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[導讀]先進封裝與半導體元件、高亮度發(fā)光二極體與硬碟制造之單晶圓濕制程系統(tǒng)大廠美國固態(tài)半導體設(shè)備(Solid State Equipment LLC,DBA SSEC) 發(fā)表專為 WaferEtch 平臺設(shè)計的多路徑回收排放管路(MultiPath Collection Drain

先進封裝與半導體元件、高亮度發(fā)光二極體與硬碟制造之單晶圓濕制程系統(tǒng)大廠美國固態(tài)半導體設(shè)備(Solid State Equipment LLC,DBA SSEC) 發(fā)表專為 WaferEtch 平臺設(shè)計的多路徑回收排放管路(MultiPath Collection Drain)。專屬的排放管路設(shè)計能在相同的反應(yīng)室內(nèi)收集、再循環(huán)、并隔絕多種化學品,且?guī)缀醪粫斐苫瘜W品的交叉污染,而且能夠形成獨特的化學品排放路徑,并維持SSEC出色的化學品儲存值。此外,即時冷卻功能可對現(xiàn)今微細特征蝕刻應(yīng)用提供更佳的制程控制。
形成微細特征需要蝕刻制程(例如凸塊底層金屬 [UBM]),而其中蝕刻制程涉及多個金屬層,并指定使用不相容的化學品,而這些化學品不得接觸排放管路內(nèi)相同的浸濕區(qū)域。SSEC的執(zhí)行長Herman Itzkowitz解釋:「過去在單晶圓濕制程機臺上容納兩至三種化學品時,要利用收集器下方的導流閥才能完成,而只要化學品在短時間內(nèi)使用相同路徑時,導流閥足以擔負這項工作。一般來說,采用這種方法造成交叉污染的機率會小于1%?!宫F(xiàn)在,全新的排放管路設(shè)計采取多重收集法,減少煙霧且?guī)缀跄芡耆懦徊嫖廴?,因而能夠在相同的反?yīng)室內(nèi)蝕刻多個金屬物。

除了可個別地密封多個排放管路開口以避免交叉污染外,本機臺的晶圓卡盤能在多路徑回收的過程中保持固定,形成恒定的冷卻特性,以便在必要時終止蝕刻制程,改善制程控制。此創(chuàng)新設(shè)計使SSEC出色的化學品儲存值可達到99.5%的化學品收集。高回收百分比加上降低交叉污染不但延長電解槽的使用壽命,也降低整體的購置成本。多路徑回收排放管路目前已是WaferEtch平臺的標準配備,而且也能在業(yè)內(nèi)現(xiàn)有之3300系列機臺上進行改裝。




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