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[導(dǎo)讀]電解質(zhì)溫度是電解過程中的重要參數(shù),目前仍主要采用熱電偶測量。由于電解質(zhì)是強(qiáng)腐蝕介質(zhì),為避免與介質(zhì)接觸的腐蝕,雖然研制過一些帶特殊保護(hù)套的熱電偶,但由于測量誤差太大而未能在實(shí)踐中得到推廣應(yīng)用;基于最小二

電解質(zhì)溫度是電解過程中的重要參數(shù),目前仍主要采用熱電偶測量。由于電解質(zhì)是強(qiáng)腐蝕介質(zhì),為避免與介質(zhì)接觸的腐蝕,雖然研制過一些帶特殊保護(hù)套的熱電偶,但由于測量誤差太大而未能在實(shí)踐中得到推廣應(yīng)用;基于最小二乘法的動態(tài)測溫方法雖然取得了一定成果,但仍存在不能可靠收斂和溫度預(yù)報精度難以進(jìn)一步提高等問題。本文介紹基于熱電偶測溫響應(yīng)特性的基于時間常數(shù)算法,它具有可靠的收斂性和滿意的測量精度,用于腐蝕性介質(zhì)溫度的在線測量行之有效。

1 基于時間常數(shù)的動態(tài)測溫方法

動態(tài)測溫的基本思想是,通過熱電偶與高溫電解質(zhì)接觸時對所采集到的過渡過程某段時間內(nèi)的溫度信號,根據(jù)數(shù)學(xué)模型,利用計(jì)算機(jī)對有限的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,及時給出被測介質(zhì)溫度。

1.1熱電偶的響應(yīng)特性及其數(shù)學(xué)模型

常溫下的熱電偶突然插入高溫被測介質(zhì)的響應(yīng)過程如圖1所示。它近似于一階慣性環(huán)節(jié),響應(yīng)過程可以描述為:
θ=θ∝ ×[1-e-(t-t0)/τ]。   (1)

式中τ是熱電偶的慣性時間常數(shù),θ∝是穩(wěn)態(tài)溫度。

1.2 基于時間常數(shù)的方法              

在動態(tài)過程中假設(shè)第N次采集所得溫度值為θ(N),對應(yīng)該次采樣值計(jì)算得到的斜率為K(N),時間常數(shù)為τ(N),則從圖1和式(1)可知,電介質(zhì)的穩(wěn)態(tài)溫度為:             θ∝=θ(N)+ K(N)×τ(N)             (2)

式中         K(N)=dθ/dt=[θ∝× e-(tN-t0)/τ(N)]/τ(N)    (3)

由于響應(yīng)曲線時間常數(shù)未知,而且響應(yīng)曲線按一定周期采樣,信號在時間上是離散的,(3)式不能直接利用。因此斜率按以下給出的差分方法求?。?br />       K(N)=∑Cj×[θ(N+j)-θ(N-j)]/2  ( j=1,2 )     (4)

根據(jù)地系統(tǒng)特性要求,式中C1、C2?。篊1=0.2576,C2=0.3712。

時間常數(shù)與感溫材料構(gòu)造和幾何尺寸等有關(guān),雖然可由經(jīng)驗(yàn)公式或?qū)嶒?yàn)方法得到,但不具備實(shí)時性。為考慮實(shí)際使用過程中時間常數(shù)的改變,采用以下在線實(shí)時計(jì)算方法求取時間常數(shù)。

若忽略式(1)的響應(yīng)特性與熱電偶的實(shí)際特性之間的偏差。則可以認(rèn)為兩個連續(xù)采樣點(diǎn)對應(yīng)的時間常數(shù)滿足:τ(N)≈τ(N-1)≈τ

由(3)式可得:  K(N)/K(N-1)= e-tN/τ/e-tN-1/τ=e-NΔT/τ/ e-(N-1)ΔT/τ=e-ΔT/τ

兩邊取對數(shù)得:   τ=ΔT/In[K(N)/K(N-1)]     (5)

