對(duì)于最新的802.11ac標(biāo)準(zhǔn)，制造工程師們正面臨越來越大的復(fù)雜性，這反過來又促使他們對(duì)測試策略進(jìn)行不斷的創(chuàng)新，以滿足這些新近出現(xiàn)的要求。首先，也是最重要的一點(diǎn)是，在5GHz頻段內(nèi)以更高的帶寬和調(diào)制階數(shù)進(jìn)行設(shè)備測試就意味著為工廠購買新的設(shè)備。但是，采用當(dāng)今最新技術(shù)的設(shè)備還需要為傳統(tǒng)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)(802.11a/b/g/n)執(zhí)行后向兼容測試，這就使問題變得更為復(fù)雜。考慮到這種趨勢，工程師們在制定測試策略時(shí)會(huì)在他們的測試計(jì)劃中聰明地加入一些能幫助獲得特定測試覆蓋率的測試項(xiàng)目。本文對(duì)802.11ac設(shè)備的明智測試方法進(jìn)行了深入的探討，并借此對(duì)下列問題作出了答復(fù)：

“如果要求我對(duì)一個(gè)802.11ac設(shè)備進(jìn)行測試，以確保良好的產(chǎn)品質(zhì)量，有多少項(xiàng)目是真正需要在生產(chǎn)過程中進(jìn)行測試的?”

直接使用“低、中、高”方法

以前，我們通常采用“低、中、高”方法實(shí)施2.4GHz設(shè)備的驗(yàn)證。這意味著在受支持的頻率范圍內(nèi)對(duì)最低頻率、中間頻率和最高頻率(信道)進(jìn)行測試。這種直截了當(dāng)?shù)姆椒▽?duì)5GHz頻段似乎是切實(shí)可行的，但當(dāng)您考慮測試覆蓋率后，您的想法就會(huì)改變。參考圖 1后我們首先發(fā)現(xiàn)，5GHz頻段涵蓋的頻譜比小于100MHz帶寬的2.4GHz ISM頻段多得多。其次，支持在5GHz上運(yùn)行的芯片通常會(huì)在子頻帶上單獨(dú)運(yùn)行，使用的是單獨(dú)的驗(yàn)證信息。這種劃分子頻帶的做法是不同頻率范圍內(nèi)最大發(fā)送功率不同所引起的，另一個(gè)原因是，制作一組能支持完整5GHz頻帶的校準(zhǔn)參數(shù)會(huì)存在一定困難。顯然，“低、中、高”方法不能為這些子頻帶帶來足夠的測試覆蓋率。

圖1：2.4/5 GHz頻段的802.11頻譜總圖(包括 802.11ac)

如果暫時(shí)不考慮5GHz的要求，測試2.4GHz頻段的低、中、高頻率是不無道理的。在兩個(gè)極值點(diǎn)和中心點(diǎn)上進(jìn)行測試的方法能確保待測物在所有信道上都有相同的行為特征;事實(shí)上，這個(gè)過程也可通過一些簡單的后期處理手段來驗(yàn)證整個(gè)頻率范圍的平坦度。參照?qǐng)D2可以看出，錯(cuò)過缺陷而只看到兩個(gè)測試點(diǎn)的可能性是存在的，例如，在濾波器意外失配或滾降經(jīng)常發(fā)生的頻帶邊緣。這種缺陷發(fā)生情景正是我們建議在2.4GHz頻段內(nèi)采用三個(gè)測試點(diǎn)的潛在理由。此外，這個(gè)潛在的策略也是我們考慮5GHz頻段測試覆蓋率的基礎(chǔ)。

圖2：意外的濾波器響應(yīng)會(huì)錯(cuò)失缺陷點(diǎn)，造成只有兩個(gè)測試點(diǎn)的結(jié)果。

迂回方案：芯片校準(zhǔn)

測試覆蓋率考量方面一個(gè)有價(jià)值的見解是，芯片供應(yīng)商通常會(huì)為發(fā)射器和接收器提供一個(gè)固定的校準(zhǔn)表，在大多數(shù)情況下，該校準(zhǔn)表會(huì)通知設(shè)備如何在規(guī)定的功率限值范圍內(nèi)執(zhí)行操作。一般而言，該校準(zhǔn)表包括頻率范圍內(nèi)典型增益的信息以及發(fā)射器和接收器的功率信息。雖然存在這樣的表格，但制造過程中最好的做法是將這項(xiàng)基本的校準(zhǔn)操作看作測試覆蓋率的一部分。

最常見的校準(zhǔn)過程由兩個(gè)可追溯至功率測量值的步驟組成：

(1)校準(zhǔn)待測物的發(fā)射功率;

(2)將校準(zhǔn)信息傳送到接收器。

在這種頻率逐點(diǎn)測量方法中，功率校準(zhǔn)過程會(huì)在驗(yàn)證性能參數(shù)的同時(shí)將最終數(shù)據(jù)加入校準(zhǔn)表。

5GHz意味著不同的測試過程嗎?

