LTE到SA不能重選的案例分析
LTE小區(qū):頻點(diǎn)為100,PCI為261,RSRP = -81.75 dBm,小區(qū)頻點(diǎn)優(yōu)先級(jí)配置為5。
SA小區(qū):頻點(diǎn)為629952,小區(qū)頻點(diǎn)優(yōu)先級(jí)配置為7,低優(yōu)先級(jí)到高優(yōu)先級(jí)重選門限為-114 dBm。
告警檢查
查看4G/5G小區(qū)均無告警。
參數(shù)核查
查看SIB3消息,LTE本小區(qū)重選優(yōu)先級(jí)為5,最小接入電平為-122 dBm。
查看SIB24消息,SA小區(qū)重選優(yōu)先級(jí)為7,Thresh X-High為4。
經(jīng)過確認(rèn)參數(shù)設(shè)置無異常。
SA信號(hào)檢查
UE鎖定SA模式,在同一地點(diǎn)開啟飛行模式后再關(guān)閉飛行模式,UE能夠正常占用SA小區(qū),RSRP=-76 dBm,滿足LTE側(cè)配置的重選到高優(yōu)先級(jí)門限-114 dBm。
經(jīng)過以上分析,SIB24正常下發(fā),且SA基站信號(hào)正常,因此推測(cè)可能原因?yàn)椋篣E占用LTE導(dǎo)致無法檢測(cè)到NR側(cè)SSB信號(hào)。重選由UE進(jìn)行決策,懷疑UE存在問題。
GAP Pattern 0(type 1):重復(fù)測(cè)量周期為40 ms,測(cè)量周期為6 ms。
GAP Pattern 1(type 2):重復(fù)測(cè)量周期為80 ms,測(cè)量周期為6 ms。
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