1 基本原理

串行數(shù)據的差錯檢驗是保證數(shù)據正確的必要手段，通常采用奇遇校驗法和循環(huán)冗余校驗法。這兩種方法都是通過冗余數(shù)據來提供必要信息。奇偶校驗法適用于以字節(jié)為單位數(shù)據傳輸。例如用偶校驗傳送1個ASCII字符時，要附加1個校驗位，從而使全部9位中“1”的個數(shù)為偶數(shù)。奇偶校驗簡單易行，但當數(shù)據崩潰或出現(xiàn)多位錯誤時，往往不能檢驗出來，因而可靠性不高。

循環(huán)冗余碼校驗法利用了循環(huán)和反饋機制，校驗碼由輸入數(shù)據與歷史數(shù)據經過較為復雜的運算而得到。因此，冗余碼包含了更為豐富的數(shù)據間的信息，可靠性更高。校好的循環(huán)冗余碼可校驗出以下錯誤：①全部數(shù)據位任意奇數(shù)個位出錯；②全部數(shù)據位中任意連續(xù)2位出錯；③處于一個8位時間窗內的任1～8位數(shù)據出錯。

使用循環(huán)冗余碼校驗方法通信時，發(fā)送方先計算待發(fā)數(shù)據的校驗碼，然后將數(shù)據與校驗碼起發(fā)出；接收方接收數(shù)據的同時進行循環(huán)冗余碼的計算，并將計算結果與來自發(fā)送方的校驗碼相比較，如不相同表示傳輸過程中出現(xiàn)了錯誤，接收方必須通知發(fā)送方再次發(fā)送該組數(shù)據。

假設要傳輸64位數(shù)據（最后8位是校驗碼），并使用多項式x8+x5+x4+1來產生8位循環(huán)冗余校驗碼（以下簡稱CRC碼）。其邏輯結構可用異或門和移位寄存器表示，如圖1所示。寄存器的值即為輸入數(shù)據的CRC碼。首先來輸入數(shù)據與最低位的異或值，如為“0”，只需將當前CRC碼邏輯右移1位（首位補零），即可得到新CRC碼；如為“1”，則將當前CRC碼與18H異或，再循環(huán)右移1位即可。該校驗碼有以下特點：①當輸入的8位數(shù)據（低位在前）與當前 CRC碼相同時，輸出的CRC碼將是零。因此，當包含8位CRC碼的全部64位數(shù)據輸入后，輸出的CRC碼應為零。②只要有非零位即可判決傳輸錯誤，而必復雜的校驗技術。

2 用匯編語言產生循環(huán)冗長余校驗碼

在8051單片機上，由以下代碼可得8位CRC碼（存于變量CRC中），8位輸入數(shù)據暫存于ACC中。
DO_CRC：PUSH ACC ；保存輸入數(shù)據
PUSH B ；保存B寄存器
PUSH ACC ；再次保存
MOV B，#8 ；共有8位數(shù)據
CRC_LOOP：XRL A，CRC
RRC A ；將最低位與輸入數(shù)據的異或值放入進位標志中
MOV A，CRC
JNC ZERO
XRL A，#18H；當前CRC碼與18H異或
ZERO： RRC A ；右移1位
MOV CRC，A ；保存新CRC碼
POP ACC
RR A ；取出輸入數(shù)據的第2位
PUSH ACC
DJNZ B,CRC_LOOP ;循環(huán)
POP ACC
POP B
POP ACC ；恢復各寄存器
RET

上述程序對每一位輸入數(shù)據都要執(zhí)行一系列操作，運算量很大，但內存占用少，適合于內存緊張的情況。當內存充裕時，可以使用效率更高的查表法。

3 用查表法求CRC碼

將輸入數(shù)據按字節(jié)分開，每字節(jié)值在0～255之間。令當前CRC碼為00H，當分別輸入0～255時，得到256個CRC碼。將它們順序排列就構成了循環(huán)冗余校驗碼表。用當前CRC碼與輸入字節(jié)異或后的值作為下標，查表即可求出新CRC碼。下例中，crc存放CRC碼，ACC存放輸入字節(jié)， crc_table為循環(huán)冗余校驗表的入口地址。代碼如下：
XRL A，crc ;當前CRC碼與輸入數(shù)據異或
PUSH DPH
PUSH DPL ；保存數(shù)據指針
MOV DPTR #crc_table
MOVC A，@A+DPTR；查表
MOV crc,A
POP DPL
POP DPH ；恢復數(shù)據指針
RET
crc_table：
DB 00H,5EH,BCH,E2H,61H,3FH,DDH,83H
DB C2H,9CH,7EH,20H,A3H,FDH,1FH,41H
DB 9DH,C3H,21H,7FH,FCH,A2H,40H,1EH
……

4 循環(huán)冗余校驗碼的CPLD實現(xiàn)

用CPLD 作循環(huán)冗余校驗碼的硬件實現(xiàn)，其速度更快，性能更好，而且只占用極少的CPLD內的資源。本人用Xilinx公司的XCV9536芯片，基于以下VHDL 代碼，實現(xiàn)了8位CRC碼生成電路。代碼下VHDL代碼，實現(xiàn)了8位CRC碼生成電路。代碼中，s_in為輸入串行數(shù)據，q為輸出CRC碼，d_new為當前CRC碼。
Library IEEE;
use IEEE.std_logic_1164.all；
entity crc is
port(clk,s_in,reset:in STD_LOGIC,q:out STD_LOGIC_VECTOR (7 downto 0));
end crc;
architecture crc_arch of crc is
signal t1,t2,t3:std_logic;
signal d_new:std_logic_vector(7 downto 0);
begin
t1<=d_new(0)xor s_in; --t1為最低位與輸入異或值
t2<=d_new(4)xor '1';
t3<=d_new(3)xor'1';
process(clk,reset)
begin
if clk event and clk='1'then
if reset='1'then
d_new<=x"0"; --復位時，CRC碼置零
elsif t1='1'then
d_new<=t1&d_new(7 downto 5)&t2&t3&td_new(2 downto 1);--t1為"1"時的新CRC碼
elsif t1='0'then
d_new<=t1&d_new(7 downto 1); --t1為"0"時的新CRC碼
end if;
end if;
end process;
q<=d_new;--輸出CRC碼
end crc_arch;

5 總結

基于以上介紹的8位循環(huán)冗余校驗碼的軟件及硬件實現(xiàn)方法，可以設計各種類型的循環(huán)冗余校檢方法。由上述例程可以看出，循環(huán)冗余碼校驗是一種可靠性高、易于實現(xiàn)的校驗方法。