5GHz頻段的測試覆蓋率遵循與2.4GHz相同的策略。由于在更高的頻率上運(yùn)行，5GHz頻帶的校準(zhǔn)更為重要，尤其是考慮到5GHz的頻率覆蓋區(qū)間(包括分解成子頻帶的頻段)比2.4GHz多得多。另一個(gè)考慮因素是，5GHz的頻帶選擇濾波器不與每個(gè)子頻帶對(duì)齊，而是與所有子頻帶的覆蓋頻率對(duì)齊。

此外，對(duì)5GHz而言，校準(zhǔn)也更復(fù)雜。將校準(zhǔn)范圍劃分成多個(gè)子頻帶的原因在于覆蓋整個(gè)5GHz頻帶的校準(zhǔn)過程很難實(shí)現(xiàn)，尤其是因?yàn)椴煌宇l帶通常具有不同的發(fā)射目標(biāo)功率。測試子頻帶內(nèi)一個(gè)單一頻率點(diǎn)(尤其是它與校準(zhǔn)過程的頻率相同時(shí))幾乎不會(huì)提供額外的信息。舉例來說，這種簡單方法不會(huì)檢測出頻帶邊緣的濾波器滾降，也不會(huì)檢測出子頻帶上的功率升降。

這些運(yùn)行和校準(zhǔn)特性是新的測試覆蓋率所必須應(yīng)對(duì)的主要差別。

5GHz驗(yàn)證

驗(yàn)證是確認(rèn)設(shè)備在其支持的頻率上能否正常運(yùn)行的過程。對(duì)5GHz頻段應(yīng)用2.4GHz的測試策略就會(huì)涉及到對(duì)5GHz頻段的每個(gè)子頻帶實(shí)施低頻、中頻和高頻驗(yàn)證。與校準(zhǔn)過程相似，驗(yàn)證過程也從發(fā)射功能的驗(yàn)證開始，然后是接收功能的驗(yàn)證。根據(jù)生產(chǎn)過程的優(yōu)先順序，比較明智的做法也許是在5GHz的整個(gè)頻段上進(jìn)行低頻、中頻和高頻的測試，但將測試放在每個(gè)子頻帶的某個(gè)頻率點(diǎn)上也許會(huì)更好些。后者能縮短測試時(shí)間，但不能檢測到許多制造缺陷，而只能發(fā)現(xiàn)總體性能的失效情況。

進(jìn)一步考察子頻帶上“低、中、高”方法的測試覆蓋率可以為我們找到完善測試計(jì)劃的機(jī)會(huì)。乍一看，獲取每個(gè)子頻帶上低、中、高頻率點(diǎn)數(shù)據(jù)的做法似乎有點(diǎn)過分?？疾?.4GHz頻段內(nèi)中間點(diǎn)的目的是為了檢測過濾器的失配，但5GHz頻段的子頻帶內(nèi)這種相同的中間點(diǎn)缺陷機(jī)制卻不存在。同樣，低頻和高頻點(diǎn)也不靠近子頻帶邊緣，這對(duì)驗(yàn)證操作而言是更為有趣的現(xiàn)象?？紤]到這個(gè)觀察結(jié)果后，我們發(fā)現(xiàn)測試覆蓋率可以通過測量每個(gè)子頻帶的兩個(gè)極值點(diǎn)的方法加以改善——尤其是用曲線定心方法(這種方法中，中間點(diǎn)通常被用于定心)對(duì)子頻帶進(jìn)行校準(zhǔn)的情況下。

