影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素，主要有基質(zhì)金屬磁特性、基本金屬的厚度、賤金屬電氣性能、邊緣效應(yīng)、曲率、變形的試樣、表層粗糙度等等。接下來我們就來具體的介紹影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素。

影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素：

1、基質(zhì)金屬磁特性

磁法厚度受基體金屬磁性變化(實(shí)際上,低碳鋼磁可以被認(rèn)為是一個(gè)細(xì)微的變化,為了避免影響熱處理、冷加工的因素,應(yīng)使用金屬試樣基體具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)的涂層厚度量測(cè)儀校準(zhǔn);也可以用于涂層試件校準(zhǔn)。

2、基本金屬的厚度

每一種儀器有一個(gè)臨界厚度的賤金屬。大于厚度量測(cè)不受厚度的賤金屬。

3、賤金屬電氣性能

對(duì)涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度有影響的導(dǎo)電性基體金屬和賤金屬的電導(dǎo)率有關(guān),其材料組成和熱處理。使用金屬試樣基體具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)儀器校準(zhǔn)。

4、邊緣效應(yīng),

涂層測(cè)厚儀靈敏度來突然改變的標(biāo)本的表層形狀。所以靠近試樣在邊緣或角落措施是不可靠的。

5、曲率

標(biāo)本的曲率量測(cè)。這種影響是總是隨著曲率半徑減小顯著增加。結(jié)果,彎曲試樣表層的量測(cè)是不可靠的。

6、變形的試樣

量測(cè)頭可以使軟涂層試樣變形,因此可靠的量測(cè)數(shù)據(jù)在標(biāo)本。

7、表層粗糙度

基質(zhì)金屬和表層粗糙度量測(cè)的涂層。粗糙度增加,效果增加。粗糙表層會(huì)引起系統(tǒng)誤差和隨機(jī)誤差,每次量測(cè),應(yīng)該增加數(shù)量的量測(cè)在不同的位置,克服隨機(jī)誤差。

如果矩陣金屬粗糙,還必須相似矩陣沒有涂層粗糙的金屬樣品需要幾個(gè)零位校準(zhǔn)的涂層測(cè)厚儀;或者沒有腐蝕到金屬基體溶液去除蓋,校對(duì)零再次。

8、磁場(chǎng)

在各種各樣的強(qiáng)磁場(chǎng)產(chǎn)生的電氣設(shè)備,會(huì)嚴(yán)重干擾磁法的厚度。

9、膠粘材料

該儀器到妨礙測(cè)頭與密切接觸表層的涂層附著力的材料,因此,必須轉(zhuǎn)移到材料,確保儀器量測(cè)頭和被直接接觸表層的測(cè)試。

10、量測(cè)頭的壓力

壓力強(qiáng)加的探針在樣品尺寸會(huì)影響量測(cè)的讀數(shù),因此,保持壓力恒定。

11、量測(cè)頭取向

有一個(gè)影響量測(cè)探頭布置方式。在量測(cè)中,應(yīng)保持垂直探針與樣品表層。

以上內(nèi)容介紹的是影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素，希望對(duì)大家的使用有幫助。

影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素，主要有基質(zhì)金屬磁特性、基本金屬的厚度、賤金屬電氣性能、邊緣效應(yīng)、曲率、變形的試樣、表層粗糙度等等。接下來我們就來具體的介紹影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素。

影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素：

1、基質(zhì)金屬磁特性

磁法厚度受基體金屬磁性變化(實(shí)際上,低碳鋼磁可以被認(rèn)為是一個(gè)細(xì)微的變化,為了避免影響熱處理、冷加工的因素,應(yīng)使用金屬試樣基體具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)的涂層厚度量測(cè)儀校準(zhǔn);也可以用于涂層試件校準(zhǔn)。

2、基本金屬的厚度

每一種儀器有一個(gè)臨界厚度的賤金屬。大于厚度量測(cè)不受厚度的賤金屬。

3、賤金屬電氣性能

對(duì)涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度有影響的導(dǎo)電性基體金屬和賤金屬的電導(dǎo)率有關(guān),其材料組成和熱處理。使用金屬試樣基體具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)儀器校準(zhǔn)。

4、邊緣效應(yīng),

涂層測(cè)厚儀靈敏度來突然改變的標(biāo)本的表層形狀。所以靠近試樣在邊緣或角落措施是不可靠的。

5、曲率

標(biāo)本的曲率量測(cè)。這種影響是總是隨著曲率半徑減小顯著增加。結(jié)果,彎曲試樣表層的量測(cè)是不可靠的。

6、變形的試樣

量測(cè)頭可以使軟涂層試樣變形,因此可靠的量測(cè)數(shù)據(jù)在標(biāo)本。

7、表層粗糙度

基質(zhì)金屬和表層粗糙度量測(cè)的涂層。粗糙度增加,效果增加。粗糙表層會(huì)引起系統(tǒng)誤差和隨機(jī)誤差,每次量測(cè),應(yīng)該增加數(shù)量的量測(cè)在不同的位置,克服隨機(jī)誤差。

如果矩陣金屬粗糙,還必須相似矩陣沒有涂層粗糙的金屬樣品需要幾個(gè)零位校準(zhǔn)的涂層測(cè)厚儀;或者沒有腐蝕到金屬基體溶液去除蓋,校對(duì)零再次。

8、磁場(chǎng)

在各種各樣的強(qiáng)磁場(chǎng)產(chǎn)生的電氣設(shè)備,會(huì)嚴(yán)重干擾磁法的厚度。

9、膠粘材料

該儀器到妨礙測(cè)頭與密切接觸表層的涂層附著力的材料,因此,必須轉(zhuǎn)移到材料,確保儀器量測(cè)頭和被直接接觸表層的測(cè)試。

10、量測(cè)頭的壓力

壓力強(qiáng)加的探針在樣品尺寸會(huì)影響量測(cè)的讀數(shù),因此,保持壓力恒定。

11、量測(cè)頭取向

有一個(gè)影響量測(cè)探頭布置方式。在量測(cè)中,應(yīng)保持垂直探針與樣品表層。

以上內(nèi)容介紹的是影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素，希望對(duì)大家的使用有幫助。