2 動態(tài)測溫裝置硬件

電解質(zhì)基于熱電偶的動態(tài)測溫裝置以ATMEL公司的AT90S8515單片機(jī)為處理器,配備A/D轉(zhuǎn)換接口、鍵盤、LCD顯示器和RS-232C通信口。 8515內(nèi)含8KB可在線下載的Flash、512BE2PROM和512BSRAM,不需外接存儲器,其硬件結(jié)構(gòu)框圖如圖2。為提高模數(shù)轉(zhuǎn)換精度,采用 AD公司12位模數(shù)轉(zhuǎn)換器AD7888對經(jīng)過放大、調(diào)理之后的K型熱電偶電壓信號進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換,AD7888具有8路模擬通道,125KSPS的采樣速率,轉(zhuǎn)換結(jié)果數(shù)據(jù)從可與SPI匹配的串行接口輸出。8515的SPI口(PB4、PB5、PB6、PB7)與AD7888串行口采用同步通信方式通信,獲取溫度采樣數(shù)據(jù),按上述基于時間常數(shù)的動態(tài)測溫算法進(jìn)行處理,被采集通道的最終穩(wěn)態(tài)溫度值送LCD顯示。

3提高測量精度的措施    

①為使熱電偶輸出盡可能接近理想特性,應(yīng)使熱電偶充分冷卻后再進(jìn)行下一次測量,相鄰兩次間的測量周期至少需保證5min以上。由于熱偶在低溫段與指數(shù)規(guī)律相差較大,因此當(dāng)溫度低于200℃(滿量程為1000℃),不進(jìn)行計(jì)算和預(yù)報;理想的測量預(yù)報段在300℃至850℃之間。

②為消除噪聲和模型誤差給時間常數(shù)計(jì)算帶來的影響,在對各點(diǎn)所求得的時間常數(shù)進(jìn)行平滑濾波后,再按式(6)對由(2)式得到的溫度進(jìn)行平滑濾波,直至滿足式(7)中設(shè)定的誤差極限ε為止。
               θ∝(N)=αθ∝(N-1)+(1-α)θ∝(N)     (6)
                θ∝(N)- θ∝(N-1) ≤ε             (7)

式(6)中,θ∝(N)是第N次采樣溫度值,θ∝(N)是第N次濾波輸出溫度值,α是濾波加權(quán)系數(shù),0<α<1。

③在高速采樣情況下,從式(5)可知斜率的微小誤差將引起時間常數(shù)較大的誤差,因此實(shí)際測量時需要連續(xù)計(jì)算各點(diǎn)斜率比,并對其進(jìn)行防脈沖干擾滑動濾波,以便得到一個穩(wěn)定的斜率比。

4 軟件編程

AVR單片機(jī)支持高級語言編程,為縮短開發(fā)時間,編程過程中采用了功能強(qiáng)、庫函數(shù)豐富的CodeVision C編譯器編制系統(tǒng)軟件。系統(tǒng)軟件由鍵盤處理、數(shù)據(jù)采集與處理計(jì)算、顯示、通信等子程序組成。數(shù)據(jù)采集處理子程序流程如圖3。             

 

5 實(shí)驗(yàn)結(jié)果

為驗(yàn)證測量方法的可行性,對保溫爐內(nèi)電解質(zhì)進(jìn)行了實(shí)際溫度測量,測量數(shù)據(jù)如表1。結(jié)果表明,在熱電偶初溫不過高的情況下,該裝置具有較好的重復(fù)性和滿意的測量精度,且測量時間短。

注:電解質(zhì):Na3AlF6-Al2F3-Al2O3,其中4%Al2O3,4%CaF2;K型熱電偶,直徑10㎜,時間常數(shù)約20s,一次平衡法測溫時間為120s。

參考文獻(xiàn)
[1]  喻學(xué)斌.  鋁電解槽控制模型研究.(博士論文)  長沙:中南大學(xué)1994
[2]  耿德根.  AVR高速嵌入式單片機(jī)原理及應(yīng)用[M].  北京航空航天大學(xué)出版社,2001.4
[3]  孫傳友.  測控電路及裝置[M]. 北京航空航天大學(xué)出版社,2002.5
 

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