正如這種測試覆蓋率的初步觀察所告訴我們，待測物特性和缺陷機(jī)制的綜合結(jié)果正在影響我們對(duì)測試項(xiàng)目的選擇過程。通過調(diào)整測試覆蓋率以適應(yīng)這些影響因素，制造工程師們將可以精準(zhǔn)地選擇測試項(xiàng)目，從而確保產(chǎn)品質(zhì)量。總體而言，發(fā)射和接收功能代表了我們所建議的測試覆蓋率的邏輯分類。同樣，測試覆蓋率將包括調(diào)制和吞吐量的邏輯分類。這樣，所有能充分驗(yàn)證設(shè)備運(yùn)行性能而同時(shí)又能篩查產(chǎn)品缺陷的測試項(xiàng)目的集合就成了最佳的測試覆蓋率。這個(gè)過程將被作為組織本文剩余內(nèi)容的基礎(chǔ)。

當(dāng)測試進(jìn)入接收特性階段時(shí)，目標(biāo)測試可以另外增加濾波器紋波和其他隨頻率變化的指標(biāo)。在這種方法中，我們應(yīng)將整個(gè)頻帶的邊緣頻率點(diǎn)和分布在該頻帶上的其他幾個(gè)頻率點(diǎn)包括在內(nèi)。建議每個(gè)子頻帶至少取一個(gè)測試頻率，但需注意，使用與發(fā)射測試過程中相同的頻率是沒有意義的?？傮w原則是避免在兩個(gè)幾乎相同的頻率點(diǎn)上測試接收器的性能;例如，子頻帶邊緣頻帶通常是相鄰的。這樣，明智地選擇頻率點(diǎn)就可以使我們在更短的測試時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷。

在何處測試?

綜上所述，2.4GHz頻段利用現(xiàn)有的測試覆蓋率。5GHz頻段需要在每個(gè)芯片子頻段支持的極值信道上進(jìn)行發(fā)射驗(yàn)證，這可以看作是5GHz的新測試項(xiàng)目。例如，發(fā)射機(jī)測試時(shí)三個(gè)子頻帶將需要至少六個(gè)頻率值(每個(gè)子頻帶的極值信道)，以確保每個(gè)子頻帶的平坦功率校準(zhǔn)以及頻帶邊緣的頻率性能。同樣，接收器也將因?yàn)樵谧罡吆洼^低頻帶頻率(頻帶邊緣)以及分布于頻帶上的其他幾個(gè)頻率的測量而受益。作為一種實(shí)用的折衷方法，我們也可以在每個(gè)子頻帶中只取一個(gè)頻率點(diǎn)(最小值)，即最終有3-5個(gè)頻率;這在大多數(shù)情況下已足夠。對(duì)于發(fā)射器和接收器功能的測試覆蓋率而言，這些測試項(xiàng)目可形成一個(gè)堅(jiān)實(shí)的頻率基礎(chǔ)。

上述所有陳述都自然而然地以下列假設(shè)為前提，即芯片已經(jīng)過仔細(xì)的特性分析，且我們可以根據(jù)這些分析數(shù)據(jù)選擇理想的頻率進(jìn)行測試。

測試什么?

接下來我們需考慮的問題是，在這么多可能的測試條件下，我們需要在每個(gè)所選頻率上驗(yàn)證什么項(xiàng)目。測試覆蓋率必須在現(xiàn)有2.4GHz測試計(jì)劃的基礎(chǔ)上不斷完善以滿足802.11ac的要求?，F(xiàn)有的測試基礎(chǔ)可能包括那些用于驗(yàn)證低、中、高頻率點(diǎn)上最大數(shù)據(jù)傳輸速率情況下功率、EVM和模板的測試項(xiàng)目。除DSSS調(diào)制信號(hào)之外，我們首要的任務(wù)是將OFDM調(diào)制信號(hào)增加到測試覆蓋范圍內(nèi)。制造工程師們通常會(huì)用相似的測試參數(shù)在相同的頻率上測試OFDM調(diào)制信號(hào)。在校準(zhǔn)過程中需要注意的是，由于在許多情況下DSSS和OFDM使用不同的校準(zhǔn)參數(shù)(一個(gè)參數(shù)在另一個(gè)參數(shù)基礎(chǔ)上偏移一個(gè)固定的量)，所以我們有必要對(duì)兩種方法的校準(zhǔn)量都進(jìn)行驗(yàn)證。幸運(yùn)的是，DSSS在5GHz頻段上不受支持，因此，此測試項(xiàng)目是沒有必要的。但從另一方面來看，其他許多發(fā)送帶寬和調(diào)制方式還是受支持的——尤其是在引入802.11ac標(biāo)準(zhǔn)后。

