ST創(chuàng)新類比放大器獲QML V認(rèn)證
[導(dǎo)讀]意法半導(dǎo)體新推出四款獲得QML V官方認(rèn)證的放大器晶片 RHF484, RHF310, RHF330, RHF350。新的抗輻射類比元件強(qiáng)化了抗輻射性能,在已發(fā)現(xiàn)的惡劣太空環(huán)境中能夠正常運(yùn)作,確保設(shè)備具有更長(zhǎng)的耐用性。意法半導(dǎo)體的抗輻射
意法半導(dǎo)體新推出四款獲得QML V官方認(rèn)證的放大器晶片 RHF484, RHF310, RHF330, RHF350。新的抗輻射類比元件強(qiáng)化了抗輻射性能,在已發(fā)現(xiàn)的惡劣太空環(huán)境中能夠正常運(yùn)作,確保設(shè)備具有更長(zhǎng)的耐用性。
意法半導(dǎo)體的抗輻射類比晶片均采用BICMOS制程,擁有極低的功耗。在法國(guó)國(guó)家太空研究中心(Centre National d’Etudes Spatiales、CNES)的大力支持下,這些元件通過測(cè)試后直接進(jìn)入歐洲產(chǎn)品目錄(EPPL) 。
新產(chǎn)品包括四款晶片: RHF484, RHF310, RHF330, RHF350 。 RHF484是由4個(gè)RHF43B組成的4路運(yùn)算放大器,可替代工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)運(yùn)算放大器晶片,采用Flat-14W封裝,2011年通過QML V認(rèn)證。
RHF310和RHF330是超低功耗5V運(yùn)算放大器,是各種訊號(hào)調(diào)節(jié)應(yīng)用的理想選擇。120MHz和1.0GHz兩個(gè)型號(hào)已取得QML V證書。另一款產(chǎn)品550 MHz RHF350預(yù)計(jì)于2011年第四季通過認(rèn)證。
意法半導(dǎo)體以300 krad(Si)的標(biāo)準(zhǔn)抗離子化輻射能力(總離子化劑量測(cè)試,簡(jiǎn)稱TID),包括抗低速率輻射測(cè)試,而成為航太工業(yè)的半導(dǎo)體元件抗輻射參考標(biāo)準(zhǔn)。無強(qiáng)化型低劑量速率敏感效應(yīng)(ELDRS-free)晶片讓意法半導(dǎo)體成為首家獲得抗輻射保證(RHA)認(rèn)證的半導(dǎo)體供應(yīng)商。
透過推出無單一事件鎖定(Single Event Latch-up,SEL)效應(yīng)和單一事件錯(cuò)誤中斷測(cè)試(Single Event False Interrupt,SEFI)效應(yīng)的元件,意法半導(dǎo)體擁有市場(chǎng)上最高的抗離子化輻射能力,將防止重離子引起燒傷的抗輻射技術(shù)提高至新一層級(jí)。在這些新產(chǎn)品中,意法半導(dǎo)體引領(lǐng)市場(chǎng)的先進(jìn)技術(shù)還包括單一事件瞬態(tài)(Single Event Transients,SET)保護(hù)功能。單一事件瞬態(tài)現(xiàn)象是重離子引起的瞬間錯(cuò)誤,是航太類比元件必須克服的一大挑戰(zhàn)。
意法半導(dǎo)體的航太領(lǐng)域類比元件在設(shè)計(jì)方面特別關(guān)注單一事件瞬態(tài)效應(yīng),并經(jīng)過了全面的特征化分析,擁有瞬間錯(cuò)誤脈沖的低振幅,時(shí)間短的特性。
意法半導(dǎo)體的抗輻射類比晶片均采用BICMOS制程,擁有極低的功耗。在法國(guó)國(guó)家太空研究中心(Centre National d’Etudes Spatiales、CNES)的大力支持下,這些元件通過測(cè)試后直接進(jìn)入歐洲產(chǎn)品目錄(EPPL) 。
新產(chǎn)品包括四款晶片: RHF484, RHF310, RHF330, RHF350 。 RHF484是由4個(gè)RHF43B組成的4路運(yùn)算放大器,可替代工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)運(yùn)算放大器晶片,采用Flat-14W封裝,2011年通過QML V認(rèn)證。
RHF310和RHF330是超低功耗5V運(yùn)算放大器,是各種訊號(hào)調(diào)節(jié)應(yīng)用的理想選擇。120MHz和1.0GHz兩個(gè)型號(hào)已取得QML V證書。另一款產(chǎn)品550 MHz RHF350預(yù)計(jì)于2011年第四季通過認(rèn)證。
意法半導(dǎo)體以300 krad(Si)的標(biāo)準(zhǔn)抗離子化輻射能力(總離子化劑量測(cè)試,簡(jiǎn)稱TID),包括抗低速率輻射測(cè)試,而成為航太工業(yè)的半導(dǎo)體元件抗輻射參考標(biāo)準(zhǔn)。無強(qiáng)化型低劑量速率敏感效應(yīng)(ELDRS-free)晶片讓意法半導(dǎo)體成為首家獲得抗輻射保證(RHA)認(rèn)證的半導(dǎo)體供應(yīng)商。
透過推出無單一事件鎖定(Single Event Latch-up,SEL)效應(yīng)和單一事件錯(cuò)誤中斷測(cè)試(Single Event False Interrupt,SEFI)效應(yīng)的元件,意法半導(dǎo)體擁有市場(chǎng)上最高的抗離子化輻射能力,將防止重離子引起燒傷的抗輻射技術(shù)提高至新一層級(jí)。在這些新產(chǎn)品中,意法半導(dǎo)體引領(lǐng)市場(chǎng)的先進(jìn)技術(shù)還包括單一事件瞬態(tài)(Single Event Transients,SET)保護(hù)功能。單一事件瞬態(tài)現(xiàn)象是重離子引起的瞬間錯(cuò)誤,是航太類比元件必須克服的一大挑戰(zhàn)。
意法半導(dǎo)體的航太領(lǐng)域類比元件在設(shè)計(jì)方面特別關(guān)注單一事件瞬態(tài)效應(yīng),并經(jīng)過了全面的特征化分析,擁有瞬間錯(cuò)誤脈沖的低振幅,時(shí)間短的特性。





