在這篇文章中，小編將對(duì)光纖光譜儀的相關(guān)內(nèi)容和情況加以介紹以幫助大家增進(jìn)對(duì)光纖光譜儀的了解程度，和小編一起來(lái)閱讀以下內(nèi)容吧。

一、光纖光譜儀結(jié)構(gòu)組成

光纖光譜儀包括以下幾個(gè)主要部分：

1.入射狹縫：將入射的光學(xué)信號(hào)構(gòu)建成一個(gè)明確的物像;

2.準(zhǔn)直部分：使光學(xué)信號(hào)的光線平行。該準(zhǔn)直器可以為透鏡、反射鏡、或色散元件的部分功能，如在凹面光柵光譜儀中的凹面光柵的部分功能;

3.色散部分：通常采用光柵，將平行光在空間上進(jìn)行色散;

4.聚焦部分：收集色散的光學(xué)信號(hào)，使得大部分入射狹縫的單色影像聚焦于焦平面;

5.陣列檢測(cè)器：放置于焦平面，從而檢測(cè)大部分單色影像的光強(qiáng)度。該檢測(cè)器可以是CCD陣列或其它的光檢測(cè)陣列。

二、光纖光譜儀特點(diǎn)

(1)光纖光譜儀是光纖技術(shù)的引入，使待測(cè)物脫離了樣品池的限制，采樣方式變得更為靈活，利用光纖探頭把遠(yuǎn)離光譜儀器的樣品光譜源引到光譜儀器，以適應(yīng)被測(cè)樣品的復(fù)雜形狀和位置。由光纖引入光信號(hào)還可使儀器內(nèi)部與外界環(huán)境隔絕，可增強(qiáng)對(duì)惡劣環(huán)境(潮濕氣候、強(qiáng)電場(chǎng)干擾、腐蝕性氣體)的抵抗能力，保證了光譜儀的長(zhǎng)期可靠運(yùn)行，延長(zhǎng)使用壽命。

(2)光纖光譜儀以電荷耦合器件(CCD)陣列作為檢測(cè)器，對(duì)光譜的掃描不必移動(dòng)光柵，可進(jìn)行瞬態(tài)采集，響應(yīng)速度極快(測(cè)量時(shí)間為13～15ms)，并通過(guò)計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)輸出。

(3)光纖光譜儀采用全息光柵作為分光器件，雜散光低，提高了測(cè)量精度。

(4)光纖光譜儀應(yīng)用計(jì)算機(jī)技術(shù)，極大地提高了光譜儀的智能化處理能力。

三、光纖光譜儀的使用

光纖光譜儀是光學(xué)儀器的主要構(gòu)成部分。由于其檢測(cè)精度高、速度快等優(yōu)點(diǎn)，已成為光譜測(cè)量學(xué)中使用的重要測(cè)量?jī)x器被廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、生物、化學(xué)、地質(zhì)、食品安全、色度計(jì)算、環(huán)境檢測(cè)、醫(yī)藥衛(wèi)生、LED檢測(cè)、半導(dǎo)體工業(yè)、石油化工等領(lǐng)域。

操作步驟如下：

1、開光譜儀電源

2、開計(jì)算機(jī)電源

3、在文件管理器中用鼠標(biāo)指按UVWinl ab圖標(biāo)，此時(shí)出現(xiàn)UVWinL ab的應(yīng)用窗口，儀器已準(zhǔn)備好，可選用適當(dāng)方法進(jìn)行分析操作。

使用方法：

1、掃描(SCAN)，用以進(jìn)行光譜掃描。

2、時(shí)間驅(qū)動(dòng)(TIMEDRIVER)，用以觀察一定時(shí)間內(nèi)某種特定波長(zhǎng)處縱坐標(biāo)值的變化。

3、波長(zhǎng)編程(WP)用以在多個(gè)波長(zhǎng)下測(cè)定樣品在一定時(shí)間內(nèi)的縱坐標(biāo)值變化，并可以計(jì)算這些縱坐標(biāo)值的差或比值。