獲得最佳測試覆蓋率應(yīng)考慮待測物的條件

圖3：一個(gè)典型收發(fā)器的簡化示意圖。

如圖3所示，典型的收發(fā)器通常都包含一個(gè)發(fā)射裝置和一個(gè)接收裝置，這兩個(gè)裝置都會(huì)包含一個(gè)基帶部分和射頻部分。從測試的角度看，這種結(jié)構(gòu)對(duì)測試覆蓋率的考量是很重要的。

發(fā)射機(jī)測試考慮因素

在發(fā)射裝置中，調(diào)制信號(hào)以IQ信號(hào)形式在基帶上生成。信號(hào)一旦通過必要的抗混疊濾波器后，天線就會(huì)在上變頻和一些信號(hào)調(diào)理功能(即增益控制，頻段選擇濾波器)后將RF信號(hào)發(fā)射出去。發(fā)送鏈可能包括一個(gè)單一的芯片;更常見的情況下也可能包含一個(gè)收發(fā)芯片和一個(gè)前端模塊(FEM)。

下列有關(guān)發(fā)射的認(rèn)識(shí)對(duì)測試覆蓋率的考慮是很有價(jià)值的：

* 在基帶上，待測物有一個(gè)顯著的特點(diǎn)，即調(diào)制信號(hào)獨(dú)立于發(fā)射頻率。

* 在基帶上，載波數(shù)量的增加與其占用的、抗混疊濾波器作相應(yīng)調(diào)整的帶寬成正比。

* 在基帶和RF上，帶寬與基帶信號(hào)呈正比。

* 在RF上，正交(IQ)缺陷可以通過校正因子(在格式上通常是時(shí)間與頻率的相對(duì)關(guān)系)進(jìn)行補(bǔ)償。

* 在RF上，調(diào)制信號(hào)可簡化為給定帶寬上的RF功率。

* 在RF上，IQ失配和相位噪聲會(huì)以相同方式增加到信號(hào)上，且與頻率無關(guān)。

發(fā)射測試覆蓋率需驗(yàn)證待測物的運(yùn)行情況并發(fā)現(xiàn)缺陷，這應(yīng)作為測試的主要目標(biāo)。數(shù)量眾多的操作條件會(huì)使獲得測量結(jié)果的測試時(shí)間變得過長，因此，我們面臨的挑戰(zhàn)在于能否找到一種去除重疊條件的方法，以便將測試時(shí)間縮短到一個(gè)更容易管理的水平。這個(gè)去除重復(fù)條件的過程將需要使用上述這些有關(guān)發(fā)射器的認(rèn)識(shí)，這對(duì)測試覆蓋率的優(yōu)化也很有用。

一個(gè)明智的測試策略將考慮在不同的頻率上使用不同的調(diào)制方法以強(qiáng)調(diào)待測物的作用。這種策略與在不同頻率上重復(fù)使用相同數(shù)據(jù)傳輸速率的強(qiáng)制方法是一種鮮明的對(duì)比。此外，只要發(fā)射目標(biāo)功率保持不變，一個(gè)聰明的測試方法應(yīng)考慮按最嚴(yán)格的調(diào)制方式所對(duì)應(yīng)的EVM要求來測試不同調(diào)制方式的EVM值;例如：在11n標(biāo)準(zhǔn)中，一個(gè)6Mbps的OFDM信號(hào)應(yīng)按54Mbps的測試極限值或msc7進(jìn)行測試。

進(jìn)一步的測試優(yōu)化可通過改變數(shù)據(jù)包有效載荷的長度來實(shí)現(xiàn)。在這個(gè)測試場景中，改變較低數(shù)據(jù)傳輸速率上數(shù)據(jù)包的有效載荷長度以確保相同的持續(xù)時(shí)間(不是相同的有效載荷)是一個(gè)聰明的、測量穩(wěn)定時(shí)間的技巧。這種方法也可確保相同的熱條件，而這也可以幫助我們識(shí)別其他類型的缺陷。

