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[導(dǎo)讀]   今天,包括離線電源真實(shí)輸入功率和輸入RMS電流測(cè)量在內(nèi)的能耗實(shí)時(shí)測(cè)量,正變得愈加重要。這些測(cè)量可用于調(diào)節(jié)供電和優(yōu)化能源利用。例如,安裝有許多服務(wù)器的一些數(shù)據(jù)中心對(duì)服務(wù)器層輔助功耗測(cè)量就很

  今天,包括離線電源真實(shí)輸入功率和輸入RMS電流測(cè)量在內(nèi)的能耗實(shí)時(shí)測(cè)量,正變得愈加重要。這些測(cè)量可用于調(diào)節(jié)供電和優(yōu)化能源利用。例如,安裝有許多服務(wù)器的一些數(shù)據(jù)中心對(duì)服務(wù)器層輔助功耗測(cè)量就很感興趣,因?yàn)檫@樣可以實(shí)現(xiàn)低成本數(shù)據(jù)服務(wù),并對(duì)低功耗工作期間的處理能力進(jìn)行智能的管理。輸入功率和電流的一般測(cè)量方法是使用一個(gè)專用功率計(jì)芯片和附加檢測(cè)電路。盡管功率計(jì)芯片能夠提供可接受的測(cè)量結(jié)果,但它大大增加了成本和設(shè)計(jì)工作量。

  測(cè)量裝置

  圖1顯示了由一個(gè)數(shù)字控制器進(jìn)行電源隔離控制的傳統(tǒng)PFC裝置。輸入線路和中性點(diǎn)電壓通過(guò)一個(gè)衰減網(wǎng)絡(luò)檢測(cè),之后由兩個(gè)單獨(dú)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 輸入采樣。電流信號(hào)經(jīng)由一個(gè)分流器檢測(cè),然后被信號(hào)調(diào)節(jié)電路放大和濾波。之后,連接至一個(gè)ADC進(jìn)行電流環(huán)路控制。由于輸入電壓和電流測(cè)量已經(jīng)具備,因此可用它們來(lái)測(cè)量輸入功率和RMS電流。一樣的傳統(tǒng)PFC裝置用于這些測(cè)量,無(wú)需傳統(tǒng)專用功率計(jì)芯片和附加檢測(cè)電路。

  圖1 輸入功率和電流測(cè)量PFC裝置

  電流測(cè)量與校準(zhǔn)

  電流檢測(cè)信號(hào)調(diào)節(jié)電路(圖1)一般由一個(gè)運(yùn)算放大器和一個(gè)低通濾波器組成,目的是放大小檢測(cè)信號(hào)和去除高頻噪聲。之后,通過(guò)一個(gè)ADC測(cè)量該信號(hào),并以ADC計(jì)數(shù)報(bào)告。為了獲得真實(shí)的電流值,需把ADC計(jì)數(shù)轉(zhuǎn)換為以安培為單位的電流。ADC計(jì)數(shù)與安培的關(guān)系可由原理圖推導(dǎo)得出;但是,組件容差可能會(huì)使測(cè)量精確度變得不可接受。因此,需要進(jìn)行一次校準(zhǔn)。

  電路如圖1所示,在任何時(shí)候,分流器的輸入電流(單位毫安培)均為:

  計(jì)算得到的ki和mi為小數(shù),小于1,而PFC應(yīng)用的大多數(shù)數(shù)字控制器均使用定點(diǎn)數(shù)學(xué)計(jì)算。為了降低計(jì)算的化整誤差和保持足夠高的精確度,把這些小數(shù)值乘以2N,然后四舍五入為最為接近的整數(shù)。例如,如果PFC電路的電流檢測(cè)增益和偏移量計(jì)算得到為ki= 1.59和mi= 229.04,則ki乘以28,然后四舍五入為407;mi乘以20.電流斜率和偏移量分別為:

  其中,iin_slope = 407,iin_slope_shift = 8,iin_offset = 229,而iin_offset_shift = 0.

  計(jì)算得到輸入功率和RMS電流以后,如果ki和mi為倍數(shù),則不要直接使用它們,你可以先使用iin_slope和iin_offset來(lái)做乘法運(yùn)算。然后,使用iin_slope_shift和iin_offset_shift來(lái)轉(zhuǎn)換結(jié)果。例如,不要使用y = ki× x + mi× z進(jìn)行計(jì)算,而要使用下面的計(jì)算方法:

  

  電壓檢測(cè)電路十分簡(jiǎn)單,它可以只是一個(gè)分壓器,如圖2所示。一般,會(huì)有一些箝制二極管來(lái)保護(hù)ADC引腳。由于二極管的反向漏電流影響ADC的測(cè)量精確度,因此應(yīng)選擇使用低反向漏電流的二極管。

   圖2 AC輸入電壓檢測(cè)電路

  任何時(shí)候,輸入電壓均為:

