隨著汽車安全性和娛樂性的要求不斷提高，車載網(wǎng)絡（IVN）的數(shù)據(jù)速率要求也在不斷提高。高級駕駛輔助系統(tǒng)（ADAS）和駕駛艙信息娛樂系統(tǒng)等系統(tǒng)變得越來越快，越來越復雜。制造商正在轉(zhuǎn)向車載網(wǎng)絡的研究，用以支持ADAS和駕駛艙信息娛樂系統(tǒng)中設備的數(shù)據(jù)速率傳輸。為了保障汽車以太網(wǎng)環(huán)境下，設備能夠正常運行，發(fā)射端、接收端和電纜/連接器組件等部件必須通過一系列一致性測試。

MDI模式轉(zhuǎn)換損耗測量可確保ECU到ECU的通信產(chǎn)生的EMI/EMC符合一致性。

IEEE P802.3bw D3.3和IEEE P802.3bp標準確定了幾種一致性測試，以確保設備的互操作性。介質(zhì)相關接口（MDI）模式轉(zhuǎn)換損耗是一項重要測試。共模電壓到差模電壓，或者差模電壓到共模電壓的轉(zhuǎn)換，會產(chǎn)生不想要的信號，轉(zhuǎn)換規(guī)范目的就是限制無用信號的能量。MDI轉(zhuǎn)換損耗測試用于評估MDI的損耗，以確認在規(guī)范規(guī)定的特定頻率范圍內(nèi)，反射功率能維持在設定限定值以下。MDI模式轉(zhuǎn)換損耗測試通常使用矢量網(wǎng)絡分析儀（VNA）的端口1和端口2進行測試。

技術洞察

規(guī)范要求的100BASE-T1/1000BASE-T1設備理想情況下，具有100Ω的差分特性阻抗；但是，MDI輸出的正負極性不匹配會導致模式轉(zhuǎn)換。

在有線信號中，差模和共模之間的轉(zhuǎn)換會降低傳輸信號的質(zhì)量，并導致環(huán)境中的電磁兼容問題。因此，要求傳輸線組件必須測試其轉(zhuǎn)換損耗特性，如縱向轉(zhuǎn)換損耗（LCL）、橫向轉(zhuǎn)換損耗（TCL）和混合模式S參數(shù)。

100BASE-T1MD鏈路段的共模和差模轉(zhuǎn)換TCLT和TCTL（定義在S參數(shù)：Sdc11、Sdc22、Sdc21和Sdc12中）應滿足或超過以下公式中從1MHz到200MHz的所有頻率要求。

100BASE-T1一致性測試區(qū)域：1000BASE-T1鏈路段的縱向轉(zhuǎn)換損耗（LCL）和橫向轉(zhuǎn)換損耗（TCL）模式轉(zhuǎn)換，在MDI處測量的PHY，LCL（Sdc11）or TCL（Scd11）應滿足在10MHz到600MHz范圍內(nèi)的所有頻率都可以滿足以下公式：

模式規(guī)范適用于：

● 使用S參數(shù)SDC11/SDC22描述縱向轉(zhuǎn)換損耗（LCL）以及共模到差模的回波損耗20*log10（abs 0.5*(S11+S12-S21-S22)）

● 使用S參數(shù)SCD11/SCD22描述橫向轉(zhuǎn)換損耗（TCL）以及差模至共模回波損耗

● 使用S參數(shù)SDC12/SDC21描述縱向回波損耗（LCTL）以及共模到差模插入損耗

● 使用S參數(shù)描述SCD12/SCD21的橫向轉(zhuǎn)換損耗（TCTL）以及差模至共模插入損耗

推薦測試設置

MDI模式轉(zhuǎn)換損耗測量通常使用矢量網(wǎng)絡分析儀（VNA）執(zhí)行。根據(jù)VNA的設計，可能只有一個輸入端口，如果是這種情況，則需要使用巴倫將DUT的差分傳輸轉(zhuǎn)換為VNA的單端輸入。但是，如果VNA有兩個或更多輸入端口，則不需要巴倫。

使用VNA時，必須在多端口網(wǎng)絡分析儀上進行MDI模式轉(zhuǎn)換損耗測量。測量模式轉(zhuǎn)換損耗時，測試裝置中布線和測試夾具的阻抗匹配至關重要。除了使用的測試夾具外，尤其建議在測試設置下放置一個參考接地，并牢固地連接到測試夾具以實現(xiàn)充分接地。將DUT的MDI 和測試設備連接起來的夾具都應具有足夠的模式轉(zhuǎn)換損耗裕度，以滿足MDI的要求。

在VNA中，設置測試的起始和終止頻率。根據(jù)Open Alliance規(guī)范，必須根據(jù)汽車以太網(wǎng)比特率選擇合適的頻率范圍。

MDI模式轉(zhuǎn)換損耗測試報告集成指南

適用于100 Base-T1/1000 Base-T1的TekExpress汽車解決方案，提供了將MDI模式轉(zhuǎn)換損耗（MCL）的外部結(jié)果集成到TekExpress報告中的選項。該解決方案提供了一個選項，可以選擇特定的S2P文件格式（具有Sdc11(Re/Im)）進行瀏覽。

該解決方案讀取Sdc11實部和虛部，將其轉(zhuǎn)換為dBm單位，并根據(jù)一致性測試指標范圍進行繪圖。MDI模式轉(zhuǎn)換損耗測試S2P文件格式如下：

Sdc11位于第2位，其Re/Im分別位于第4列和第5列。典型值如下所示：

配置MDI MCL測試100 Base-T1 or 1000Base-T1測試：

● 進入“DUT Panel”選擇套件

● 進入的“Test Panel”并選擇測試

● 點擊MDI模式會話S2p“瀏覽”選項

● 點擊運行

● 生成報告，并顯示全部細節(jié)

100BASE-T1 MDI模式轉(zhuǎn)換損耗（MCL）測試限定值

下面的圖表顯示了IEEE 100BASE-T1/1000BASE-T一致性測試的限定值：

備注：IEEE P802.3bw/D3規(guī)范定義了這些限定值。

1000BASE-T1MDI模式轉(zhuǎn)換損耗（MCL）測試限定值

此限定值來自IEEE Std 802.3bp-2016。

使用Matnet測試夾具的不同端口的MDI模式轉(zhuǎn)換損耗的仿真數(shù)據(jù)。

▲MDI模式轉(zhuǎn)換TekExpress圖表

總結(jié)

MDI模式轉(zhuǎn)換測試使用外部VNA（矢量網(wǎng)絡分析儀）執(zhí)行。該測量將有助于檢查ECU到ECU（電子控制單元）的共模EMI/EMC一致性性。對于用戶來說，提供單個一致性性報告始終是一個挑戰(zhàn)。但是，針對100/1000 Base-T1的測試，泰克汽車一致性性解決方案提供了一個選項，可以將MDI模式轉(zhuǎn)換損耗（MCL）的外部結(jié)果整合到泰克TekExpress報告中。

關于泰克科技

泰克公司總部位于美國俄勒岡州畢佛頓市，致力提供創(chuàng)新、精確、操作簡便的測試、測量和監(jiān)測解決方案，解決各種問題，釋放洞察力，推動創(chuàng)新能力。70多年來，泰克一直走在數(shù)字時代前沿。歡迎加入我們的創(chuàng)新之旅，敬請登錄：tek.com.cn