半導(dǎo)體測試聯(lián)盟(STC)開放測試平臺(tái)先進(jìn)技術(shù)交流會(huì)在上海集成電路行業(yè)協(xié)會(huì)召開。本次會(huì)議由英特爾和愛德萬測試聯(lián)合主辦，上海市集成電路行業(yè)協(xié)會(huì)指導(dǎo)。愛德萬測試上海有限公司市場部部長林川主持會(huì)議。STC董事會(huì)成員，來自英特爾美國的Michael Kienitz做了主題為“Semiconductor Test Consortium Update”的精彩演講，他介紹了英特爾公司在STC中的作用，回顧了STC在2002年的戰(zhàn)略及所取得的成果，并對2003年的發(fā)展作了展望。愛德萬測試上海有限公司SE技術(shù)部徐勇部長介紹了傳統(tǒng)測試系統(tǒng)面臨的挑戰(zhàn)，“OPENSTAR TM r”開放式的軟硬件架構(gòu),愛德萬測試在STC中的作用等。來自著名大學(xué)，研究所，測試公司的業(yè)界精英人士參加了本次介紹會(huì)。本文摘自《半導(dǎo)體技術(shù)》