1.DECT相關(guān)名詞解釋:
FP– Fixed Part 固定裝置. 即為DECT Base Station。
PP– Protable Part 移動裝置,手持設(shè)備。DECT Phone
DECT Test Mode– 在DECT測試系統(tǒng)中FP必須在特殊的測試模式建立呼叫鏈接,在這種模式FP只接受測試消息,對于其他的信息一概忽略.
GAP Mode– 在GAP Mode使用默認(rèn)的信號處理方式處理消息,對于測試消息則一概忽略。 在默認(rèn)情況DECT設(shè)備開機(jī)后即進(jìn)入GAP Mode.
Dummy Bearer– 是FP送給PP的同步信號.Dummy Bearer是在FP鎖定PP后10ms發(fā)送到PP的,它包含同步和認(rèn)證信息.
Slot– Dummy Bearer 和 Traffic Bearer 的 Slot Number 的取值范圍為 0 – 11,并且不可以相同.此外相鄰的Slot(例如 5,6 或 11,0)只有在 Dummy Bearer 和 Traffic Bearer 的channel number 相同時容許。對于有些FP只能采用偶數(shù)的Slot,而有些則只能使用奇數(shù)的Slot。如果需要Traffic Slot可以更改。
RFPI– Radio Fixed Part Identity 是一個數(shù)值用來標(biāo)識FP,只有PP設(shè)置的RFPI Number和FP的RFPI一致時才能建立會話連接。
PMID– Protable Part Mac Identity 是一個數(shù)值用來標(biāo)識PP,大多數(shù)FP在測試模式時可以接受任何PMID,并且PMID可以在會話建立起來后被FP檢測出來。
PARK–Protable Access Rights Key 是一個密碼用來設(shè)定PP只與特定的幾個FP建立會話鏈接。
IPUI– International Protable User Identity 是PP的一個數(shù)字標(biāo)識,通過此標(biāo)識FP可以和PP建立會話連接。當(dāng)會話連接建立后FP會記錄此標(biāo)識。
NTP- Normal Transmit Power 平均傳輸功率。
2. DECT產(chǎn)品測試要求:
DECT產(chǎn)品分別要對FP&PP進(jìn)行測試。DECT產(chǎn)品CE測試所遵從的標(biāo)準(zhǔn)有:EN 301 406、EN 301 908-10。所需要測試的項目如下所示:
具備DECT功能的設(shè)備,必須按照標(biāo)準(zhǔn)將射頻所有的Case測試完畢,否則將不符合CE認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn), 不能生產(chǎn)并使用。歐洲國家從自身安全考慮,制定了強(qiáng)制性的DECT測試標(biāo)準(zhǔn),審查制度相對嚴(yán)格。
為了滿足國內(nèi)DECT廠家測試認(rèn)證的要求,MORLAB最新擴(kuò)展了DECT測試認(rèn)證服務(wù),在測試系統(tǒng)上分別引進(jìn)綜合測儀、頻譜儀、DECT信號源、帶內(nèi)干擾信號源等相關(guān)測試設(shè)備。MORLAB將以專業(yè)的態(tài)度,幫助相關(guān)DECT廠家達(dá)到各國認(rèn)證要求,使其產(chǎn)品得以順利出口。
共模電流與差模電流的本質(zhì)區(qū)別,在理解共模電感的作用前,需明確兩種電流模式的定義:共模電流:指在兩條信號線上以相同方向、相同幅度流動的干擾電流。
關(guān)鍵字: 共模電流電子系統(tǒng)中的噪聲有多種形式。無論是從外部來源接收到的,還是在PCB布局的不同區(qū)域之間傳遞,噪聲都可以通過兩種方法無意中接收:寄生電容和寄生電感。
關(guān)鍵字: 寄生電容傳感器是智能冰箱的“感知器官”,它能夠?qū)崟r監(jiān)測冰箱內(nèi)部的溫度、濕度和食物狀態(tài),確保食物始終處于最佳儲存環(huán)境。
關(guān)鍵字: 傳感器模擬數(shù)據(jù)(Analog Data)是由傳感器采集得到的連續(xù)變化的值,例如溫度、壓力,以及目前在電話、無線電和電視廣播中的聲音和圖像。
關(guān)鍵字: 模擬數(shù)據(jù)近年來,隨著電源集成度的提升,多家廠商都推出了PFC和LLC二合一的Combo控制器,將兩顆芯片獨立實現(xiàn)的功能整合成一顆芯片,簡化電源設(shè)計。
關(guān)鍵字: 電源集成高速數(shù)字電路向56Gbps PAM4、112Gbps NRZ等超高速率演進(jìn),電磁兼容性(EMC)問題已從輔助設(shè)計環(huán)節(jié)躍升為決定產(chǎn)品成敗的核心要素。傳統(tǒng)“設(shè)計-測試-整改”的串行模式因周期長、成本高,難以滿足AI服務(wù)器、8...
關(guān)鍵字: 高速數(shù)字電路 EMC




