1.國外相關(guān)標(biāo)準現(xiàn)狀

普通LED的測試標(biāo)準有：

(1)IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)

IEC60747-5半導(dǎo)體分立器件及集成電路

(2)IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics(1997-09)

IEC60747-5-2分立半導(dǎo)體器件及集成電路零部件5-2：光電子器件—分類特征及要素(1997-09)

(3)IEC60747-5-3Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part5-3:Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)

IEC60747-5-3分立半導(dǎo)體器件及集成電路零部件5-3：光電子器件—測試方法(1997-08)

(4)IEC60747-12-3 Semiconductordevices-part12-3:optoelectronic devices–Blank detail specification for light-emitting diodes–Display application(1998-02)

IEC60747-12-3半導(dǎo)體分立器件12-3：光電子器件—顯示用發(fā)光二極管空白詳細標(biāo)準(1998-02)

(5) CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)

CIE127-1997LED測試方法(1997)

(6) CIE/ISO standards on LED intensity measurements

CIE/ISOLED強度測試標(biāo)準

國際照明委員會(CIE)1997年發(fā)表CIE127-1997 LED測試方法，把LED強度測試確定為平均強度的概念，并且規(guī)定了統(tǒng)一的測試結(jié)構(gòu)和探測器大小，這樣就為LED準確測試比對奠定了基礎(chǔ)。雖然CIE127-1997測試方法并非國際標(biāo)準，但它容易實施準確測試比對，目前世界上主要企業(yè)都已采用。但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展，許多新的LED技術(shù)特性CIE127-1997 LED測試方法沒有涉及。

目前，隨著半導(dǎo)體照明產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，發(fā)達國家非常重視LED測試標(biāo)準的制訂。如美國國家標(biāo)準檢測研究所(NIST)正在開展LED測試方法的研究，準備建立整套的LED測試方法和標(biāo)準。同時，許多國外大公司的研究和開發(fā)人員正在積極參與國家和國際專業(yè)化組織，制訂半導(dǎo)體照明測試標(biāo)準。如2002年10月28日，美國Lumileds公司和日本Nichia宣布雙方進行各自LED技術(shù)的交叉授權(quán)，并準備聯(lián)合制訂功率型LED標(biāo)準，以推動市場應(yīng)用。

2.國內(nèi)相關(guān)標(biāo)準現(xiàn)狀

從八十年代初起，我國相繼制定了一些與發(fā)光二極管相關(guān)的行業(yè)標(biāo)準和國家標(biāo)準。國內(nèi)現(xiàn)有與LED測試有關(guān)的標(biāo)準有：

(1)Sj2353.3-83半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法

(2)Sj2658-86半導(dǎo)體紅外發(fā)光二極管測試方法

(3)GB/T12561—1990發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范

(4)GB/T15651-1995半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路：光電子器件(國家標(biāo)準)

(5)GB/T18904.3—2002半導(dǎo)體器件12-3:光電子器件顯示用發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范(采用IEC60747-12-3:1998)

(6)半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-2部分：光電子器件基本額定值和特性(國家標(biāo)準;制訂中)

(7)半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-3部分：光電子器件測試方法(國家標(biāo)準;制訂中)

(8)半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法(中國光協(xié)光電器件分會標(biāo)準;2002)