JOT Automation引進(jìn)新智能設(shè)備生產(chǎn)測(cè)試
時(shí)間:2012-12-04 10:16:34
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智能設(shè)備
AUTOMATION
測(cè)試解決方案
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[導(dǎo)讀]智能手機(jī)和平板電腦等智能設(shè)備的生產(chǎn)量正急劇增長(zhǎng),而生產(chǎn)商也正在努力尋求解決方案,縮短開(kāi)發(fā)周期并克服生產(chǎn)中所面臨的產(chǎn)能挑戰(zhàn)。在這樣的背景下,JOT M10 功能測(cè)試解決方案 (JOT M10 Functional Test Solution ) 應(yīng)
智能手機(jī)和平板電腦等智能設(shè)備的生產(chǎn)量正急劇增長(zhǎng),而生產(chǎn)商也正在努力尋求解決方案,縮短開(kāi)發(fā)周期并克服生產(chǎn)中所面臨的產(chǎn)能挑戰(zhàn)。在這樣的背景下,JOT M10 功能測(cè)試解決方案 (JOT M10 Functional Test Solution ) 應(yīng)運(yùn)而生。JOT M10 是備受親睞的 JOT Multi Level Tester 的后續(xù)產(chǎn)品,后者是迄今為止全球使用最廣泛的移動(dòng)設(shè)備自動(dòng)化生產(chǎn)測(cè)試解決方案。
JOT M10 功能測(cè)試解決方案將成為全球最具高效性、可擴(kuò)展性的模塊化解決方案,可用于手機(jī)、智能手機(jī)、平板電腦、個(gè)人電腦和計(jì)算機(jī)、主板、車用電子設(shè)備或基本上任何要求具備卓越生產(chǎn)質(zhì)量的電子產(chǎn)品等智能設(shè)備的板級(jí)/PCB 級(jí)功能測(cè)試、程序下載及射頻調(diào)諧。
該解決方案的一項(xiàng)重要優(yōu)勢(shì)在于可將研發(fā)中的同一個(gè)測(cè)試解決方案移至生產(chǎn)中,確保實(shí)現(xiàn)高效、快速的初期生產(chǎn)。另一項(xiàng)重要優(yōu)勢(shì)則在于,基于模塊化的系統(tǒng)架構(gòu),M10 在產(chǎn)品生命周期內(nèi)均可輕松應(yīng)對(duì)不同生產(chǎn)線和工廠之間的生產(chǎn)量變化。
JOT M10 功能測(cè)試解決方案包含 M10 測(cè)試箱 (M10 Test Boxes)、M10 測(cè)試臺(tái) (M10 Test Rack) 以及 M10 測(cè)試分選機(jī) (M10 Test Handler)。
M10 測(cè)試箱帶有集成的測(cè)試電子設(shè)備,我們可提供作為支持模塊級(jí)和板級(jí)測(cè)試的射頻及非射頻變體的測(cè)試箱。
在生產(chǎn)環(huán)境中,M10 測(cè)試箱可與第三方測(cè)試工具同時(shí)安裝至 M10 測(cè)試臺(tái)。裝有測(cè)試箱的 M10 測(cè)試臺(tái)可與 M10 測(cè)試分選機(jī)一起通過(guò)手動(dòng)或自動(dòng)模式運(yùn)行。為打造一個(gè)真正的測(cè)試巨人,您可將多個(gè) M10 放在同一排。為實(shí)現(xiàn)最大產(chǎn)能,測(cè)試階段可靈活分為在測(cè)試臺(tái)內(nèi)部及測(cè)試臺(tái)之間進(jìn)行。
M10 適用于各種測(cè)試策略、工藝、最終產(chǎn)品及應(yīng)用,因此成為智能設(shè)備制造商永不過(guò)時(shí)的一項(xiàng)投資。
在其正式發(fā)布之前,JOT M10 功能測(cè)試解決方案已引起諸多手機(jī)、芯片組及測(cè)試工具制造商的興趣。目前,該解決方案已向選定客戶提供測(cè)試版,并將于 2013 年 2 月在圣地亞哥舉行的 APEX 展中首次亮相。
JOT M10 功能測(cè)試解決方案將成為全球最具高效性、可擴(kuò)展性的模塊化解決方案,可用于手機(jī)、智能手機(jī)、平板電腦、個(gè)人電腦和計(jì)算機(jī)、主板、車用電子設(shè)備或基本上任何要求具備卓越生產(chǎn)質(zhì)量的電子產(chǎn)品等智能設(shè)備的板級(jí)/PCB 級(jí)功能測(cè)試、程序下載及射頻調(diào)諧。
該解決方案的一項(xiàng)重要優(yōu)勢(shì)在于可將研發(fā)中的同一個(gè)測(cè)試解決方案移至生產(chǎn)中,確保實(shí)現(xiàn)高效、快速的初期生產(chǎn)。另一項(xiàng)重要優(yōu)勢(shì)則在于,基于模塊化的系統(tǒng)架構(gòu),M10 在產(chǎn)品生命周期內(nèi)均可輕松應(yīng)對(duì)不同生產(chǎn)線和工廠之間的生產(chǎn)量變化。
JOT M10 功能測(cè)試解決方案包含 M10 測(cè)試箱 (M10 Test Boxes)、M10 測(cè)試臺(tái) (M10 Test Rack) 以及 M10 測(cè)試分選機(jī) (M10 Test Handler)。
M10 測(cè)試箱帶有集成的測(cè)試電子設(shè)備,我們可提供作為支持模塊級(jí)和板級(jí)測(cè)試的射頻及非射頻變體的測(cè)試箱。
在生產(chǎn)環(huán)境中,M10 測(cè)試箱可與第三方測(cè)試工具同時(shí)安裝至 M10 測(cè)試臺(tái)。裝有測(cè)試箱的 M10 測(cè)試臺(tái)可與 M10 測(cè)試分選機(jī)一起通過(guò)手動(dòng)或自動(dòng)模式運(yùn)行。為打造一個(gè)真正的測(cè)試巨人,您可將多個(gè) M10 放在同一排。為實(shí)現(xiàn)最大產(chǎn)能,測(cè)試階段可靈活分為在測(cè)試臺(tái)內(nèi)部及測(cè)試臺(tái)之間進(jìn)行。
M10 適用于各種測(cè)試策略、工藝、最終產(chǎn)品及應(yīng)用,因此成為智能設(shè)備制造商永不過(guò)時(shí)的一項(xiàng)投資。
在其正式發(fā)布之前,JOT M10 功能測(cè)試解決方案已引起諸多手機(jī)、芯片組及測(cè)試工具制造商的興趣。目前,該解決方案已向選定客戶提供測(cè)試版,并將于 2013 年 2 月在圣地亞哥舉行的 APEX 展中首次亮相。





