摘 要： 針對NAND Flash應(yīng)用，完成了并行化BCH編譯碼器硬件設(shè)計。采用寄存器傳輸級硬件描述語言，利用LFSR電路、計算伴隨式、求解關(guān)鍵方程、Chien搜索算法等技術(shù)方法完成了BCH編譯碼算法在FPGA上的硬件實現(xiàn)。相比于傳統(tǒng)串行實現(xiàn)方案，采用并行化實現(xiàn)提高了編譯碼器的速度。搭建了基于SoPC技術(shù)的嵌入式驗證平臺，在Nios處理器的控制下能快速高效地完成對BCH編譯碼算法的驗證，具有測試環(huán)境可配置、測試向量覆蓋率高、測試流程智能化的特點。
關(guān)鍵詞： 并行化；BCH；FPGA；優(yōu)化；SoPC

隨著科技進步和信息化的快速發(fā)展，如何在海量數(shù)據(jù)存儲中確保數(shù)據(jù)不出錯成為眾人關(guān)心的問題。作為廣泛應(yīng)用于U盤、固態(tài)硬盤等電子產(chǎn)品的一種非易失性存儲介，NAND Flash 由于其結(jié)構(gòu)的特殊性，在進行擦寫操作時易產(chǎn)生錯誤，故需要引入錯誤校驗機制。早期使用SLC工藝的NAND Flash通常采用漢明碼（ECC）校驗，但是無法糾正1 bit以上的錯誤?，F(xiàn)今的MLC工藝多采用BCH糾錯，但每頁產(chǎn)生的錯誤往往超過2 bit，甚至達到4 bit。國內(nèi)外對BCH糾錯的研究已展開，參考文獻[1-2]采用串行結(jié)構(gòu)完成譯碼器設(shè)計，實現(xiàn)簡單，但最大時鐘頻率小、速度慢，無法滿足高速的需要。參考文獻[3-4]中提出并行化結(jié)構(gòu)，提高了設(shè)計速度和數(shù)據(jù)吞吐量，但電路實現(xiàn)討論不充分。參考文獻[5]中通過ASIC制備芯片并進行測試驗證，但此方法周期長、費用高。
針對以上問題，本文基于Altera公司的CycloneII EP2C35系列FPGA完成了并行化BCH(8184，7976，16)碼編譯器設(shè)計，并利用SoPC Builder搭建了驗證平臺，在Nios II處理器的控制下能高效地完成BCH編譯碼算法的驗證，具有測試環(huán)境可配置、測試向量覆蓋率高、測試流程智能化的特點。
1 BCH編譯碼FPGA設(shè)計
結(jié)合實際使用NAND Flash的情況， 16 bit糾錯是NAND Flash使用的趨勢。本設(shè)計采用并行化結(jié)構(gòu)實現(xiàn)16 bit BCH碼算法。
1.1 并行BCH編碼器的設(shè)計
BCH編碼器通過除法電路得到余數(shù)作為系統(tǒng)碼的校驗位，實現(xiàn)公式為：




2 基于SoPC技術(shù)的驗證系統(tǒng)
搭建了基于SoPC技術(shù)的嵌入式驗證平臺， NiosⅡProcessor通過AVALON總線以AVALON—SLERVER協(xié)議與RAM_CONTROLLER以及BCH_IP外設(shè)進行通信，控制編譯碼模塊工作，如圖4所示。其中data_cnt為傳輸碼元數(shù),eob信號為傳輸碼元結(jié)束信號，sob為開始傳輸原碼信號，data信號為傳輸原碼數(shù)據(jù)。