漏電流測試
當(dāng)施加一個低于擊穿電壓的反向電壓時，對HBLED兩端的漏電流[1]（IL）的測量一般使用中等的電壓值。在生產(chǎn)測試中，常見的做法是僅確保漏電流不不至于超過一個特定的閾值。

提升HBLED的生產(chǎn)測試的吞吐率
過去，HBLED的生產(chǎn)測試的所有環(huán)節(jié)都由單臺PC來控制。換而言之，在測試程序的每個要素中，必須針對每次測試配置信號源和測量裝置，并在執(zhí)行預(yù)期的行動后，將書記返回給PC?？刂芇C根據(jù)通過/不通過的標(biāo)準(zhǔn)進行評估，并決定DUT應(yīng)歸入哪一類。PC發(fā)送指令和結(jié)果返回PC的過程將耗費大量的時間。

最新一代的智能儀器，包括吉時利公司最新的大功率2651A[2]系統(tǒng)信號源/測量儀（SourceMeter），由于可以最大限度減少通信的流量，從而可以大幅度提升測試吞吐率。測試程序的主體嵌入到儀器中的一個Test Script處理器[3]（TSP®）中，該處理器是一個用于控制測試步驟的測試程序引擎，內(nèi)置通過/不通過標(biāo)準(zhǔn)、計算和數(shù)字I/O的控制。一個TSP可以將用戶定義的測試程序存放到存儲器中，并根據(jù)用戶需要來執(zhí)行該程序，從而減少了測試程序中每個步驟的建立和配置時間。