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[導(dǎo)讀]網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)的目的是消除測試的系統(tǒng)誤差。校準(zhǔn)的思路是通過對標(biāo)準(zhǔn)件的測試得到網(wǎng)絡(luò)分析儀系統(tǒng)誤差項的具體數(shù)值,然后通過計算對被測件測試結(jié)果進行修正處理,消除其中誤差成份,得到被測件真實值。在談進階篇之前,我們先來復(fù)習(xí)一下基礎(chǔ)知識。

網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)的目的是消除測試的系統(tǒng)誤差。校準(zhǔn)的思路是通過對標(biāo)準(zhǔn)件的測試得到網(wǎng)絡(luò)分析儀系統(tǒng)誤差項的具體數(shù)值,然后通過計算對被測件測試結(jié)果進行修正處理,消除其中誤差成份,得到被測件真實值。在談進階篇之前,我們先來復(fù)習(xí)一下基礎(chǔ)知識。

校準(zhǔn)過程就是通過測試標(biāo)準(zhǔn)件測試系統(tǒng)誤差的過程,根據(jù)校準(zhǔn)消除誤差項的不同,網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)主要分為頻響校準(zhǔn)和矢量校準(zhǔn),消除誤差項目的個數(shù)與測試的標(biāo)準(zhǔn)件數(shù)目相同。

我們常用的誤差模型:

一、單端口誤差模型

 

圖一、單端口校準(zhǔn)誤差模型

圖一為網(wǎng)絡(luò)分析儀反射測試時系統(tǒng)誤差的數(shù)學(xué)模型。S11M為網(wǎng)絡(luò)分析儀的實際測試值,其中包含各項測試誤差,具體測試誤差有:ED、ERT、ES等。儀表校準(zhǔn)目的是通過計算消除這些誤差項的影響,得到網(wǎng)絡(luò)分析儀測量的真值S11A。為得到ED、ERT、ES,通過測試標(biāo)準(zhǔn)件完成,由于要確定三項誤差,所以單端口校準(zhǔn)要測試三個標(biāo)準(zhǔn)件,聯(lián)立方程組得解。

二、雙端口誤差模型

雙端口誤差模型就要復(fù)雜不少了,來看看其誤差模型的表達式:

圖二、雙端口校準(zhǔn)誤差模型

雙端口校準(zhǔn)是網(wǎng)絡(luò)分析儀最精確的誤差校準(zhǔn)方法,校準(zhǔn)過程中需要至少7次連接校準(zhǔn)件,通常測試中,隔離校準(zhǔn)可以忽略。

基于二端口校準(zhǔn)的誤差模型,二端口校準(zhǔn)后,某一項S參數(shù)結(jié)果的測試都需要網(wǎng)絡(luò)分儀表進行正,反雙向測試,利用另外三個S參數(shù)對測試結(jié)果進行誤差消除運算。

這是被測件在校準(zhǔn)前后結(jié)果對比,對于沒有校準(zhǔn)的測試結(jié)果,存在典型的波動,它是系統(tǒng)誤差影響的結(jié)果。通過誤差校準(zhǔn)后,測試掃跡能更正確反映被測件性能。

雙端口校準(zhǔn)消除誤差項最多,校準(zhǔn)后儀表測試精度最高。

不同校準(zhǔn)方法比較:

測試過程需要根據(jù)測試參數(shù)和測試精度要求選擇不同的相應(yīng)校準(zhǔn)方式:

圖三、不同校準(zhǔn)形式及其應(yīng)用

針對特殊情形的校準(zhǔn)方式:

上面考慮的都是DUT比較理想的情況,通過網(wǎng)分自帶的校準(zhǔn)件就可以完成校準(zhǔn)??梢岳硐肟偸秦S滿的,現(xiàn)實總是殘酷的。大千世界林林總總的DUT又腫么辦呢?

下面就是幾種常見而又比較難校準(zhǔn)的DUT的巧辦法:

1、等效轉(zhuǎn)接器互換法校準(zhǔn)

這種方法適用于具有兩個相同形式而端口極性相同的被測件(如;1,2端口都為SMA陰性接頭),這種器件為非插入型器件之一。此方法需要使用性能相同,而陰陽極性不同的兩個轉(zhuǎn)接器。

校準(zhǔn)過程圖解:

等效轉(zhuǎn)接器互換法校準(zhǔn)第一步是在校準(zhǔn)過程中利用能進行直通(Through)校準(zhǔn)的轉(zhuǎn)接器A來完成傳輸校準(zhǔn)。但該轉(zhuǎn)接器并不能與測試直接連接。在反射校準(zhǔn)過程中,將轉(zhuǎn)接器A換為轉(zhuǎn)接器B,這一交換改變了一個測試端口的接口極性。

