<市場(chǎng)>電源光學(xué)晶圓測(cè)試一把抓 PXI模組百變現(xiàn)身
[導(dǎo)讀]美商國(guó)家儀器（NI）第八屆大中華PXI技術(shù)與應(yīng)用論壇5月18日于臺(tái)北六福皇宮盛大登場(chǎng)。來(lái)自不同產(chǎn)業(yè)界的代表廠商，在現(xiàn)場(chǎng)人潮洶涌的實(shí)際應(yīng)用展示區(qū)內(nèi)，百花齊放地呈現(xiàn)了以PXI模組化儀控設(shè)備和LabVIEW軟體為核心、有效提
美商國(guó)家儀器（NI）第八屆大中華PXI技術(shù)與應(yīng)用論壇5月18日于臺(tái)北六福皇宮盛大登場(chǎng)。來(lái)自不同產(chǎn)業(yè)界的代表廠商，在現(xiàn)場(chǎng)人潮洶涌的實(shí)際應(yīng)用展示區(qū)內(nèi)，百花齊放地呈現(xiàn)了以PXI模組化儀控設(shè)備和LabVIEW軟體為核心、有效提升自動(dòng)化測(cè)試效能的最新成果。從電源供應(yīng)、光學(xué)鏡頭到LED晶圓生產(chǎn)設(shè)備，NI的PXI模組化軟硬體平臺(tái)扮演著舉足輕重的關(guān)鍵角色。
圖一NI PXI論壇現(xiàn)場(chǎng)人潮絡(luò)繹不絕
在電源元件自動(dòng)化測(cè)試部份，固緯電子示波器研發(fā)事業(yè)處專案襄理曾元佑表示，以往單一PXI儀控設(shè)備所能夠消耗的功率限制在25W之內(nèi)，若待測(cè)物需要用到大瓦特?cái)?shù)時(shí)，便必須搭配一般傳統(tǒng)的量測(cè)儀器，因此設(shè)計(jì)彈性就受到限制。固緯電子便藉由NI軟體定義的PXI模組化平臺(tái)價(jià)值為核心，擴(kuò)充測(cè)試大瓦特?cái)?shù)電源轉(zhuǎn)換器待測(cè)物的能力。為突破以往中低階量測(cè)儀器供應(yīng)商的市場(chǎng)定位，固緯電子以上述概念作為出發(fā)點(diǎn)，與NI合作設(shè)計(jì)出開放式模組化電源測(cè)試系統(tǒng)，強(qiáng)化了工業(yè)和消費(fèi)電子應(yīng)用電源轉(zhuǎn)換器的測(cè)試能力。
這款模組化電源測(cè)試系統(tǒng)中，NI主要提供操作介面、示波器和電表卡板、以及耐高壓轉(zhuǎn)換匯流排，其余則是由固緯電子所衍生開發(fā)。為了降低客戶使用的門檻，在預(yù)設(shè)版本內(nèi)就先刪除PXI控制器簡(jiǎn)化功能的角色。至于軟體部份則是采用NI的測(cè)試管理套件TestStand，以此為基礎(chǔ)開發(fā)出其他LabVIEW測(cè)項(xiàng)功能，大部分軟體平臺(tái)也是由NI所提供。藉此固緯電子設(shè)計(jì)出一套可支援工業(yè)用電腦和消費(fèi)電子產(chǎn)品等電源自動(dòng)化測(cè)試、并能提供相關(guān)服務(wù)的原型平臺(tái)。
圖二固緯電子示波器研發(fā)事業(yè)處專案襄理曾元佑
另一方面，在光學(xué)透鏡檢測(cè)部份，國(guó)家實(shí)驗(yàn)研究院儀器科技研究中心先進(jìn)電子系統(tǒng)制作廠助理研究員陳永祥指出，消費(fèi)電子產(chǎn)品搭配的光學(xué)鏡頭，需要經(jīng)過(guò)嚴(yán)謹(jǐn)?shù)钠臋z測(cè)作業(yè)。藉由PXI模組平臺(tái)的輔助，影像式光學(xué)透鏡模組的偏心檢測(cè)機(jī)臺(tái)，光軸中心和幾何中心兩點(diǎn)運(yùn)算的偏心量就能更為精確地檢測(cè)出來(lái)，且能進(jìn)一步提高周邊擴(kuò)充功能和運(yùn)算速度，比起傳統(tǒng)機(jī)械式繞圓的檢測(cè)方式，更能提高效率和精確度，從2～3分鐘大幅縮減數(shù)秒即可。
圖三右為國(guó)家實(shí)驗(yàn)研究院儀器科技；左為研究中心先進(jìn)電子系統(tǒng)制作廠助理研究員陳永祥
此外在LED晶圓測(cè)試領(lǐng)域，PXI模組化平臺(tái)更扮演不可或缺的角色。亞克先進(jìn)系統(tǒng)部經(jīng)理林世芳和順英有限公司蕭順中表示，現(xiàn)場(chǎng)展示的6寸LED晶圓測(cè)試設(shè)備，整合順英的電光測(cè)試機(jī)以及亞克先進(jìn)的移動(dòng)控制機(jī)臺(tái)，測(cè)試機(jī)除采用NI PXI SMU模組之外，整座機(jī)臺(tái)亦涵蓋NI在電性、馬達(dá)、影像視覺、I/O介面、LabVIEW等軟硬體功能，可支援高速、低雜訊、穩(wěn)定而精確的量測(cè)品質(zhì)。6寸LED晶圓測(cè)試設(shè)備可同時(shí)進(jìn)行垂直4點(diǎn)LED探針測(cè)試，并可兼顧波長(zhǎng)檢測(cè)項(xiàng)目，不僅能大幅提高檢測(cè)產(chǎn)能，更可大幅降低無(wú)塵室生產(chǎn)線的建置成本，是臺(tái)灣自主開發(fā)的LED軟硬體檢測(cè)平臺(tái)。
