利用運算放大器輸入的比較特性設(shè)計，制作運算放大器測試儀能夠進行快速、準確地判測所測運放的好壞，在元器件選擇中十分有用。筆者在指導(dǎo)學(xué)生實訓(xùn)過程中。用此小儀器去挑選購買的運算放大器{包括部分拆機品}效果非常好。

電路原理

測試儀基本設(shè)計思路是將待測運算放大器(圖中IC1，IC2，IC3，IC4)接成比較器結(jié)構(gòu).當(dāng)V+ > V-時，Vout為正電源狀態(tài).接近Vcc，發(fā)光二極管Vd1發(fā)光。當(dāng)V+ < V-時，為負電源狀態(tài)，接近Vee，發(fā)光二極管Vd2亮。為此，用R1，R2設(shè)置V+=1/2(Vcc-Vee}=0[對E點電位]，R3、R4、Rp組成V-電壓偏置電路。向下調(diào)節(jié)Rp，可是V- < V+.Vdl發(fā)光;向上調(diào)節(jié)RP.可使V- > V+.Vd2發(fā)光。電阻R5、R6、C1、C2構(gòu)成電源分裂電路。將9V電源分成2*4.5V。使Ve=0v即Vdd=+4.5v，Vee=-4.5v.滿足運算放大器雙電源應(yīng)用的要求。

電路中R7-R14為輸入端串聯(lián)電阻，目的是當(dāng)測試多運算放大器時。其中某一運算放大器輸入端損壞后不影響其他運算放大器的測試，電路設(shè)計中用二個8腳，一個14腳DIP插座.從而滿足通用型單，雙，四運放的測試。測試儀原理見下圖。

運放測試儀的調(diào)試

測試儀有二個八腳一個十四腳集成電路DIP插座，結(jié)合發(fā)光二極管和電源構(gòu)成。插座1用于測量單運放，7腳接電源正.4腳接電源負，2腳輸入負.3腳輸入正6腳輸出。插座2測量雙運放，8腳為電源正，4腳為電源負，2，6腳輸入負。3，5腳輸入正.1，7腳為輸出。插座3測量四運放，4腳為電源正，11腳為電源負，2、6、9、13腳輸入負3、5、10、12腳輸入正1、7、8、14腳為輸出。電路圖中IC1、IC2、IC3是作為原理給于說明。實際上插座1，插座2，插座3的接線應(yīng)按以上進行連接，只要接線正確，幾乎不用調(diào)試。R5、R6應(yīng)盡可能相等.確保為虛地。R5、R6由于是電源裂變電阻又是發(fā)光二極管的限流電阻。可在200—510歐間選擇。阻值小，發(fā)光亮，耗電大。阻值大，發(fā)光弱，不易觀察。R1、R2、R3、R4應(yīng)盡可能相等.保證偏置為“地”。阻值在10k—100k中間選擇Rp為同數(shù)量級的線性電位器，在中間做一個刻度線，以便調(diào)節(jié)。(電路圖上所標電阻的數(shù)值僅供參考，制作時可根據(jù)手中已有的電阻去做選擇)VD1-VD8選擇異色發(fā)光二極管便于區(qū)分。測量前關(guān)掉電源，將插入待測集成電路，單運放，雙運放，四運放要分別插入對應(yīng)的插座中，注意管腳位置不能插反，然后閉合K調(diào)節(jié)Rp觀察，根據(jù)發(fā)光管狀態(tài)判其好壞，測試完后斷電，取下集成電路。注意不能帶電插拔集成電路，以免造成集成電路的損壞。

運放測試儀使用方法

將被測單運放(IC1)插入插座DIP1中，接通電源向下調(diào)節(jié)Rp，Vd1發(fā)光：向上調(diào)節(jié)Rp，Vd2發(fā)光，當(dāng)RP處在中間位置時。輸出為零，Vd1、Vd2發(fā)微光。在進行雙運放測試時，把被測雙運放(IC1.IC2)插入插座DIP2中，向下調(diào)節(jié)Rp，Vd1、Vd3亮。向上調(diào)節(jié)Rp，Vd2、Vd4發(fā)光;在對四運放(IC1，IC2，IC3，IC3)進行測試時。被測運放插入插座DIP3中，向下調(diào)節(jié)Rp。Vd1、Vd3、Vd5、Vd7發(fā)光;向上調(diào)節(jié)Rp.Vd2、Vd4、Vd6、Vd8發(fā)光。測試中不必去尋找中點，只要觀察發(fā)光管的變化狀態(tài)，就能判斷其比較特性的優(yōu)劣。對于多運放的測試。應(yīng)當(dāng)慢慢調(diào)節(jié)Rp.以便觀察發(fā)光二極管的發(fā)光亮度及亮滅時間差異來判斷其多運放的一致特性。如果在測試中調(diào)節(jié)RP時只有一種狀態(tài)，而不變化，說明該運放已失去比較特性而損壞，不能使用。

小結(jié)

筆者用此小儀器對單運放LM741.CA3140，CA3130，NE5534。雙運放LM358，MC1458，TL062.TL082.四運放LM324，TL084，LM747進行了測試。效果理想.特別是對拆機元件進行篩選，非常有用。