圖3.23所示的電路,是一個16進(jìn)制的反相器,用于產(chǎn)生30~160NS的延遲。每一級的延遲時間是5~35NS,具體數(shù)值由可變電阻的值決定。每一級的延遲時間不應(yīng)該超過時鐘周期的12%,以保重穩(wěn)定工作。通過調(diào)整延遲級數(shù)(2或4)并
圖3.24給出了CADILLAC時鐘相位調(diào)整電路的框圖。對于大規(guī)模生產(chǎn)測試,可能值得構(gòu)造這樣的電路。對于普通的實(shí)驗(yàn)測試,則太麻煩了。電路將總線時鐘進(jìn)行N分頻,然后通過一個-頻率比較器把它與一個同樣經(jīng)過N分頻的本地振蕩
圖3.29是一個簡化的數(shù)字觸發(fā)器原理圖。在這個例子中,為放大器提供了對稱的正、負(fù)電壓。正反饋電路把電容C上的任何正電壓驅(qū)動到電源正電壓,或者把電容C上的任何負(fù)電壓驅(qū)動到電源負(fù)電壓。當(dāng)用時鐘驅(qū)動時,電路會穩(wěn)定
如圖3.30所示,采用ACTEL ACT-1門陣列實(shí)現(xiàn)的電路,當(dāng)輸入電壓變化時,其輸出產(chǎn)生脈沖的概率有多大?簡單應(yīng)用同步邏輯理論,它永遠(yuǎn)也不會發(fā)生。但現(xiàn)在我們會更好地理解這個問題了。首先檢查最壞情況下建立時間:TPD=9
對于每個電氣參數(shù),必須考慮其數(shù)值有效時的頻率范圍。傳輸線的串聯(lián)電阻也不例外。與其他參數(shù)一樣,它也是頻率的函數(shù)。圖4.10畫出了RG-58/U和等效串聯(lián)電阻與頻率的函數(shù)曲線。圖中采用對數(shù)坐標(biāo)軸。圖4.10以相同的坐標(biāo)軸
圖1為電感三點(diǎn)式LC振蕩電路。電感線圈L1和L2是一個線圈,2點(diǎn)是中間抽頭。如果設(shè)某個瞬間集電極電流減小,線圈上的瞬時極性如圖所所,反饋到發(fā)射發(fā)的極性對地為正,圖中三極管是共基極接法,所以使發(fā)射結(jié)的凈輸入減小
鄰近效應(yīng)是一種物理現(xiàn)象,會使相鄰導(dǎo)線中的反方向電流產(chǎn)生相互吸引(見圖4.16)。鄰近效應(yīng)是由磁場的變化引起的,因此它僅干擾高頻電流的流動。靜態(tài)磁場的恒定電流不會對鄰近效應(yīng)做出響應(yīng)。鄰近效應(yīng)明顯不同于安培發(fā)
圖4.22說明了一條長線中間掛了一個電容的情形。一個從左邊進(jìn)入的信號遇到電容后一分為二,一部分信號后向射,另一部分經(jīng)過電容繼續(xù)向前傳播。這個問題棘手的方面在于反射系數(shù)是頻率的一個函數(shù)。我們將分別來估算反射
圖4.23中的情形,經(jīng)常出現(xiàn)在大的總線結(jié)構(gòu)中,尤其是在包含大的單排存儲模塊囝列的存儲卡上。容性負(fù)載的值相等而且間隔均勻地排列。如果上升沿的長度超過了負(fù)載間的距離,則可以推導(dǎo)出這個電路特性的一個簡化的近似表
圖1所示的三運(yùn)放儀表放大器看似為一種簡單的結(jié)構(gòu),因?yàn)樗褂靡呀?jīng)存在了幾十年的基本運(yùn)算放大器(op amp)來獲得差動輸入信號。運(yùn)算放大器的輸入失調(diào)電壓誤差不難理解。運(yùn)算放大器開環(huán)增益的定義沒有改變。運(yùn)算放大器共
在低速電路中,電流沿著最小電阻路徑前進(jìn)。參考圖5.1,低速電流從A傳輸?shù)紹,然后沿著地平面返回到驅(qū)動器。返回電流從展開的弧線路徑回到驅(qū)動器,每條弧線上的電流密度與該路徑上的電導(dǎo)相對應(yīng)。在高速電路中,對于一個
兩個導(dǎo)體之間的串?dāng)_取決于它們之間的互感和互容。通常在數(shù)字設(shè)計(jì)中,感性串?dāng)_相當(dāng)于或大于容性串?dāng)_,因此在這里開始我們主要討論感性耦合的機(jī)制。關(guān)于集總電路中互感耦合的理論大家可以參考相關(guān)文獻(xiàn)。假定返回信號電
直接將原理圖復(fù)制后粘貼到Word中時,會出現(xiàn)兩種情況 1. protel整張頁面都復(fù)制過來了,且電路圖有可能很小?! ?. 背景的顏色也被復(fù)制過來了,protel中默認(rèn)背景顏色為灰色,復(fù)制到Word中很不好看?! “凑找韵?/p>
芯片驗(yàn)證的工作量約占整個芯片研發(fā)的70%,已然成為縮短芯片上市時間的瓶頸。應(yīng)用OVM方法學(xué)搭建SoC設(shè)計(jì)中的DMA IP驗(yàn)證平臺,可有效提高驗(yàn)證效率?! ‰S著集成電路設(shè)計(jì)向超大規(guī)模發(fā)展,芯片驗(yàn)證工作的難度在不斷增大
關(guān)鍵詞:音頻、放大器、amp、運(yùn)算放大器、雙功放、軟限幅、TPA3110D2、TLV320AIC325x、PCM514x、模擬、信號鏈、半導(dǎo)體、德州儀器、TI與揚(yáng)聲器和放大器打交道的許多工程師都會告訴您同樣一件事情。如果過度操作放大器