4、濃度(CONC)用以建立標(biāo)準(zhǔn)曲線并測(cè)定濃度。

5、進(jìn)入所需方法，在方法窗口中選擇所需方法的文件名。

注意事項(xiàng)：

1、測(cè)試時(shí)應(yīng)佩戴相應(yīng)護(hù)目鏡，防止激光對(duì)眼睛造成傷害。

2、測(cè)試時(shí)應(yīng)在暗室中，避免外來(lái)光源對(duì)測(cè)試造成誤差。

3、測(cè)試時(shí)應(yīng)只讓少量激光射入光纖，避免大量激光射入損傷測(cè)試元件。

四、光纖光譜儀的用途

光纖光譜儀以其檢測(cè)精度高、速度快等優(yōu)點(diǎn)，已成為光譜測(cè)量學(xué)中使用的重要測(cè)量?jī)x器，被廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、生物、化學(xué)、地質(zhì)、食品安全、色度計(jì)算、環(huán)境檢測(cè)、醫(yī)藥衛(wèi)生、LED檢測(cè)、半導(dǎo)體工業(yè)、石油化工等領(lǐng)域。

光纖光譜儀應(yīng)用的詳細(xì)介紹：

1、發(fā)射光譜測(cè)量

發(fā)射光譜測(cè)量可以用不同的實(shí)驗(yàn)布局和波長(zhǎng)范圍來(lái)實(shí)現(xiàn)，還要用到余弦校正器或積分球。發(fā)射光譜測(cè)量可以在紫外/可見(jiàn)和可見(jiàn)/近紅外波長(zhǎng)范圍內(nèi)測(cè)量。

對(duì)于發(fā)射光譜的絕對(duì)測(cè)量，光譜儀可以配置成波長(zhǎng)范圍從200-400nm或350-1100nm，或組合起來(lái)實(shí)現(xiàn)紫外/可見(jiàn)200-1100nm，并可以在美國(guó)海洋光學(xué)公司的定標(biāo)實(shí)驗(yàn)室里進(jìn)行輻射定標(biāo)。定標(biāo)后的實(shí)驗(yàn)布局不能改變，如光纖和勻光器都不能更改。

2、LED測(cè)量

最簡(jiǎn)單而且迅速地測(cè)量LED的整個(gè)光通量的方法就是使用一個(gè)積分球，并把它連接到一個(gè)美國(guó)海洋光學(xué)公司的光譜儀上。該系統(tǒng)可以用鹵素?zé)暨M(jìn)行定標(biāo)(LS-1-CAL-INT)，然后用廣州標(biāo)旗軟件從測(cè)量到的光譜分布計(jì)算出相關(guān)參數(shù)，并實(shí)現(xiàn)輻射量的絕對(duì)測(cè)量。所測(cè)光源的光譜發(fā)光強(qiáng)度還可以用μW/cm2/nm來(lái)計(jì)算、顯示并存儲(chǔ)。另外的窗口還可以顯示大約10個(gè)參數(shù)：輻射量μW/cm2， μJ/cm2， μW或μJ;光通量lux或lumen，色軸X， Y， Z， x， y， z， u， v和色溫。

3、薄膜厚度測(cè)量

光學(xué)的膜厚測(cè)量系統(tǒng)基于白光干涉測(cè)量原理，可以測(cè)量的膜層厚度10nm-50μm，分辨率為1nm。薄膜測(cè)量在半導(dǎo)體晶片生長(zhǎng)過(guò)程中經(jīng)常被用到，因?yàn)榈入x子體刻蝕和淀積過(guò)程需要監(jiān)控;其它應(yīng)用如在金屬和玻璃材料基底上鍍透明光學(xué)膜層也需要測(cè)量膜層厚度。

以上所有內(nèi)容便是小編此次為大家?guī)?lái)的有關(guān)測(cè)試測(cè)量儀器光纖光譜儀的所有介紹，如果你想了解更多有關(guān)它的內(nèi)容，不妨在我們網(wǎng)站或者百度、google進(jìn)行探索哦。