè)定的PID(積分、微分加上加熱與不加熱時間比例控制)方法來加熱和控制硅油缸的溫度,即在硅油缸加熱的起始段,加熱時間與不加熱時間的比例是很小的,并且可調(diào),使硅油缸溫度上升速率能保證LED結(jié)溫、熱沉與硅油溫度的一致性,隨著硅油溫度的逐步上升,與室溫的溫差也隨之加大,此時PID加熱和控溫系統(tǒng)會自動加大加熱時間與不加熱時間的比例。

在每次升溫階段后,具有一個衡溫控制階段,即升溫階段和衡溫階段形成了階梯式控溫曲線。本測量裝置因為硅油溫度上升的速率幾乎一致,并且實行階梯式升溫和控溫,從而能保證在合理的溫度上升速率的條件下得到準(zhǔn)確的檢測結(jié)果,并且檢測時間(從25℃到140℃約為2.5個小時左右)能明顯低于目前國際上已有的檢測裝置的測量時間。

(4)照明LED結(jié)溫測量及利用Vf—TJ關(guān)系曲線指導(dǎo)光、色、電參數(shù)的測量

得到被測LED的Vf—TJ的曲線后,最重要的是用于定結(jié)溫條件下的光、色、電參數(shù)測量。檢測系統(tǒng)見圖1。把被測LED固定到帶控溫/恒溫基座的積分球內(nèi),給LED通以工作電流,給LED燃點15~20分鐘基本達(dá)到穩(wěn)定后,快速切換到測量電流(即前面標(biāo)定Vf—TJ曲線的測量電流)用數(shù)毫秒時間快速測定被測LED的正向電壓Vf,通過與Vf—TJ曲線中設(shè)定結(jié)溫值對應(yīng)的Vf比較。當(dāng)被測LED在通過工作電流的情況下,其結(jié)溫達(dá)到目標(biāo)值(即達(dá)到目標(biāo)結(jié)溫值對應(yīng)的Vf值)且熱平衡后,系統(tǒng)將自動啟動光譜儀測量光、色參數(shù)同時讀取其電參數(shù)。

三、LED進(jìn)入照明器具后結(jié)溫的測量

1、LED進(jìn)入照明器具后結(jié)溫控制和測量的必要性

LED應(yīng)用到照明器具中時,人們普遍希望具有幾萬小時的使用壽命,但是要測量采用LED的照明器具的光衰減和壽命,按照美國DOE的LM80要求往往要化300天以上的時間(6000h),這在很多工程招標(biāo)和驗收時是無法實施的。

結(jié)溫作為衡量一個LED照明器具性能優(yōu)劣的重要參數(shù),是LED照明器具在工程應(yīng)用中可靠性測量的核心要素。如果能準(zhǔn)確測量出燈具內(nèi)LED的PN結(jié)結(jié)溫和PN結(jié)到散熱器某一指定點的熱阻這兩個定量的指標(biāo),就不僅能衡量采用LED的照明器具散熱特性的優(yōu)劣,還能定性地知道各種采用LED的同類照明器具的大致使用壽命。

2、測量方法介紹

目前國內(nèi)外對LED的PN結(jié)的結(jié)溫,只能進(jìn)行單個LED或者單個LED摸塊的結(jié)溫和熱阻的測量,還沒有完整的對照明器具內(nèi)LED實際工作結(jié)溫和熱阻的測量方法,下面介紹一種完整的對照明器具內(nèi)LED實際工作結(jié)溫和熱阻的測量方法。

1)、Vf-TJ曲線標(biāo)定

(1)將照明器具內(nèi)LED矩陣中間的某一串聯(lián)LED組中處于或者接近中間部位的一顆LED作為被測LED,按圖2電路連接,在這一顆LED的熱沉(LED自身所帶的小散熱器)上粘上一個熱電偶。通電測量時間為0.005S~2S,在此期間連續(xù)測量被測LED的正向電壓降Vf可得出如圖3所示曲線。從該曲線上可得出該照明器具內(nèi)被測LED在通過某一恒定的測量電流時,在單位的測量時間Δt內(nèi)Vf下降的數(shù)值ΔVf。

圖2LED的燈具中LED矩陣某一串LED組的測量電路連接圖

圖3在單位的測量時間內(nèi)通過測量電流時,被測LED的Vf下降的數(shù)值ΔVf和測量時間Δt的關(guān)系曲

(2)把三個2刀2擲轉(zhuǎn)換繼電器調(diào)到測量位置,把LED燈具放入一個可編程控制的專用加熱箱內(nèi),該加熱箱采用PID編程方式,設(shè)定階梯式加溫方式對箱體內(nèi)LED燈具進(jìn)行加熱。階梯式加溫的控溫曲線見圖4。圖4中每一階梯分為恒溫時間段和升溫時間段,這兩個時間段可分別設(shè)定,設(shè)定范圍為1分鐘~30分鐘中的任一值。根據(jù)LED的熱沉上粘上的熱電偶反映的溫度值,并且最終是以圖2電路測量被測LED的正向電壓降穩(wěn)定時,說明燈具內(nèi)LED已達(dá)到某一設(shè)定點溫度的熱平衡。

