愛德萬測試(ADVANTEST)宣布成功開發(fā)太赫茲(Terahertz)光譜及成像分析平臺，成為已有的太赫茲波非侵入性分析設(shè)備系列中最新成員。新產(chǎn)品通過把太赫茲光源和檢測器分離成獨立模組并以光纖與主機聯(lián)接，使得被測區(qū)域可以任意靈活布置，擴大應(yīng)用范圍。
太赫茲技術(shù)是在測量和分析方面的前沿技術(shù)，在各種應(yīng)用領(lǐng)域都吸引到關(guān)注和投資。因為物質(zhì)對太赫茲波段不同頻率呈現(xiàn)不同的反射或吸收特性，非常適用于光譜分析和非侵入性成像應(yīng)用。愛德萬測試公司于2010年4月首次推出其太赫茲分析系統(tǒng)--TAS7000三維(3D)成像分析系統(tǒng)，目前在太赫茲應(yīng)用上業(yè)界已有針對不同市場的非侵入性分析系統(tǒng)，如藥物分析產(chǎn)品。

最新的研究結(jié)合太赫茲分析技術(shù)和其他實驗設(shè)備如液氦低溫保持器(Cryostat)及加熱器，用于開發(fā)新材料和物理分析。實驗室要求測量設(shè)備高精度同時易于使用，愛德萬測試公司的新太赫茲光譜及成像分析平臺滿足了這些要求，幫助研發(fā)人員達到高精度、高效率。

通過把太赫茲光源和檢測分離成獨立模組并以光纖與主機聯(lián)接，使得被測區(qū)域可以任意靈活布置。這一平臺也可以與其他實驗設(shè)備相連，支援利用在應(yīng)用太赫茲的更廣泛的研究項目。

愛德萬測試網(wǎng)址：www.advantest.co.jp