隨著移動(dòng)通信設(shè)備的復(fù)雜性與功能性以指數(shù)方式(由摩爾定律得出)的增長(zhǎng)，測(cè)試它們的成本也在增加。工程師們面臨的挑戰(zhàn)是：需要尋找一種方法，最大程度的降低測(cè)試成本，但是有一種方法就是可以用更少的資源來(lái)完成更多的測(cè)試。

幸運(yùn)的是，摩爾定律對(duì)我們也是有利的——當(dāng)小配件變得更為復(fù)雜時(shí)，測(cè)試設(shè)備同時(shí)也變得更為智能。例如， PXI平臺(tái)，通過(guò)軟件定義的方法進(jìn)行測(cè)試，它所提供的下一代設(shè)備更加靈活、功能強(qiáng)大、性能更好，并且其尺寸更小、成本更低。利用軟件定義的儀器，測(cè)試工程師可以將PC領(lǐng)域的先進(jìn)技術(shù)(如具有多核心的更快的處理器)轉(zhuǎn)化為測(cè)試性能的切實(shí)改善。

通過(guò)NI TestStand內(nèi)置的并行測(cè)試性能，您可以并行測(cè)試多個(gè)設(shè)備并且可以輕易地提高測(cè)試系統(tǒng)的整體性能。在每個(gè)測(cè)試系統(tǒng)上同時(shí)有效地測(cè)試多個(gè)設(shè)備可以降低您所需要測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)量。這不僅可以減少測(cè)試設(shè)備的前期資本投入，并且減少空間占用和功耗要求。

案例：測(cè)試智能手機(jī)

假定您正在測(cè)試智能手機(jī)并且要在一部手機(jī)上運(yùn)行三個(gè)不同的測(cè)試：(1)功耗測(cè)試，使用一個(gè)可編程的電源測(cè)量單元(SMU);(2)GSM測(cè)試，使用一個(gè)RF矢量信號(hào)發(fā)生器(VSG);(3)音頻質(zhì)量測(cè)試，使用動(dòng)態(tài)信號(hào)分析儀(DSA)。假定這些測(cè)試都是用一個(gè)單位時(shí)間來(lái)執(zhí)行。

圖1.此NI PXIe-1075系統(tǒng)所展示的幾位PXI自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的典型范例，具有VSG、SMU、DSA以及所需的開(kāi)關(guān)模塊。

在一個(gè)典型的測(cè)試系統(tǒng)上，每次測(cè)試一部手機(jī)，順序進(jìn)行，您可以在每三個(gè)單位時(shí)間內(nèi)測(cè)試一部手機(jī)。測(cè)試三部手機(jī)將需要9(3 x 3 = 9)個(gè)單位時(shí)間。

如圖2所示的順序測(cè)試的例子，每個(gè)測(cè)試儀器，9個(gè)單位時(shí)間中的有6個(gè)是閑置的。也就是每個(gè)儀器有66%的停機(jī)時(shí)間。試想一下，如果使用這個(gè)停機(jī)時(shí)間開(kāi)始測(cè)試下一個(gè)手機(jī)，那么您的測(cè)試系統(tǒng)將會(huì)多么有效率。這正是使用并行測(cè)試的原因。

圖2. 測(cè)試三部手機(jī)需要9個(gè)單位時(shí)間，而使用自動(dòng)排序測(cè)試3部手機(jī)僅需要三個(gè)單位時(shí)間，優(yōu)化了儀器使用

并行測(cè)試：提高儀器使用率

有一個(gè)簡(jiǎn)單的方法來(lái)提高儀器使用率，并且更有效率的測(cè)試設(shè)備，即：使用同一套儀器并行地測(cè)試多種設(shè)備(也就是同時(shí)工作)。NI自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)提供了所有您所需要的工具，包括硬件和軟件。

