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[導讀]2005年5月消息,美國國家儀器有限公司于4月在上海國際會議中心成功主辦第二屆“設計、驗證及測試論壇” (Design Validation Test Forum,即DVTF 2005),今年的主題為“測試緊跟設計的步伐”。本屆論壇總共吸引了逾

2005年5月消息,美國國家儀器有限公司于4月在上海國際會議中心成功主辦第二屆“設計、驗證及測試論壇” (Design Validation Test Forum,即DVTF 2005),今年的主題為“測試緊跟設計的步伐”。本屆論壇總共吸引了逾500位工程師、技術(shù)人員和院校教師參與此次盛會,其中97.1%的來賓表示“此次活動對他們的工作有所幫助”,70%將會推薦他們的同事參加明年的“設計、驗證及測試論壇”。在此次論壇期間,NI提出了若干驅(qū)動虛擬儀器技術(shù)發(fā)展的主導商業(yè)技術(shù),并著重強調(diào)了PCI Express 和FPGA這兩項。2004年第一屆DVTF由NI和泰克電子(Tektronix)強強聯(lián)手,延承其成功之勢,除了泰克電子以外,今年NI還邀請了英特爾(Intel)、科梁科技(AEETEK)、Quanser、CyboSoft(博軟科技)、泛華測控和聚星儀器等行業(yè)內(nèi)外相關(guān)領域的多家優(yōu)秀企業(yè)共同參與。此次論壇分為熱點技術(shù)專題與實時應用專題同時進行。NI主持了“利用新興的PAC技術(shù)解決工業(yè)控制面臨的挑戰(zhàn)”、“用LabVIEW開發(fā)實時系統(tǒng)應用”等5場專題研討會,Intel 以及其他公司也提供了“Embedded Market Solutions - PCI Express Technology”、“采用高速數(shù)字示波器進行 PCI Express分析和一致性測試”等講座。此外,每家參展廠商都有各自的展示區(qū)域,可以與參觀者面對面地交流。前來參加會議的來賓們也表示本次論壇“務實求新,提供了新思想、新方路、新手段、新工藝”,“與各大廠商直接接觸,了解到測試及控制領域最新的技術(shù)及發(fā)展趨勢”。基于兩屆活動的成功經(jīng)驗,NI會在明年繼續(xù)舉辦第三屆“設計、驗證及測試論壇”,并有信心將其打造成測試測量行業(yè)內(nèi)首屈一指的多供應商技術(shù)論壇。
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