據(jù)英國廣播公司（BBC）近日報道，美國伊利諾伊大學(xué)香檳分校的科學(xué)家們表示，他們已經(jīng)研制出了一種新電路，能在崩潰時通過釋放液體金屬，恢復(fù)電路的導(dǎo)電性從而修復(fù)自身，科學(xué)家們未來可據(jù)此研制出能自我修復(fù)、因此壽命更長的電子芯片和電子設(shè)備，也有望解決星際旅行面臨的大問題。相關(guān)研究發(fā)表在《先進材料》雜志上。

科學(xué)家們解釋道，他們的構(gòu)想是：利用最初導(dǎo)致芯片破損的壓力“砸開”一個裝載有修復(fù)材料的微膠囊，讓釋放出的修復(fù)材料填充在破損導(dǎo)致的縫隙中，讓電流重新恢復(fù)工作。

為了測試這一想法，他們在玻璃上刻上了金線圖案以形成一個電路。接著，他們采用了兩種方法，一是將0.01毫米寬的微膠囊直接放在金線上；另一種則是將一塊纖細的薄片加入0.2毫米的微膠囊中，隨后將其嵌入金線中。這兩種情況下使用的微膠囊都包含有銦化鎵共晶體——這種金屬材料具有高導(dǎo)電性和低熔點。隨后，他們將這個設(shè)備夾在一層玻璃和腈綸之間并通電。隨后，科學(xué)家們彎曲電路讓其產(chǎn)生裂縫，此時，監(jiān)測電壓為零。

科學(xué)家們表示，結(jié)果表明，這種破裂的微膠囊“治愈”了大部分測試電路，在一微秒之間就能讓電壓恢復(fù)到正常值。而且，研究表明，小一點的微膠囊每次都能修復(fù)設(shè)備，但其導(dǎo)電能力比大一點的微膠囊弱（而其修復(fù)的成功率要低一些），因此，不同大小的微膠囊結(jié)合在一起，有望獲得更好的結(jié)果。科學(xué)家們接著對該設(shè)備進行了4個月的監(jiān)控，在這段時期內(nèi)，導(dǎo)電能力沒有損失。

該研究團隊表示，最新研究可能是太空工業(yè)的福音。航空航天技術(shù)專家斯科特·懷特表示：“我認為，這一技術(shù)真正的應(yīng)用領(lǐng)域是那些設(shè)備出了故障很難修復(fù)或被取代的領(lǐng)域，只比如在星際旅行中，很難換出設(shè)備。”

該研究團隊也希望采用這一過程研制出使用壽命更長的可充電電池。他們表示，目前的可充電電池系統(tǒng)在經(jīng)過多次重復(fù)使用后會出故障的原因主要是設(shè)備內(nèi)部的微小損害中斷了電流。如果解決這一問題，電動汽車用的電池有望使用十年或更長時間，使其維護成本大幅減少。

科學(xué)家們也認為，最新技術(shù)有潛力為消費者提供更穩(wěn)定的消費電子設(shè)備，從而節(jié)省資源，節(jié)約能源。懷特以手機鍵盤為例，他說，如果手機鍵盤重復(fù)使用，可能會導(dǎo)致下面的電路出現(xiàn)故障，而能自我修復(fù)的系統(tǒng)將延長手持設(shè)備的壽命，節(jié)省能源。