校準(zhǔn)完成后的測試過程中,使用能和被測件直接連接的轉(zhuǎn)接器B,轉(zhuǎn)接器B可以直接和被測件連接。

如果轉(zhuǎn)接器A和轉(zhuǎn)接器B的電氣性能完全相同,可以認(rèn)為轉(zhuǎn)接器A和轉(zhuǎn)接器B只是外形不同的同一個轉(zhuǎn)接器。

這種校準(zhǔn)方法的剩余誤差為兩個轉(zhuǎn)接器之間的性能差異。校準(zhǔn)過程較簡單,但不能適用于復(fù)雜非插入器件校準(zhǔn)。

2、轉(zhuǎn)接器移去校準(zhǔn)(英文名:Adapter Removal)

轉(zhuǎn)接器移去校準(zhǔn)是針對非插入器件測試的精度較高的校準(zhǔn)方法。轉(zhuǎn)接器移去校準(zhǔn)需要使用一個具有和被測件相同接口方式的轉(zhuǎn)接器,這個轉(zhuǎn)接器叫做校準(zhǔn)轉(zhuǎn)接器。轉(zhuǎn)接器的電長度必須小于測試頻率的四分之一范圍內(nèi)。比如N、3.5mm 和2.4mm校準(zhǔn)件可用,對于其它轉(zhuǎn)接器,有的儀表商也支持用戶可以直接輸入其電長度。

圖五、Adapter Removal 校準(zhǔn)過程

轉(zhuǎn)接器移去校準(zhǔn)需要進行兩次雙端口校準(zhǔn)。第一次校準(zhǔn)中,將直通轉(zhuǎn)接器放在測試端口2,校準(zhǔn)結(jié)果存入校準(zhǔn)數(shù)據(jù)組中。

第二次校準(zhǔn),將轉(zhuǎn)接器連接到測試端口1上,校準(zhǔn)數(shù)據(jù)用不同文件名也存在校準(zhǔn)數(shù)據(jù)組中。在這個過程中,可以使用兩種不同的校準(zhǔn)件。以適應(yīng)具有不同端口類型被測件的要求(比如端口1為N,端口2為SMA)。

兩次雙端口校準(zhǔn)完成后,在儀表轉(zhuǎn)接器移去校準(zhǔn)功能鍵下,根據(jù)提示將兩次校準(zhǔn)文件名輸入儀表,儀表通過計算可消除測量轉(zhuǎn)接器對測試影響。

3、TRL校準(zhǔn)

對于非同軸被測件進行測試,如;波導(dǎo)和晶片等,TRL校準(zhǔn)是經(jīng)常采用的校準(zhǔn)方法。TRL代表Through,直通;Reflect,反射;Line,傳輸線。采用TRL校準(zhǔn)的原因是因為在非同軸和高頻率條件下,要實現(xiàn)理想的匹配負(fù)載非常困難。

真正完整的TRL校準(zhǔn)為確定10項未知誤差,需使用4接收機網(wǎng)絡(luò)分析儀,其中2臺接收機用于反射信號測試,另兩臺接收機完成對傳輸信號的測試。TRL 校準(zhǔn)需進行14次測試。

其它術(shù)語如;LRL,LRM,TRM等只是采用其他校準(zhǔn)件的同一種基本校準(zhǔn)方法。

目前,許多無源和有源RF器件都采用表面安裝形式(SMT),首先對這些器件的測試,需要使用相應(yīng)測試夾具。又由于技術(shù),功率承載和工作環(huán)境或設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)的不同,這些元件的物理尺寸變化很大,相應(yīng)各種夾具的尺寸和性能變化也很大。

對夾具測試需要考慮兩個因素:

1)、夾具設(shè)計

夾具應(yīng)具有良好穩(wěn)定的機械性能。這些夾具往往會使用在生產(chǎn)線測試中,夾具需能讓被測件快速的插入、對齊和夾緊。對于RF工作頻段夾具,需考慮阻抗匹配因素,這要求精確設(shè)計夾具中傳輸線尺寸和空間屏蔽。

2)、夾具校準(zhǔn)

對夾具的校準(zhǔn)最好采用夾具上校準(zhǔn),安捷倫網(wǎng)絡(luò)分析儀支持用戶定義校準(zhǔn)件功能。定義的校準(zhǔn)件要求用戶能對校準(zhǔn)的物理特性進行表征,并將參數(shù)輸入到儀表內(nèi)部,并作為常用的由用戶定義的校準(zhǔn)工具。

雖然用來描述校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件的參數(shù)很多,對于大多數(shù)應(yīng)用來說,只要少數(shù)幾個參數(shù)需要修改。對于正確設(shè)計的PCB夾具而言,只有開路標(biāo)準(zhǔn)的邊緣電容和短路的延遲參數(shù)需要表征。

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