圖4加熱箱階梯式加溫的控溫曲線

2)、照明器具中LED熱阻的測量

把上述在加熱箱內(nèi)已完成Vf-TJ關(guān)系曲線標(biāo)定的照明器具取出冷卻后,按如下步驟進(jìn)行LED熱阻的測量。

(1)把該照明器具放入到GB7000.1標(biāo)準(zhǔn)附錄D規(guī)定的防風(fēng)罩內(nèi),按正常的熱試驗位置布置好燈具,除了原來已經(jīng)粘接在被測LEDD1上的熱電隅外,還可根據(jù)檢測委托方要求,在燈具內(nèi)LED的散熱器的某些指定點甚至燈具外殼上某些點上粘接熱電隅,(可以是單個或多個熱電隅)。把每一熱電隅連接到測溫儀上,使照明器具在25℃±1℃條件下放置8小時。

(2)根據(jù)照明器具內(nèi)LED控制裝置輸出給D1的實測工作電流值,設(shè)定測試恒流電源,按圖2電路給D1通上一個實測工作電流,加熱1分鐘~30分鐘,其間每隔1分鐘用原來標(biāo)定的測量電流對D1進(jìn)行一次Vf的測量,并按Vf-TJ曲線查出對應(yīng)的結(jié)溫值,同時監(jiān)視熱電隅的測量溫度,把測量的結(jié)溫值和監(jiān)視熱電隅的測量溫度值自動導(dǎo)入數(shù)據(jù)庫。把VfR值通過Vf-TJ曲線,得到該D1即時的結(jié)溫值TfR。按熱阻RAB=(TfR-TB)/P公式計算出D1的PN結(jié)到熱沉或散熱器甚至外殼的熱阻值。

3)、照明器具中LED結(jié)溫的測量

把LED照明器具從專用加熱箱內(nèi)取出,本條試驗可以和照明器具的熱試驗同時進(jìn)行。把采用LED的照明器具仍放在GB7000.1標(biāo)準(zhǔn)的附錄D規(guī)定的防風(fēng)罩內(nèi),照明器具處于正常工作位置。計算出被測LED在斷開工作電流瞬間的正向電壓降,并根據(jù)上述正向電壓降與結(jié)溫的關(guān)系曲線查出LED照明器具中被測LED在連續(xù)工作至熱平衡時的結(jié)溫值,同時,也可以得到燈具連續(xù)工作至熱平衡時熱沉上參考點的溫度值。

四、回顧和總結(jié)

對LED結(jié)溫的測量和控制,是LED進(jìn)入照明領(lǐng)域不可缺少的重要步驟,它使LED器件與LED照明器具前后工序有機(jī)地結(jié)合起來。通過對某一型號LED的Vf—TJ曲線標(biāo)定,并利用這一曲線能指導(dǎo)并控制LED在預(yù)定的結(jié)溫下測量光、色、電參數(shù),使LED這些參數(shù)的測量值更接近于實際應(yīng)用狀態(tài)的參數(shù),進(jìn)一步得知LED的PN結(jié)到照明器具上某一點的熱阻,從而指導(dǎo)LED照明器具的生產(chǎn)企業(yè)能正確地標(biāo)明參考點溫度的限值,并能在批量生產(chǎn)中,方便地通過測量參考點的溫度而基本得知LED的工作結(jié)溫。

LED照明燈具在正常工作時,其散熱特性的好壞直接關(guān)系到光效,光衰和使用壽命,對應(yīng)的指標(biāo)是LED工作時的PN結(jié)結(jié)溫及散熱的熱阻,如果這兩個指標(biāo)做好了,就說明該燈具在效率和使用壽命方面是有保證的,就如對人體的檢查,如果驗血的指標(biāo)、彩色CT的檢查及血液造影結(jié)果都是好的話,這個人身體一定是健康的。本檢驗方法的意義就在于,建立了LED照明燈具“驗血和彩色CT的檢查及血液造影儀”及其方法。可以預(yù)見,這一方法的確立將是指導(dǎo)LED照明器具改進(jìn)設(shè)計、制造環(huán)節(jié),使LED照明器具設(shè)計和生產(chǎn)技術(shù)走向更高層次的有力推手。

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