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[導(dǎo)讀] 示波器帶寬影響抖動測量 示波器會給測量帶來額外的抖動,從而導(dǎo)致意外的設(shè)計改變。Inphi公司的Ziad Matni就做了一個這樣的實驗。當用50GHz采樣示波器在50Gbps數(shù)據(jù)流中測試50Gbps的flip-flop時會導(dǎo)致

示波器帶寬影響抖動測量


示波器會給測量帶來額外的抖動,從而導(dǎo)致意外的設(shè)計改變。Inphi公司的Ziad Matni就做了一個這樣的實驗。當用50GHz采樣示波器在50Gbps數(shù)據(jù)流中測試50Gbps的flip-flop時會導(dǎo)致失真的波形。當測試45Gbps的信號時,Matni發(fā)現(xiàn)50GGHz示波器所產(chǎn)生眼圖的抖動(975fs rms)要比65GHz示波器(623fs rms)大的多。

甚至對于20Gbps的信號,示波器帶寬也是有區(qū)別的,盡管區(qū)別不明顯。50GHz示波器呈現(xiàn)的抖動為426fs,而65GHz示波器為388fs。

差分和單端傳輸線同樣會影響抖動。多數(shù)設(shè)計采用差分信號,因為差分比單端更穩(wěn)健,但是差分信號要求匹配的傳輸線,否則就會帶來抖動。比如,信號線對相差1/4英寸,這會引起40Gbps信號1UI(25ps)的失配.



65GHz采樣示波器量測45Gbps信號比低帶寬示波器(50GHz)體現(xiàn)出更小的抖動。

簡介

當通信電路運行在10,25,50Gbps或更高速率上時,而系統(tǒng)集成度又越來越高,正確的測試成為顯著挑戰(zhàn)。

高速電路的輸出波形,是數(shù)據(jù)眼圖或正弦波,直觀體現(xiàn)了電路性能。輸出眼圖良好和輸出信號完整性是電路性能的底線。半導(dǎo)體設(shè)計,封裝設(shè)計,PCB設(shè)計,測試界面,測試設(shè)備設(shè)計,所有這一切都成為工程師最終在示波器或其他測量設(shè)備上“查看”的關(guān)鍵因素。從信號抖動到信號幅度變化、噪聲幅度、下沖/過沖的任何事都被上述考慮所影響。

該文就研究影響高速電路輸出測量讀數(shù)的條件,包括采樣頭的選擇,當然也有取決于數(shù)據(jù)格式選擇的區(qū)別,比如單端或差分。

數(shù)據(jù)眼圖的解剖


理想的眼圖

數(shù)據(jù)眼圖是數(shù)字信號的呈現(xiàn),典型在示波器中測量。1和0在一個位元周期中疊加。理想的數(shù)據(jù)眼圖如圖1所示:從高到低數(shù)據(jù)狀態(tài)的光滑過渡真實體現(xiàn)了“高”“低”電平。事實上,數(shù)據(jù)眼圖會被邊沿抖動,電壓軌噪聲(圖2所示),欠阻尼,過阻尼(圖3所示)和其他失真(比如,阻抗失配或信號長的返回路徑)所污染。這些情況會造成數(shù)據(jù)眼圖的劣化,通過增加了信噪比,增加了相噪和使得數(shù)據(jù)眼圖看起來更加“閉合”。


相位和幅度噪聲


過沖和欠沖響應(yīng)

這些高速數(shù)據(jù)眼圖的不良特征可以追溯到以下任何或全部根源。
a) 本來的信號噪聲
b) 芯片本身的半導(dǎo)體材料
c) 芯片上的電路設(shè)計
d) 芯片封裝
e) 電源和地連接
f) PCB材料
g) PCB設(shè)計任何失配的線阻抗,傳輸線帶寬限制,未知的線耦合等
h) PCB上數(shù)據(jù)鏈路的任何器件:AC耦合電容,終端電阻,DC偏置電感等
i) PCB上的DC電源旁路網(wǎng)絡(luò)(通常決定了信號的返回路徑)
j) PCB上的連接器(以及任何適配器)和他們的帶寬限制
k) 連接PCB和測試設(shè)備(帶寬有限,會帶來確定性抖動)的同軸電纜
i) 數(shù)字采樣頭,在數(shù)字示波器中,包含了觸發(fā)信號上的任何噪聲

