元器件操控器將單個HBLED（或者一組HBLED）運送到一個測試夾具上，夾具可以屏蔽環(huán)境光，且內帶一個用于光測量的光電探測器（PD）[1]。需要使用兩個SMU：SMU#1向HBLED提供測試信號，并測量其電響應；SMU#2則在光學測量過程中檢測光電探測器。

測試程序可以被編程設定為，在一根來自于元器件操控器的數(shù)字信號線[作為“測試啟動”（SOT）[2]]控制下啟動。當儀器探測到該信號時，測試程序啟動。一旦執(zhí)行完畢，則讓元器件操縱器的一條數(shù)字信號線發(fā)出“測試完畢”的標志。此外，儀器的內建智能可以執(zhí)行所有的通過/不通過操縱并通過儀器的數(shù)字I/O端口發(fā)送數(shù)字指令至元器件操縱器，以便讓HBLED能根據通過/不通過標準來對HBLED進行分類。于是可以通過編程讓兩個動作同時執(zhí)行：數(shù)據傳送至PC進行統(tǒng)計處理，而同時一個新的DUT[3]運送到測試夾具上。
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