圖四右為亞克先進(jìn)系統(tǒng)部經(jīng)理林世芳；左為順英有限公司蕭順中
圖一NI PXI論壇現(xiàn)場(chǎng)人潮絡(luò)繹不絕
在電源元件自動(dòng)化測(cè)試部份，固緯電子示波器研發(fā)事業(yè)處專案襄理曾元佑表示，以往單一PXI儀控設(shè)備所能夠消耗的功率限制在25W之內(nèi)，若待測(cè)物需要用到大瓦特?cái)?shù)時(shí)，便必須搭配一般傳統(tǒng)的量測(cè)儀器，因此設(shè)計(jì)彈性就受到限制。固緯電子便藉由NI軟體定義的PXI模組化平臺(tái)價(jià)值為核心，擴(kuò)充測(cè)試大瓦特?cái)?shù)電源轉(zhuǎn)換器待測(cè)物的能力。為突破以往中低階量測(cè)儀器供應(yīng)商的市場(chǎng)定位，固緯電子以上述概念作為出發(fā)點(diǎn)，與NI合作設(shè)計(jì)出開放式模組化電源測(cè)試系統(tǒng)，強(qiáng)化了工業(yè)和消費(fèi)電子應(yīng)用電源轉(zhuǎn)換器的測(cè)試能力。
這款模組化電源測(cè)試系統(tǒng)中，NI主要提供操作介面、示波器和電表卡板、以及耐高壓轉(zhuǎn)換匯流排，其余則是由固緯電子所衍生開發(fā)。為了降低客戶使用的門檻，在預(yù)設(shè)版本內(nèi)就先刪除PXI控制器簡(jiǎn)化功能的角色。至于軟體部份則是采用NI的測(cè)試管理套件TestStand，以此為基礎(chǔ)開發(fā)出其他LabVIEW測(cè)項(xiàng)功能，大部分軟體平臺(tái)也是由NI所提供。藉此固緯電子設(shè)計(jì)出一套可支援工業(yè)用電腦和消費(fèi)電子產(chǎn)品等電源自動(dòng)化測(cè)試、并能提供相關(guān)服務(wù)的原型平臺(tái)。
圖二固緯電子示波器研發(fā)事業(yè)處專案襄理曾元佑
另一方面，在光學(xué)透鏡檢測(cè)部份，國(guó)家實(shí)驗(yàn)研究院儀器科技研究中心先進(jìn)電子系統(tǒng)制作廠助理研究員陳永祥指出，消費(fèi)電子產(chǎn)品搭配的光學(xué)鏡頭，需要經(jīng)過(guò)嚴(yán)謹(jǐn)?shù)钠臋z測(cè)作業(yè)。藉由PXI模組平臺(tái)的輔助，影像式光學(xué)透鏡模組的偏心檢測(cè)機(jī)臺(tái)，光軸中心和幾何中心兩點(diǎn)運(yùn)算的偏心量就能更為精確地檢測(cè)出來(lái)，且能進(jìn)一步提高周邊擴(kuò)充功能和運(yùn)算速度，比起傳統(tǒng)機(jī)械式繞圓的檢測(cè)方式，更能提高效率和精確度，從2～3分鐘大幅縮減數(shù)秒即可。
圖三右為國(guó)家實(shí)驗(yàn)研究院儀器科技；左為研究中心先進(jìn)電子系統(tǒng)制作廠助理研究員陳永祥
此外在LED晶圓測(cè)試領(lǐng)域，PXI模組化平臺(tái)更扮演不可或缺的角色。亞克先進(jìn)系統(tǒng)部經(jīng)理林世芳和順英有限公司蕭順中表示，現(xiàn)場(chǎng)展示的6寸LED晶圓測(cè)試設(shè)備，整合順英的電光測(cè)試機(jī)以及亞克先進(jìn)的移動(dòng)控制機(jī)臺(tái)，測(cè)試機(jī)除采用NI PXI SMU模組之外，整座機(jī)臺(tái)亦涵蓋NI在電性、馬達(dá)、影像視覺、I/O介面、LabVIEW等軟硬體功能，可支援高速、低雜訊、穩(wěn)定而精確的量測(cè)品質(zhì)。6寸LED晶圓測(cè)試設(shè)備可同時(shí)進(jìn)行垂直4點(diǎn)LED探針測(cè)試，并可兼顧波長(zhǎng)檢測(cè)項(xiàng)目，不僅能大幅提高檢測(cè)產(chǎn)能，更可大幅降低無(wú)塵室生產(chǎn)線的建置成本，是臺(tái)灣自主開發(fā)的LED軟硬體檢測(cè)平臺(tái)。
圖四右為亞克先進(jìn)系統(tǒng)部經(jīng)理林世芳；左為順英有限公司蕭順中
下載文檔