另一個(gè)優(yōu)化測試覆蓋率的聰明技術(shù)是用不同帶寬的信號(hào)來測量給定頻率上的發(fā)射功率，以達(dá)到對(duì)同一功率進(jìn)行測量的目的。這種技術(shù)強(qiáng)調(diào)抗混疊濾波器的作用必須按特定的情況作相應(yīng)的變化。這里有一個(gè)假設(shè)條件，即發(fā)射機(jī)輸出特性是恒定的，與所占用的帶寬無關(guān)：窄帶的例子只是極值寬帶情況的一個(gè)子集。當(dāng)然，在完全相同的頻率上測試是有問題的，但信號(hào)的帶寬應(yīng)該會(huì)覆蓋所需的頻率(例如，40MHz的信號(hào)相對(duì)于相同頻率的20MHz的信號(hào)而言會(huì)被抵消掉10MHz)。

頻譜模板的測量在調(diào)制信號(hào)帶寬增加后會(huì)變得更加困難。這種困難是由總的發(fā)射功率被分散到多個(gè)載波(BW)后引起的，單個(gè)載波的信噪比會(huì)因此降低，從而使整體模板移動(dòng)到離底噪更近的位置。因此，在最高帶寬上，測試覆蓋率將使關(guān)鍵模板的測量項(xiàng)目增多。

通過使用這些聰明的技術(shù)，測試覆蓋率可在不增加測試項(xiàng)目數(shù)量的前提下得到提高。這樣，測試覆蓋率便能揭示發(fā)射機(jī)的基本性能。

接收機(jī)測試考慮因素

在射頻部分(參照?qǐng)D3)，天線會(huì)接收外來的 RF調(diào)制信號(hào)并對(duì)其進(jìn)行信號(hào)調(diào)節(jié)。在用正交結(jié)構(gòu)進(jìn)行向下轉(zhuǎn)換之后，基帶部分會(huì)對(duì)最終形成的 IQ 信號(hào)進(jìn)行分析。接收鏈可能包括一個(gè)單一的芯片，也可能(更常見的情況下)包含一個(gè)收發(fā)芯片和一個(gè)前端模塊(FEM)。

下列有關(guān)接收的認(rèn)識(shí)對(duì)測試覆蓋率的考慮是很有價(jià)值的：

* 在RF上，向下轉(zhuǎn)換器不作任何明顯的信道選擇，因此，所有的信號(hào)實(shí)際上將被以相同的機(jī)制向下轉(zhuǎn)換。

* 在RF上，唯一真正的影響來自接收機(jī)的噪聲系數(shù)，它將影響所有的信號(hào)(就像基帶前沒有噪音濾波一樣)。

* 在RF和基帶上，IQ失配和相位噪聲上的作用對(duì)最高階調(diào)制方式的影響最大，且用較低的數(shù)據(jù)傳輸速率來降低輸入功率也不能確保較高階的調(diào)制方式起作用。

* 在RF和基帶上，信道選擇濾波器所引起的群延遲問題對(duì)較高的數(shù)據(jù)傳輸速率影響最大。

* 在基帶上，載波數(shù)量的增加與占用的帶寬成正比。

* 在基帶上，信道選擇濾波器的作用會(huì)因所選標(biāo)準(zhǔn)的不同而不同，但信號(hào)處理過程不會(huì)知道RF頻率的情況。

* 在基帶上，降低數(shù)據(jù)傳輸速率不僅會(huì)降低所需的信噪比，而且還會(huì)使接收器對(duì)其他損傷變得更為耐受。

到目前為止，發(fā)射測試覆蓋率有九個(gè)頻率：2.4GHz三個(gè)，5GHz六個(gè)。如果使用相同的方法，接收機(jī)測試覆蓋率將包含七個(gè)頻率(2.4GHz三個(gè)，5GHz四個(gè))。

與發(fā)射路徑相反，驗(yàn)證運(yùn)行性能和提取性能指標(biāo)時(shí)，接收器的測試覆蓋率需要可變的數(shù)據(jù)傳輸速率。因此，在最高數(shù)據(jù)傳輸速率和最多三個(gè)帶寬上的測試項(xiàng)目對(duì)確保IQ失配和相位噪聲指標(biāo)沒有缺陷是有必要的。這種方法也可以驗(yàn)證信道選擇濾波器沒有造成其他損傷。

