因為C1的微調(diào)很困難,所以允許A2的正反饋略有變化,以此進行振蕩頻率的校驗。,但鋸齒波的振幅會稍有變化。
由于延長了積分電路的時間常數(shù),可以把微弱電流穩(wěn)定地轉(zhuǎn)換成頻率,這時頻率下降,測量時間加長。
照片A示出輸入端串接1M電阻,輸入+10.00V(IIN=10UA)電壓時的波形,上側(cè)為積分器A1輸出的波形,上升邊因被E4(5.1K)積分,時間約為6US,波形的下降邊線性很好,這是使用了積分器的結(jié)果。下側(cè)是電路輸出端的波形,幅度為+5.6V。
元件的選擇
OP放大器A1的輸入偏流1E、失調(diào)電壓及漂移越小,可轉(zhuǎn)換的電流也越小,所以電路選用了FET輸入OP放大器測試辦法:讓輸入端開路一段時間,以這時的電壓為基準(zhǔn)電壓,測量在規(guī)定時間內(nèi)電壓的變化量,求出IB或漏電電流,假如在60秒鐘內(nèi)有1V變化,根據(jù)I=C1*(△EO/△L)公式,可以求出電流I=800*10的負12次方(1/60)≈13PA。
被逆偏置的漏電流如不比輸入電流小得多就會產(chǎn)生誤差,所以TT1不能用普通硅二極管??捎玫吐┒O管或象本電路所用J-FET。
調(diào)整
沒有電流源時,可在輸入端串聯(lián)大電阻,把電壓轉(zhuǎn)換成電流(IIM=F-IN/R)輸入,用VR1調(diào)節(jié)全量程頻率,如果振蕩頻率大于1KHZ/FS,線性就會變壞。再讓輸入開路,檢查A1輸出的積分值是否改變。
穩(wěn)壓二極管是利用其反向擊穿時電流會急劇升高的特性進行穩(wěn)壓,表現(xiàn)出此時的動態(tài)電阻 Rz,也就是增加的 電壓除以增加的電流 ,所得到的比值比較小,這樣就會使得外部電壓的波動對穩(wěn)壓二極管兩端電壓影響較小。
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