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[導(dǎo)讀] 電源設(shè)計人員的需求正變得越來越高,他們面臨著巨大的壓力,需要改善效率,降低成本,縮短產(chǎn)品開發(fā)周期。電源設(shè)計是一項復(fù)雜的工作,這一過程有許多校驗點。在電源設(shè)計系列專題中,我們將向您介紹10個

電源設(shè)計人員的需求正變得越來越高,他們面臨著巨大的壓力,需要改善效率,降低成本,縮短產(chǎn)品開發(fā)周期。電源設(shè)計是一項復(fù)雜的工作,這一過程有許多校驗點。在電源設(shè)計系列專題中,我們將向您介紹10個設(shè)計階段中每個設(shè)計階段的測試要求,并給出小貼士,讓您的測試更高效,讓您的生活更輕松。

在這個階段中,我們將介紹在無負(fù)載、標(biāo)稱負(fù)載和全負(fù)載條件下測試開關(guān)特點的各個步驟。

在開始前,應(yīng)確保所有開關(guān)的啟動、關(guān)閉、占空比和死區(qū)時間都符合預(yù)期,如MOSFETs和IGBTs。泰克示波器包括一種高分辨率模式,從根本上提高了垂直分辨率,因此可以使用最高精度計算啟動和關(guān)閉時間。

盡管電源的幾乎所有組件都會發(fā)生能量損耗,但絕大部分損耗發(fā)生在開關(guān)晶體管從關(guān)閉狀態(tài)轉(zhuǎn)換到打開狀態(tài)(或反之)的時候。使用所有開關(guān)周期的啟動損耗和關(guān)閉損耗的軌道圖(在DPOPWR軟件中提供),可以更加全面地了解開關(guān)損耗,如下圖所示。


開關(guān)/關(guān)閉軌道圖。

這時,要檢查所有VGS信號的噪聲和碰撞。這是一個重要步驟,因為這個端子上任何非預(yù)計的毛刺都可能會導(dǎo)致不想要的啟動和擊穿。為保證不可能出現(xiàn)擊穿,應(yīng)檢查同步整流器或H橋接器的死區(qū)時間。

然后,檢驗門驅(qū)動器和相關(guān)儀器之間的定時關(guān)系,確保其與設(shè)計的計算結(jié)果相符。

為安全地測量非參考地電平的信號,我們建議使用相應(yīng)額定電壓的差分探頭。一定不要浮動示波器,因為其會導(dǎo)致不好的結(jié)果。您可以考慮TDP1000、TDP0500或P6251高壓差分探頭,具體視應(yīng)用而定。每種探頭都實現(xiàn)了高速寬帶采集和測量功能,提供了杰出的電氣性能、通用被測器件連接,而且都使用方便。

毫無疑問,很難測量浮動門信號。我們建議在門驅(qū)動器輸入上探測信號,這樣您可以檢驗頂部FET與底部FET之間的死區(qū)時間。

在最低電壓轉(zhuǎn)換速率上測量電流也可以幫助您最大限度地減少串?dāng)_,改善精度。


小貼士

1.使用擁有相應(yīng)額定電壓的差分探頭,安全地測量非參考地電平的信號。不要浮動示波器,這樣很危險。

2.如果很難測量浮動?xùn)艠O信號,可以探測柵極驅(qū)動器的輸入,檢驗頂部FET和底部FET的空轉(zhuǎn)時間。

3.測量最小電壓轉(zhuǎn)換速率點上的電流,使串?dāng)_達到最小。


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