從硬件角度來(lái)看，一個(gè)開(kāi)關(guān)模塊可以幫助連接您的測(cè)試儀器，例如DSA和SMU，連接到多個(gè)DUT，并且以編程的方式在連接間切換。例如，您可以控制哪個(gè)智能手機(jī)在任何指定的時(shí)間與DSA連接。NI提供了具有多種拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的各種基于PXI平臺(tái)的開(kāi)關(guān)模塊(包括RF開(kāi)關(guān))來(lái)滿(mǎn)足任何應(yīng)用需求。

從軟件的角度來(lái)看，NI TestStand是一個(gè)現(xiàn)成的測(cè)試管理軟件，為并行測(cè)試提供了內(nèi)置的過(guò)程模型(執(zhí)行配置)，可以輕松地并行測(cè)試多個(gè)設(shè)備，而對(duì)于現(xiàn)有的測(cè)試代碼只需做微小的變化。NI TestStand是線(xiàn)程安全的，并且具有標(biāo)準(zhǔn)的同步機(jī)制，例如，鎖、信號(hào)量等等。此外，NI TestStand 集成了NI Switch Executive ，您可以用圖形化的方式配置開(kāi)關(guān)路由。

現(xiàn)在可以改進(jìn)之前的例子，使您的測(cè)試架構(gòu)能夠同時(shí)容納三個(gè)智能手機(jī)。通過(guò)添加開(kāi)關(guān)模塊到您的測(cè)試系統(tǒng)中，并且開(kāi)啟NI TestStand并行測(cè)試模式，現(xiàn)在您可以并行測(cè)試這三個(gè)手機(jī)(如圖2所示的并行測(cè)試?yán)?。

現(xiàn)在，您在5個(gè)單位時(shí)間內(nèi)測(cè)試3部手機(jī)，減少了44%的測(cè)試時(shí)間。此外，每個(gè)儀器僅空閑了兩個(gè)單位時(shí)間，這意味著儀器的停機(jī)時(shí)間由66%降至40%。這種瀑布式或流水線(xiàn)式效果是由于每個(gè)儀器僅能夠在同一時(shí)間內(nèi)測(cè)試一部智能手機(jī)，并且測(cè)試在一個(gè)特定的序列運(yùn)行時(shí)是靜態(tài)配置的(GSM測(cè)試后是功率測(cè)試，然后是音頻測(cè)試)。

自動(dòng)排序并行測(cè)試：智能測(cè)試序列

您可以通過(guò)利用autoscheduling功能進(jìn)一步優(yōu)化您的測(cè)試系統(tǒng)，這是NI TestStand 的一個(gè)功能,可以在執(zhí)行期間自動(dòng)排序測(cè)試序列，其前提是那個(gè)儀器是空閑的。開(kāi)發(fā)者可以指定具體有哪些測(cè)試可以被自動(dòng)重新排序，這樣操作者依然能夠控制某個(gè)測(cè)試或動(dòng)作以特定的順序執(zhí)行(這對(duì)于設(shè)置和取消設(shè)置過(guò)程是很重要的)。

由于NI TestStand 能夠智能地排列測(cè)試，因此您可以避免前面看到的流水線(xiàn)式效果?，F(xiàn)在，您可以?xún)H用三個(gè)單位時(shí)間即可測(cè)試三部手機(jī)，而在之前，測(cè)試一部手機(jī)就要使用這么多的時(shí)間。您可以有效地減少了66%的測(cè)試時(shí)間，并且將儀器停機(jī)時(shí)間降到0，可以更加充分的利用儀器。

總而言之，NI的軟件定義的自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，利用其先進(jìn)的并行測(cè)試性能，讓您可以使用一組儀器(也就是，一個(gè)測(cè)試站)來(lái)并行測(cè)試多個(gè)設(shè)備。這也意味著您可以使用更少的測(cè)試站測(cè)試相同數(shù)量的手機(jī)，從而大大減少了測(cè)試設(shè)備的成本，而無(wú)需犧牲測(cè)試吞吐量。