Advantest日前宣布，在全球市場(chǎng)上推出最新型T5372型存儲(chǔ)器測(cè)試儀，公司宣稱，其可以為DRAM、SDRAM、DDR、閃存存儲(chǔ)器及其他通用存儲(chǔ)器芯片，包括多芯片封裝及其他特殊封裝存儲(chǔ)器，減少超過(guò)30%的晶圓測(cè)試時(shí)間。T5372測(cè)試儀提供143MHz的測(cè)試速度（在DDR測(cè)試模式下能達(dá)到286MHz，是其前一代產(chǎn)品速度的兩倍，T5371型產(chǎn)品能支持當(dāng)前日益增加的高速儀器，并具有可選擇的錯(cuò)誤分析功能包括誤碼率壓縮引擎（可以加速錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的傳輸率），并標(biāo)注錯(cuò)誤存儲(chǔ)器地址（允許分隔失靈存儲(chǔ)器雙模操作）。允許并行測(cè)試128位以上儀器，T5372型支持一個(gè)或兩個(gè)測(cè)試基站，每一個(gè)基站最大32DC單位和128克編程電源。T5372型測(cè)試儀同時(shí)還保持了與T5371型的兼容性，并可與客戶已有的設(shè)備共同使用，包括測(cè)試程序和探測(cè)板卡等，可支持無(wú)縫升級(jí)。