許多次,盡管半導(dǎo)體電路,封裝和PCB經(jīng)過最佳設(shè)計,但觀察到的信號仍然有很大的噪聲。這就是為什么必須在使用連接器,電纜,尤其是采樣頭帶寬上做出正確選擇的原因,為了保證對高速數(shù)字信號最干凈的觀察。此外,另外一個必須的考慮是,運行和觀察高速信號時,到底是使用差分還是單端。

數(shù)據(jù)眼圖展示了低帶寬響應(yīng)


典型的測試裝置,可能對待測信號造成影響的噪聲源

數(shù)據(jù)格式

差分信號的2個通道攜有相同的噪聲

使用差分還是單端數(shù)據(jù)格式都有正方兩方面的原因。任何信號,S(t),都可描述成“純凈的”信號加上環(huán)境噪聲。如果信號以差分存在,理想的,環(huán)境噪聲被消除。這是因為差分信號的2個分量帶有一樣的噪聲信號。

通過設(shè)計,差分信號通常對于電源噪聲和串擾信號具有更好的穩(wěn)健性。對電磁干擾或者射頻干擾有更好的抵抗性而且不易受地彈干擾。

然而,對于數(shù)據(jù)路徑差分信號要求相位匹配的傳輸線。多數(shù)PCB材料和同軸電纜的傳播延遲為100~125ps/inch。對應(yīng)于40Gbps信號位元時間(25ps,或者同軸電纜長度的差別為大約 1/4英寸),準確匹配差分信號2個分量的線長成為首要的考慮。

單端信號具有路由簡單的明顯優(yōu)勢:不需考慮傳輸線長度匹配。然而,單端信號對噪聲的免疫力卻差。

為了更好的信號完整性和更好的噪聲免疫,差分信號被優(yōu)先選用。更好的信號完整性意味著在終端的較干凈數(shù)據(jù)眼圖。更好的噪聲免疫同樣意味著更穩(wěn)健的數(shù)據(jù)恢復(fù)和更靈活的PCB設(shè)計。

測試設(shè)備的選擇

數(shù)字采樣示波器,今天多數(shù)供應(yīng)商提供杰出的選擇。關(guān)鍵是理解采樣輸入帶寬如何影響待測信號。圖7展示了用相同設(shè)置端接的同樣信號用不同數(shù)字采樣頭(在同一個示波器主機中):一個具有50GHz帶寬,而另一個具有63GHz帶寬。信號是從Inphi 50700DF,50Gbps D-Flip Flop電路發(fā)出的45Gbps PRBS31碼型。


45Gbps的信號分別用63GHz(上)和50GHz(下)的采樣頭觀察

較高帶寬采樣頭上看到的信號展示了具有較低抖動特征的眼圖(測得的抖動有效值是623fs vs 975fs),較低的信噪比(測得的S/N是 11.72 vs 14.17)和較高的信號幅度(測得的幅度峰峰值是524mV vs 487mV)。

甚至較低頻的信號用不同帶寬的采樣頭測試也有區(qū)別。圖8顯示了用相同方式端接的相同在先前使用的2個不同采樣頭下的表現(xiàn)。信號是從Inphi 25700DF,25Gbps D-Flip Flop電路發(fā)出的20Gbps PRBS31碼型。


20Gbps的信號分別用63GHz(上)和50GHz(下)的采樣頭觀察

盡管沒有之前45Gbps信號那么明顯,但20Gbps信號在較高帶寬采樣頭仍然顯示了具有較小抖動特征的輕微區(qū)別(測得的抖動有效值是388fs vs 426fs),提高的信噪比(具有更好的電壓軌穩(wěn)定性)。

結(jié)論

許多可能的噪聲源和失配引起波形失真,使得原本良好的眼圖變壞。當處理數(shù)百兆 bps的速率,直到數(shù) Gbps,這些源的影響很小。但一旦數(shù)據(jù)速率突破20Gbps,這些源將帶來顯著的影響。良好的測量不僅需要選擇可靠的電路和PCB設(shè)計,最重要的,還有數(shù)據(jù)格式和測試設(shè)備。

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