美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI) “第十五屆圖形化系統(tǒng)設(shè)計征文競賽”已于近日正式啟動。此次大賽針對所有使用NI產(chǎn)品的用戶，旨在進一步推動圖形化系統(tǒng)設(shè)計在國內(nèi)的發(fā)展和應(yīng)用，使更多的工程師們能更快更好地開發(fā)符合特定要求的測控應(yīng)用。

從2000年開始，該活動已經(jīng)成功舉辦了十四屆，得到廣大NI新老用戶的熱情支持，每年都收集到數(shù)量眾多的優(yōu)秀創(chuàng)新應(yīng)用方案，使得大賽獲獎應(yīng)用方案文集備受青睞?；顒右坏┱綀竺麉⑴c，即有獎勵。入圍決賽者更將有機會獲得豐厚的獎金、超值產(chǎn)品升級與培訓(xùn)獎勵，以及免費參加 NIDays技術(shù)盛會的機會。決賽獲獎文章還將發(fā)表在權(quán)威期刊《儀器儀表學(xué)報》增刊上 。

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有關(guān)比賽詳情，請訪問下列網(wǎng)址：http://china.ni.com/papercontest2015。