對(duì)于量測(cè)業(yè)者來(lái)說(shuō)，測(cè)試系統(tǒng)新舊版本相容性是新版本能否成功的關(guān)建之一。量測(cè)業(yè)者吉時(shí)利致力于讓新測(cè)試系統(tǒng)高度相容于較早的系統(tǒng)，以支援吉時(shí)利參數(shù)測(cè)試客戶(hù)。推出的新版本測(cè)試環(huán)境（KTE）半導(dǎo)體測(cè)試軟體--KTE V5.3，是專(zhuān)為配合程式控制監(jiān)控方案產(chǎn)品線S530參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)使用所設(shè)計(jì)。預(yù)估可保持高度的軟體相容性可使轉(zhuǎn)移路徑更為平順，并能保護(hù)晶圓廠的測(cè)試軟體投資。

測(cè)試開(kāi)發(fā)和執(zhí)行軟體平臺(tái)KTE，全球有數(shù)百家半導(dǎo)體晶圓廠采用。吉時(shí)利進(jìn)一步將KTE測(cè)試開(kāi)發(fā)和執(zhí)行環(huán)境擴(kuò)展至S530系統(tǒng)。S530儀器提供程式控制監(jiān)控等參數(shù)測(cè)試應(yīng)用要求的高速和廣泛測(cè)量范圍。現(xiàn)在，吉時(shí)利的S530測(cè)試系統(tǒng)利用這個(gè)經(jīng)過(guò)業(yè)界長(zhǎng)期驗(yàn)證的軟體平臺(tái)在最嚴(yán)苛的生產(chǎn)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)了靈活的測(cè)試計(jì)劃開(kāi)發(fā)和高速測(cè)試。

對(duì)于已經(jīng)使用KTE較早版本的客戶(hù)來(lái)說(shuō)，新版本加速并簡(jiǎn)化了測(cè)試系統(tǒng)到測(cè)試平臺(tái)的整合。首先，同一種測(cè)試方法和方案適用于所有吉時(shí)利自動(dòng)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，縮短了跨系統(tǒng)的學(xué)習(xí)過(guò)程，而且在測(cè)試平臺(tái)上增加新的高速系統(tǒng)，或取代較早版本的的轉(zhuǎn)換路徑。再者，使用者只需重新編譯和重新建立舊有的用戶(hù)資料庫(kù)，只需進(jìn)行少量除錯(cuò)，就能在新版本繼續(xù)使用這些資料庫(kù)。

再者， KTE V5.3簡(jiǎn)化了建立條件測(cè)試順序的新用戶(hù)擷取點(diǎn)（user access point；UAP）原始碼，并制訂新版本的系統(tǒng)工作流程。為早期吉時(shí)利系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的UAP原始碼在少量的調(diào)整下，適用于新系統(tǒng)。而所有 KTE工具對(duì)吉時(shí)利所有參數(shù)測(cè)試平臺(tái)都提供完全相同的功能。也就是說(shuō)，現(xiàn)有吉時(shí)利S400和S600系列參數(shù)測(cè)試儀用戶(hù)，可以將現(xiàn)有的測(cè)量程式輕松轉(zhuǎn)移到S530，而且現(xiàn)有測(cè)試儀和新的S530系統(tǒng)可以共用同一個(gè)測(cè)試計(jì)劃。

S530的KTE適合在標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)PC的Linux作業(yè)系統(tǒng)上運(yùn)作，運(yùn)作KTE V5.3的S530系統(tǒng)能實(shí)現(xiàn)程式控制監(jiān)控、過(guò)程可靠監(jiān)控和元件特性分析要求的全部直流I-V和C-V測(cè)量。