溫度測量系統(tǒng)對模數(shù)轉(zhuǎn)換器的要求

來源：ADI公司 作者：Mary McCarthy，Eamonn Dillon1引言測量溫度的傳感器有幾種。為具體應(yīng)用選擇適當(dāng)?shù)臏囟葌鞲衅魅Q于待測溫度范圍以及所需的精度。系統(tǒng)精度取決于溫度傳

Δ－Σ 轉(zhuǎn)換器信噪比有何不同之處

許多工程師仍努力使 (Δ－Σ) 轉(zhuǎn)換器這個圓形銷子適應(yīng)標(biāo)準(zhǔn) ADC|0">ADC 這個方形孔當(dāng)我還是孩子的時候，父母給我買了一個直徑為 1 英寸的閉殼龜。我為此興奮不已！

21世紀(jì)的SAR ADC

PDF摘要： 在過去的幾十年中，全世界的精密數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器設(shè)計廠商一直在重新改進(jìn)逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器（SAR ADC）的體系結(jié)構(gòu)。其中功耗和尺寸是改進(jìn)最大的兩個參數(shù)。從200

應(yīng)用于并行ADC性能擴展的一種比特滑動流水模數(shù)轉(zhuǎn)換方法

1 引言 隨著現(xiàn)代通信領(lǐng)域中技術(shù)發(fā)展的突飛猛進(jìn),整機系統(tǒng)對模數(shù)轉(zhuǎn)換提出了更高的要求。例如軟件無線電系統(tǒng),其中的關(guān)鍵問題就是模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的高速（即高轉(zhuǎn)換速率或高采樣

ADC基準(zhǔn)電壓誤差影響全范圍轉(zhuǎn)換

SAR（逐次逼近寄存器）ADC|0">ADC基準(zhǔn)電壓對轉(zhuǎn)換精度的影響比最初想象的還要大。圖1所示為理想和帶增益誤差的3位ADC轉(zhuǎn)換器的傳遞方程。ADC的傳遞方程等于：在這里，DCODE為

ADC中的輸入采樣結(jié)構(gòu)

當(dāng)今的模擬系統(tǒng)設(shè)計人員面臨許多設(shè)計挑戰(zhàn)。他們不僅需要選擇合適的集成電路(IC)器件，還必須準(zhǔn)確地預(yù)測這些元器件在系統(tǒng)內(nèi)的相互影響。由此看來，ADC|0">模數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器的

適用于SAR ADC的CMOS比較器的設(shè)計

引言 比較器|0">比較器廣泛應(yīng)用于從模擬信號到數(shù)字信號的轉(zhuǎn)換過程當(dāng)中。在模一數(shù)轉(zhuǎn)換過程中，經(jīng)過采樣的信號經(jīng)過比較器以決定模擬信號輸出的數(shù)字值。比較器可以比較一個

CTDS ADC在醫(yī)療超聲系統(tǒng)中的應(yīng)用

至今，設(shè)計人員都面對ADC選擇的折衷考慮。流水線轉(zhuǎn)換器提供高分辨率和寬動態(tài)范圍，但其功耗相當(dāng)高。另一種方法，分立時間Δ∑轉(zhuǎn)換器幾乎不需要太大的功率，但嚴(yán)格

TI：真正軟件定義無線電的全新跨越

鑒于SDR的接收器僅僅由一個低噪聲放大器(LNA)和一個濾波器和ADC組成，隨著半導(dǎo)體行業(yè)在RF采樣模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)領(lǐng)域的進(jìn)步，那些預(yù)見到真正軟件定義無線電(SDR)的系統(tǒng)工程師們

高速數(shù)字隔離型串行ADC及其工程應(yīng)用

1．引言 目前，逆變器在很多領(lǐng)域有著越來越廣泛地應(yīng)用。對逆變器的研究具有十分重要的意義和廣闊的工程應(yīng)用前景。常見逆變技術(shù)的控制方法大致分為開環(huán)控制的載波調(diào)制方

24位高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADSl258的原理應(yīng)用

1 概述 ADSl258是TI公司推出的一款高精度、低功耗、低噪聲的16通道(多路復(fù)用的)24位△一∑型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)，其內(nèi)部集成了輸入多路復(fù)用器、模擬低通濾波器、數(shù)字濾

AD/DA轉(zhuǎn)換技術(shù)的發(fā)展歷程及其趨勢

引　言 隨著電子產(chǎn)業(yè)數(shù)字化程度的不斷發(fā)展，逐漸形成了以數(shù)字系統(tǒng)為主體的格局。A/D轉(zhuǎn)換器作為模擬和數(shù)字電路的接口，正受到日益廣泛的關(guān)注。隨著數(shù)字技術(shù)的飛速發(fā)展，人

將混合信號電壓基準(zhǔn)提升至更高的電平

從我的前一篇文章，我們了解到混合信號應(yīng)用的電壓基準(zhǔn)可以成就一個系統(tǒng)，也可以毀掉一個系統(tǒng)。嘈雜或者極不穩(wěn)定基準(zhǔn)的最大影響位于或者靠近轉(zhuǎn)換器的滿量程輸出。通過在市場

750MHz差分ADC驅(qū)動器

RTD測量系統(tǒng)中勵磁電流失配的影響

這篇文章提供了對范例式集成比例型三線RTD測量系統(tǒng)的分析，以便了解誤差的來源，包括勵磁電流失配產(chǎn)生的影響。集成式RTD測量電路典型的集成式RTD測量解決方案包括勵磁電流、

mini2440硬件篇之ADC觸摸屏

1.1.ADC知識ADC（AnalogtoDigitalConverter），可以接收8個通道的模擬信號輸入，并將它們轉(zhuǎn)換為10位的二進(jìn)制。在2.5MHz的A/D轉(zhuǎn)換時鐘下，最大轉(zhuǎn)化速率可達(dá)500KSPS（SPS：samplespersecond，每秒采樣次數(shù)）。1.2.觸摸

基于FPGA過采樣技術(shù)及實現(xiàn)

　過采樣技術(shù)是數(shù)字信號處理者用來提高模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)性能經(jīng)常使用的方法之一，它通過減小量化噪聲，提高ADC的信噪比，從而提高ADC的有效分辨率[1]。過采樣技術(shù)不但沒有增加額外的模擬電路，而且由于提高了有效分辨

STM32 ADC注入通道的使用

通過ADC注入通道的使用，可以實時獲取4個GPIO輸入的AD采樣值，下面看具體的代碼。芯片：STM32F205VCT6STEP1：初始化GPIOvoidGPIO_Configuration(void){//GPIO-PC0PC1PC2PC3-ADC3GPIO_InitStructure.GPIO_Pin=GPIO_Pi

最佳的解決方案帶來高精度

我們還沒有完成 PGA-SAR 系統(tǒng)和 △-∑ 轉(zhuǎn)換器之間的比較。在我最后一篇文章（《ADC 吞吐時間：SAR轉(zhuǎn)換器 與 △-∑ 轉(zhuǎn)換器的比較》）中，我們比較了這兩種系統(tǒng)的吞吐時

STM8S_005_ADC采集單通道電壓

Ⅰ、寫在前面和前面51系列的芯片相比，STM8S芯片的優(yōu)勢之一在于外設(shè)資源要豐富且功能要強大的多。因此，本文講述STM8S的一項比較實用的功能：ADC采集電壓。在物聯(lián)網(wǎng)的產(chǎn)品中，大多數(shù)傳感器都使用了模數(shù)轉(zhuǎn)換（ADC）這