用5GHz的這個(gè)指導(dǎo)原則能很容易地從四個(gè)頻率中選出三個(gè)頻率。第一個(gè)頻率為最高數(shù)據(jù)傳輸速率上的最高頻率，這可確保它在最高相位噪聲下進(jìn)行測試。如果我們能假設(shè)IQ失配值在特定頻率上是可以接受的，那么，剩下的兩個(gè)頻率可用于功能測試(如果情況不是這樣，那么我們就需要測試所有的頻率了)。需再次指出的是，我們應(yīng)從各基本數(shù)據(jù)傳輸速率中選擇其中一個(gè)進(jìn)行測量(最好采用ACK速率);所以24M和1M應(yīng)該是其余四個(gè)頻率中的兩個(gè)，因?yàn)檫@對(duì)設(shè)備的基本運(yùn)行性能至關(guān)重要。最后兩個(gè)頻率可用于測試11n，測試時(shí)可分別采用傳統(tǒng)速率、Green field速率和其他不同的基本速率。如QPSK和BPSK。

通過使用這些聰明的技術(shù)，測試覆蓋率可在不增加測試項(xiàng)目數(shù)量的前提下得到提高。這樣，測試覆蓋率便能揭示接收器的基本性能。

數(shù)據(jù)傳輸速率的選擇

從上面的討論中我們可清楚地認(rèn)識(shí)到，避免在最高數(shù)據(jù)傳輸速率上測試所需頻率的這種傳統(tǒng)方法可以為我們帶來明顯的好處。換言之，明智地選擇多個(gè)數(shù)據(jù)傳輸速率和帶寬有助于測試更多模式的運(yùn)行性能，同時(shí)又能對(duì)待測物的性能指標(biāo)進(jìn)行驗(yàn)證。最后，我們將做到用最少的測試項(xiàng)目來獲得更大的測試覆蓋率。這里蘊(yùn)含著制造工程師們在思考新興的802.11ac設(shè)備的測試方法時(shí)的價(jià)值取向。

下面的建議與數(shù)據(jù)傳輸速率的選擇有關(guān)。

自然，我們應(yīng)該為每個(gè)帶寬測試最高階調(diào)制方式，所以，對(duì)802.11ac芯片而言，九個(gè)頻率中有三個(gè)是針對(duì)11ac的。我們應(yīng)在相位噪聲隨頻率增大時(shí)測試最高頻率上的MSC9，以真正測試EVM要求得以滿足條件下的最壞狀態(tài)。這是為了確保基帶抗混疊濾波器不會(huì)影響發(fā)射質(zhì)量。然而，另外兩個(gè)帶寬可能是較低的11ac速率。為了確保傳統(tǒng)運(yùn)行性能的正常，我們也應(yīng)測試后向兼容性模式，即 54M，MCS7和11M DSSS。我們可以很方便地測試40MHz上的MSC7。這意味著還剩下三組調(diào)制方式和頻率的組合。這些項(xiàng)目正好可用于測試下列三種標(biāo)準(zhǔn)的確認(rèn)(ACK)速率：通常為24Mbps，MSC4，和 1Mbps。請(qǐng)注意，這些測試項(xiàng)目可能會(huì)因不同的實(shí)施方案而不同。剩下的兩個(gè)11ac速率中，我們還應(yīng)測試ACK速率;最后，也許應(yīng)測試最低速率。當(dāng)然，上述調(diào)制方式中，11M和1M必須在2.4GHz上測試，而最后一個(gè)頻率可能是2.4GHz頻段內(nèi)最具挑戰(zhàn)性的速率，如最高頻率上的MSC7。

總結(jié)

正如上文所述，在現(xiàn)有2.4GHz頻段上加上5GHz的測試內(nèi)容可以為提高測試覆蓋率創(chuàng)造新的機(jī)會(huì)。5GHz確實(shí)增加了測試的工作量，但是，通過對(duì)測試覆蓋率的分析，我們發(fā)現(xiàn)增加的量并不是很多。此外，通過對(duì)基本測量項(xiàng)目的理解，測試數(shù)量的增加可使測試覆蓋率提高。對(duì)于發(fā)射機(jī)測試，我們可以選擇不同的調(diào)制方案，但仍維持現(xiàn)有的覆蓋率。對(duì)于接收測試，好處不是很顯著，但真正需要的測試點(diǎn)變少了，而且，相對(duì)于傳統(tǒng)方法中特定數(shù)量的測試項(xiàng)目上可測試的調(diào)制方式的數(shù)量而言，我們可測試的調(diào)制方式的數(shù)量還更多。