中心議題: 設(shè)計PCB時防范ESD的多種手段 解決方案: 盡可能使用多層PCB 確保每一個電路盡可能緊湊 盡可能將所有連接器都放在一邊來自人體、環(huán)境甚至電子設(shè)備內(nèi)部的靜電對于
日前,Littelfuse 宣布推出小型四通道雙向SP1015系列瞬態(tài)抑制二極管陣列(SPA®二極管),旨在為可能遭受破壞性靜電放電(ESD)的數(shù)據(jù)線提供保護(hù)。 該系列功能強(qiáng)大的二極管
日前,全球領(lǐng)先的電子元器件制造商村田制作所(以下簡稱村田)推出了其最新研發(fā)的陶瓷ESD防護(hù)器件。該產(chǎn)品在性能上比上一代產(chǎn)品提高了20%,大大減少了靜電帶來的損害。 村田的
電容式觸摸感應(yīng)檢測按鍵電路是一類對靜電特別敏感的電路,因此靜電放電(ESD)保護(hù)結(jié)構(gòu)的選擇問題對這一類電路顯得特別重要。一方面要確保所選擇的ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)有足夠的抗靜電能力,另一方面這種ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)又不能使芯
器件通過AEC-Q200認(rèn)證,其分壓比公差低至±0.05%,長期分壓比穩(wěn)定率為0.015 %,采用小尺寸8-Pin SOIC封裝21ic訊 日前,Vishay Intertechnology, Inc.宣布,推出通過AEC-Q200認(rèn)證的新系列高精度雙列直插式薄膜電
器件采用小尺寸CLP0603封裝,高度0.27mm,典型電容低至0.29pF日前,Vishay Intertechnology, Inc.宣布,發(fā)布新的雙向?qū)ΨQ(BiSy)單線ESD保護(hù)二極管---VBUS05B1-SD0,其采用
包括微軟(Microsoft)、英特爾(Intel)、蘋果(Apple)紛將2015年新款PC介面全面升級至USB 3.1規(guī)格,Wintel陣營2015年新款PC產(chǎn)品亦將全面采用USB 3.1介面設(shè)計,國外芯片大廠透
相比類似硅解決方案,0.3Ω動態(tài)電阻可將箝位電壓至少降低23%21ic電源網(wǎng)訊 Littelfuse公司是全球電路保護(hù)領(lǐng)域的領(lǐng)先企業(yè),日前宣布推出SP1255P系列低電容ESD保護(hù)瞬態(tài)抑
21ic訊 日前,Vishay Intertechnology, Inc.(NYSE 股市代號:VSH)宣布,推出新的雙向和對稱(BiAs)單線ESD保護(hù)二極管---VESD15A1-HD1-G4-08。該二極管具有超過15.5V的反向雪崩擊穿電壓和低正向電壓,采用超小的LLP10
EOS英文全稱 Electrical Over Stress,是對所有的過度電性應(yīng)力的總稱。當(dāng)EOS超過其最大指定極限后,器件功能會減弱或損壞,同時EOS也是公認(rèn)的IC器件的頭號殺手。由于它可能發(fā)生在產(chǎn)品的研發(fā)、測試乃至生產(chǎn)、存儲、
高清電視及顯示器的發(fā)展加速提高了信號傳輸速率,除此之外,USB 2.0以及USB 3.0等高速串行協(xié)議的應(yīng)用也使信號速率在不斷提高。隨著信號速率的提高,以前傳統(tǒng)的ESD保護(hù)技術(shù)已
美國加利福尼亞州門洛帕克——2012年2月14日—— TE Connectivity旗下的一個業(yè)務(wù)部門TE電路保護(hù)部日前發(fā)布一個系列8款全新的單/多通道硅靜電放電(SES
一種新的轉(zhuǎn)換器接口的使用率正在穩(wěn)步上升,并且有望成為未來轉(zhuǎn)換器的協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)。這種新接口——JESD204——誕生于幾年前,其作為轉(zhuǎn)換器接口經(jīng)過幾次版本更新后越來越受矚目,效率也更高。隨著轉(zhuǎn)
將NFC與移動電話整合在一起,提供消費(fèi)者以近距離感測方式進(jìn)行有價交易,是現(xiàn)在廣為討論與實(shí)現(xiàn)的功能。但在大家熱中于討論與實(shí)現(xiàn)NFC的各種整合與實(shí)現(xiàn)方式時,有一項(xiàng)不可
目前市面上已經(jīng)存在多種ESD保護(hù)器件,但最常用的可分成三大類:聚合體、壓敏電阻/抑制器和二極管。選擇合適的ESD保護(hù)器件,最大的難點(diǎn)在于如何最容易地明確哪種器件可以提供
電子發(fā)燒友網(wǎng) > EMC/EMI設(shè)計 > 正文設(shè)計PCB時防范ESD的方法來源:本站整理 作者:佚名2011年01月09日 16:501分享訂閱[導(dǎo)讀] 中心議題: 設(shè)計PCB時防范ESD的多種手段 解決方
隨著便攜式和無線設(shè)備的日趨復(fù)雜化,此類設(shè)備越來越容易受到靜電放電(ESD)和電磁干擾(EMI)的影響。尤其在立體聲耳機(jī)、移動電話、便攜式多媒體播放器、PDA或筆記本電腦等電子
便攜式產(chǎn)品ESD的測量技術(shù)電子系統(tǒng)的靜電放電(ESD)魯棒性性能測試通常采用IEC 61000-4-2作為標(biāo)準(zhǔn)。這個標(biāo)準(zhǔn)定義了每個電壓等級下的沖擊電流波形、如何校準(zhǔn)ESD脈沖源、用于測
讓CMOS集成高壓功能,ESD是關(guān)口一個由英飛凌(Infineon Technologies)和印度孟買理工學(xué)院(Indian Institute of Technology, Bombay)組成的聯(lián)合研究小組,近日宣稱可將高電壓
來自人體、環(huán)境甚至電子設(shè)備內(nèi)部的靜電對于精密的半導(dǎo)體芯片會造成各種損傷,例如穿透元器件內(nèi)部薄的絕緣層;損毀MOSFET和CMOS元器件的柵極;CMOS器件中的觸發(fā)器鎖死;短路反偏