在嵌入式軟件開(kāi)發(fā)中，因?yàn)榇a質(zhì)量不佳、線程沖突、棧溢出等問(wèn)題，會(huì)造成Arm的HardFault。
學(xué)STM32我們從點(diǎn)燈開(kāi)始，學(xué)Linux驅(qū)動(dòng)我們自然也要點(diǎn)個(gè)燈來(lái)玩玩，盡量在從這些基礎(chǔ)例程中榨取知識(shí)，細(xì)摳、細(xì)摳，為之后更復(fù)雜的知識(shí)打好基礎(chǔ)。
本文主要介紹了在STM32F103平臺(tái)上對(duì)人民幣顏色信息進(jìn)行識(shí)別的算法原理。
本篇主要介紹U盤(pán)模塊，必須是有USB-HOST功能的芯片才可以進(jìn)行U盤(pán)數(shù)據(jù)的讀寫(xiě)，在硬件設(shè)計(jì)時(shí)已經(jīng)提到了，本例用到的芯片屬于STM32F105系列是帶有OTG功能的，103系列的芯片只能作為從設(shè)備。
硬件設(shè)計(jì)完成，下面就要進(jìn)行軟件開(kāi)發(fā)了，本篇主要介紹串口模塊、按鍵模塊的初始化及功能測(cè)試。
上一篇主要介紹我們的原理圖初步部分，本篇我們會(huì)根據(jù)原理圖來(lái)設(shè)計(jì)PCB電路板。
這是我分享的第一個(gè)案例，基于STM32的U盤(pán)數(shù)據(jù)采集及固件升級(jí)系統(tǒng)。
點(diǎn)擊上方藍(lán)字關(guān)注我哦～ 01 前言 上篇文章中介紹了ADC自身轉(zhuǎn)換產(chǎn)生的誤差，本篇文章來(lái)介紹下外部原因?qū)е碌腁DC誤差。 02 ?ADC環(huán)境導(dǎo)致的誤差 參考電壓噪聲 由于ADC輸出為模擬信號(hào)電壓與參考電壓之比，因此模擬參考上的任何噪聲都會(huì)導(dǎo)致轉(zhuǎn)換后 數(shù)字值的變化。
點(diǎn)擊上方藍(lán)字關(guān)注我哦～ 01 前言 本篇文章列出了影響模數(shù)轉(zhuǎn)換精度的主要誤差。這些類(lèi)型的誤差存在于所有模數(shù)轉(zhuǎn)換器中，轉(zhuǎn)換質(zhì)量將取決于它們的消除情況。STM32微控制器數(shù)據(jù)手冊(cè)的ADC特性部分規(guī)定了這些誤差 值。規(guī)定了STM32 ADC的不同精度誤差類(lèi)型。為便于參
點(diǎn)擊上方藍(lán)字關(guān)注我哦～ 01 前言 在使用AS創(chuàng)建一個(gè)基礎(chǔ)的app工程時(shí)，第一步就是在各種Activity模板中選擇一個(gè)Activity，那么Activity是什么？它又有什么作用呢？ Activity是Android的四大組件之一，我們可以把Activity理解為用戶打開(kāi)一個(gè)app界面就是為一個(gè)Act
點(diǎn)擊上方藍(lán)字關(guān)注我哦～ 01 前言 在前面兩篇關(guān)于火焰檢測(cè)的文章中，最終的效果不是很好，為了提高火焰檢測(cè)的效果，又搜集了一些火焰數(shù)據(jù)，訓(xùn)練的網(wǎng)絡(luò)由之前的yolov3-tiny改為mobilev2-yolov3，最終在樹(shù)莓派上利用NCNN推算框架，比之前的效果要好很多，如圖：
點(diǎn)擊上方藍(lán)字關(guān)注我哦～ 01 前言 用了這么久ADC,從沒(méi)細(xì)看過(guò)ADC的內(nèi)部原理和如何獲得最佳精度，今天看到一篇ST的官方文檔講的不錯(cuò)，這里整理分享給大家。 02 ?SAR ADC內(nèi)部結(jié)構(gòu) STM32微控制器中內(nèi)置的ADC使用SAR（逐次逼近）原則，分多步執(zhí)行轉(zhuǎn)換。轉(zhuǎn)換步驟數(shù)等
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