  其中,kv為電壓檢測(cè)增益,Cv為ADC轉(zhuǎn)換輸出(計(jì)數(shù)),而mv則為電壓檢測(cè)偏移量。Kv和mv的校準(zhǔn)方法類似,都是對(duì)電流檢測(cè)增益和偏移量進(jìn)行校準(zhǔn)。但是,一種更加簡(jiǎn)單的方法是只需根據(jù)原理圖進(jìn)行計(jì)算。由于沒(méi)有了校準(zhǔn),因此分壓器使用的電阻會(huì)影響測(cè)量精確度。我們推薦把低容差電阻器用作分壓器,例如:0.1%容差。

  一個(gè)12位ADC和2.5V基準(zhǔn)電壓的數(shù)字控制器,輸入電壓被分壓器衰減至2.5V以下。這樣,經(jīng)過(guò)衰減的信號(hào)被ADC轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)。因此:

  與輸入電流測(cè)量類似,需要對(duì)電壓檢測(cè)增益和偏移量進(jìn)行一些操作,以使其適應(yīng)定點(diǎn)微處理器,并降低計(jì)算誤差。

  VIN和IIN相互關(guān)系

  真實(shí)輸入功率定義為:

  

  其中,N為總采樣數(shù)。方程式13表明,需同時(shí)對(duì)VIN和IIN采樣。但是,VIN和IIN卻是由兩個(gè)不同的ADC通道在不同時(shí)間采樣。即使是很小的時(shí)間差,也會(huì)引起測(cè)量誤差。在一些數(shù)字控制器中,例如:TI UCD3138等,具有一種被稱作“雙采樣保持”的機(jī)制,其允許兩種通道同時(shí)采樣,從而消除了這種誤差。

  由于電流檢測(cè)電路中使用了低通濾波器,受測(cè)電流信號(hào)出現(xiàn)延遲,并且實(shí)際電流存在相移。圖3顯示了這種情況,圖中,通道2為實(shí)際電流信號(hào),通道1為經(jīng)過(guò)放大的相同信號(hào),其隨后經(jīng)低通濾波器輸出。該放大信號(hào)有約220 μs的相位延遲。需要對(duì)這種延遲進(jìn)行補(bǔ)償,否則它會(huì)影響輸入功率測(cè)量的精確度。一種簡(jiǎn)單的補(bǔ)償方法是,讓VIN-sense信號(hào)延遲約220μs,然后使用該經(jīng)過(guò)延遲的VIN信號(hào)來(lái)進(jìn)行輸入功率計(jì)算。所以,如果每隔20μs測(cè)量一次VIN,則需要對(duì)其延遲220/20 =11次。

  圖3 電流檢測(cè)相移

  真實(shí)輸入功率計(jì)算

  組合方程式1、7和13,得到:

  輸入RMS電流計(jì)算

  圖1所示數(shù)字控制器所進(jìn)行的電流測(cè)量并不代表總輸入電流,因?yàn)殡姶鸥蓴_(EMI)濾波器中電容的作用未包括在內(nèi)。在高線壓和輕負(fù)載條件下,這種濾波器電流不再可以忽略不計(jì),必須將其包括進(jìn)來(lái),以實(shí)現(xiàn)精確的輸入電流報(bào)告。

  圖4顯示了一種簡(jiǎn)化版的EMI濾波器,我們?nèi)コ穗姼衅?,并使用一個(gè)單電容器(C)來(lái)代替總電容。圖中,IEMI為EMI電容器的RMS電抗性電流,IMeasure為數(shù)字控制器測(cè)量的輸入RMS電流,而IIN則為總輸入RMS電流。

   圖4 簡(jiǎn)化版EMI濾波器的電流

  EMI濾波器產(chǎn)生的電抗性電流為:

  使用離散格式,它可以寫(xiě)為:

  測(cè)試結(jié)果

  這種輸入功率和RMS電流測(cè)量方法在一個(gè)360W的PFC評(píng)估模塊上進(jìn)行了測(cè)試。結(jié)果(表1)表明,這種方法擁有優(yōu)異的測(cè)量精確度。

   表1 輸入功率和RMS電流測(cè)量的測(cè)試結(jié)果

  結(jié)論

  特點(diǎn):

  極低的成本

  簡(jiǎn)單的兩點(diǎn)校準(zhǔn)

  使用雙采樣保持,VIN和IIN同時(shí)采樣

  固件EMI電流補(bǔ)償

  固件電流檢測(cè),相移補(bǔ)償

  優(yōu)化的數(shù)學(xué)計(jì)算,CPU使用開(kāi)銷較少

  本文介紹的這種新穎、低成本且精確的輸入功率和RMS電流測(cè)量解決方案,使用現(xiàn)有的數(shù)字功率因數(shù)校正(PFC)控制芯片和硬件,以及簡(jiǎn)單的兩點(diǎn)校準(zhǔn)和優(yōu)化數(shù)學(xué)計(jì)算。這樣便可提供優(yōu)異的測(cè)量精確度,并極大降低成本和減少工作量,同時(shí)不影響正常的PFC控制。

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