安捷倫科技(中國)有限公司于近日在北京麗亭華苑酒店成功舉辦了“2012安捷倫LTE技術研討會”。

LTE技術產品的開發(fā)離不開強大的測試技術和工具的支持。作為電子測試測量領域的領導者，安捷倫科技積極面對LTE技術對電子測量測試領域的挑戰(zhàn)。依托強大的技術優(yōu)勢和深厚的測量測試開發(fā)經驗，推出強大的測試平臺和測試工具，幫助工程師快速定位、消除在LTE產品在研發(fā)、設計、生產制造等環(huán)節(jié)中的問題。

2012安捷倫LTE技術研討會現場

本次LTE技術研討會吸引了來自LTE基站至終端研發(fā)、生產各個領域的工程師及技術人員等200多人報名參加，安捷倫中國通信產品中心市場總監(jiān)Mario Narduzzi先生特意為本次大會做了熱情洋溢的開幕致辭。TD-Forum技術論壇秘書長時光先生受邀出席了本次會議，并在大會上就TD-LTE產業(yè)發(fā)展現狀和未來預測做了主題演講。來自創(chuàng)毅視訊的高級市場經理徐征也在大會上分享了新一代LTE終端芯片進展與成果。

在本次會議安捷倫介紹了涵蓋基站及終端LTE測試技術在內的12個高技術含量的專題講座，并從LTE MIMO實時信號產生與多達8端口輸入的N7109A矢量信號分析方案、LTE 移動終端認證測試系統(tǒng)及E6607系列非信令生產測試、MIPI接口物理層和協(xié)議層測量、LTE元器件測試和外場手持系列、安捷倫優(yōu)勢校準服務和現場校準系統(tǒng)等5個角度，向與會者近距離全方位展示了安捷倫針對LTE從研發(fā)到生產再到校準服務的全面解決方案。

“很高興看到安捷倫的測量解決方案能夠幫助從事LTE工作的工程師解決面臨的各種技術挑戰(zhàn)，”安捷倫中國通信產品中心市場總監(jiān)Mario Narduzzi先生說，“安捷倫多年來一直專注于中國4G標準的研究與測試產品的開發(fā)工作，為研發(fā)設計、生產制造、認證測試、外場安裝維護等方面提供各種精密高效的包括TD-SCDMA和TD-LTE在內的各種無線通信測量解決方案。”

安捷倫中國通信產品中心市場總監(jiān)Mario Narduzzi作開幕致辭

時光秘書長在安捷倫LTE技術研討會上主題演講

創(chuàng)毅視訊市場經理徐征進行主題演講

安捷倫LTE解決方案展臺