場(chǎng)強(qiáng)的測(cè)試方法包括面的掃描和體積的掃描。通過(guò)這些方法能直接或者間接的知道電場(chǎng)或者磁場(chǎng)的場(chǎng)強(qiáng)。
2面掃描方法
如圖面掃描方法的測(cè)試示意圖：

其中：Rmes是被測(cè)物基準(zhǔn)點(diǎn)到測(cè)試探頭的距離
面掃描即掃描以Rmes為半徑的球表面的場(chǎng)強(qiáng)分布情況，一般來(lái)說(shuō)定義被測(cè)物旋轉(zhuǎn)的角度為方位角φ，探頭的旋轉(zhuǎn)角度為仰角θ。通過(guò)被測(cè)物的旋轉(zhuǎn)和探頭的旋轉(zhuǎn)來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)試目的。
測(cè)試步驟：
1.確認(rèn)天線(xiàn)探頭，測(cè)試系統(tǒng)及設(shè)備正常運(yùn)行，安置被測(cè)物在適當(dāng)?shù)奈恢谩?br /> 2.系統(tǒng)中設(shè)定合適的輸出功率及測(cè)試頻率。
3.當(dāng)被測(cè)物每旋轉(zhuǎn)Δφ方位角，探頭從θi到θmax（imin=1）測(cè)量得到數(shù)值。重復(fù)測(cè)量直到φi=φmax（imin=1）。
4.根據(jù)測(cè)量得到的數(shù)據(jù)得出被測(cè)物的指標(biāo)。
此方法最終測(cè)量得到的數(shù)據(jù)為在一定距離被測(cè)物輻射出的場(chǎng)強(qiáng)，適合于進(jìn)行天線(xiàn)OTA測(cè)試及無(wú)源天線(xiàn)的參數(shù)指標(biāo)測(cè)試。

3 體積掃描
如圖體積掃描方法的測(cè)試示意圖：

其中：R是被測(cè)物到全向探頭的距離
體積掃描通過(guò)近場(chǎng)的測(cè)試得到被測(cè)物的場(chǎng)強(qiáng)。使用的探頭為全向探頭。
測(cè)試步驟：
1.確認(rèn)天線(xiàn)探頭，測(cè)試系統(tǒng)及設(shè)備正常運(yùn)行，安置被測(cè)物在適當(dāng)?shù)奈恢谩?br /> 2.系統(tǒng)中設(shè)定合適的輸出功率及測(cè)試頻率。
3.對(duì)被測(cè)物進(jìn)行3D掃描，并且在不同的角度分別選擇電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭進(jìn)行測(cè)試，分別測(cè)量E場(chǎng)和H場(chǎng)的場(chǎng)強(qiáng)。
4.根據(jù)測(cè)量得到的數(shù)據(jù)得出被測(cè)物的指標(biāo)。
此方法根據(jù)不同形狀的產(chǎn)品測(cè)試的距離R不同，測(cè)試數(shù)據(jù)為全向的電場(chǎng)強(qiáng)和磁場(chǎng)強(qiáng)，適合進(jìn)行SAR測(cè)試。