SAS規(guī)范定義了不同的測(cè)試點(diǎn)，以適應(yīng)不同的測(cè)試內(nèi)容的要求。這里面包括可以通過(guò)測(cè)試夾具測(cè)試到的測(cè)試點(diǎn)IT/CT以及在電纜或背板末端的IR/CR，在芯片內(nèi)部的發(fā)射端在封裝之前的芯片Die上的測(cè)試點(diǎn)ET，以及接收端芯片經(jīng)過(guò)均衡后的測(cè)試點(diǎn)ER。下圖是SAS12G規(guī)范里的測(cè)試點(diǎn)定義框圖。

根據(jù)SAS的測(cè)試規(guī)范要求，SAS測(cè)試包含3大部分內(nèi)容：發(fā)射端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試、接收端抖動(dòng)容限測(cè)試、互連阻抗和回波損耗測(cè)試。

發(fā)射端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試，包括PHY，TSG，OOB測(cè)試，這部分主要是發(fā)射機(jī)的信號(hào)完整性方面的內(nèi)容。PHY包括一般特性的信號(hào)質(zhì)量，比如鏈路數(shù)據(jù)速率穩(wěn)定度，及SSC（擴(kuò)頻時(shí)鐘）特性；TSG包括發(fā)射機(jī)信號(hào)質(zhì)量，比如共模參數(shù)，信號(hào)幅度、VMA、WDP、邊沿時(shí)間和抖動(dòng)參數(shù)；OOB測(cè)試主要是測(cè)量進(jìn)行鏈路初始化時(shí)的OOB（out-of-band帶外信令）的幅度/共模等參數(shù)特性，詳細(xì)測(cè)試項(xiàng)目如下：

·Test 5.3.1: Physical Link Rate Long Term Stability

·Test 5.2.1: SSC Modulation Frequency

·Test 5.2.3: SSC Modulation Deviation and Balance

·Test 5.2.4: SSC DFDT (Informative)

·Test 5.3.2: Common Mode RMS Voltage Limit

·Test 5.3.3: Common Mode Spectrum

·Test 5.3.4: Peak-to-peak Voltage

·Test 5.3.5: VMA and EQ (Informative)

·Test 5.3.6: Rise and Fall Times

·Test 5.3.7: Random Jitter (RJ)

·Test 5.3.8: Total Jitter (TJ)

·Test 5.3.9: Waveform Distortion Penalty (WDP)

·Test 5.1.2: Maximum Noise During OOB Idle

·Test 5.1.3: OOB Burst Amplitude

·Test 5.1.4: OOB Offset Delta

·Test 5.1.5: OOB Common Mode Delta

SAS接收端抖動(dòng)容忍度測(cè)試，主要是測(cè)試接收端對(duì)于抖動(dòng)的容忍度。這部分測(cè)試項(xiàng)目不多，但確是測(cè)試最復(fù)雜，挑戰(zhàn)性最大的。

·Test 1.1 - Stressed Receiver Device Jitter Tolerance Test Procedure for Trained 12 Gbit/s

SAS的互聯(lián)測(cè)試，主要針對(duì)是阻抗不平衡和回波損耗的測(cè)試，反映系統(tǒng)互連和端口匹配等特性，測(cè)試內(nèi)容如下：

·TEST 5.4.1 - RX DIFFERENTIAL RETURN LOSS(SDD11)

·TEST 5.4.2 - RX COMMON-MODE RETURN LOSS (SCC11)

·TEST 5.4.3 - RX DIFFERENTIAL IMPEDANCE IMBALANCE (SCD11)

·TEST 5.4.4 - TX DIFFERENTIAL RETURN LOSS (SDD22)

·TEST 5.4.5 - TX COMMON-MODE RETURN LOSS (SCC22)

·TEST 5.4.6 - TX DIFFERENTIAL IMPEDANCE IMBALANCE (SCD22)

對(duì)于上述測(cè)試內(nèi)容， UNH-IOL提供了詳細(xì)的一致性測(cè)試文檔，可以參考https://www.iol.unh.edu/testing/storage/sas/test-suites，查閱對(duì)應(yīng)的文檔。

同時(shí)，SAS規(guī)范里還定義了多種測(cè)試碼型，在發(fā)射機(jī)測(cè)試、互連測(cè)試和接收機(jī)測(cè)試時(shí)有明確的測(cè)試碼型的要求，要求被測(cè)件能夠生成或者通過(guò)BIST方式生成，主要的測(cè)試碼型包括如下：

·HFTP（High Frequency Test Pattern）高頻測(cè)試碼型，1010101010 1010101010b，即重復(fù)的D10.2。

·MFTP（Middle Frequency Test Pattern）中頻測(cè)試碼型，1100110011 0011001100b，即重復(fù)的D24.3。

·LFTP（Low Frequency Test Pattern）低頻測(cè)試碼型，0111100011 1000011100b，即重復(fù)的D30.3。
上述3個(gè)碼型主要用于測(cè)試發(fā)射機(jī)的性能參數(shù)測(cè)試。

·LBP（Lone-Bit Pattern）單獨(dú)位碼型，主要用于測(cè)試SATA性能。

·CJPAT（Compliant Jitter Tolerance Pattern），一致性抖動(dòng)容忍度碼型

·SRAMBLE_0 Pattern主要用于測(cè)試SAS 1.5, 3 and 6 Gbps WDP性能

·IDLE dwords pattern主要用于SAS 12 Gbps測(cè)試，配合 SAS3_EYEOPENING script