改進高速射頻元件的生產(chǎn)測試方法
在RF接收器(RX)的開發(fā)過程中，我們的團隊發(fā)現(xiàn)其性能曾接近客戶要求的極限。為了滿足更大的挑戰(zhàn)，對接收器的性能要求也不斷提高。我們需要準確地選擇接近需求極限的設備，如果不是好的設備，我們堅決不會使用。這就需要一個準確、可靠的測試程序，并且對生產(chǎn)環(huán)境來說具有成本效益。
通過將比特誤碼率-信噪比(BER/SNR)相關聯(lián)，讓在甚高頻(VHF)接收器中測試ACR(相鄰信道抑制)成為可能。對于任何設備的元件測試，從試驗臺轉(zhuǎn)到生產(chǎn)流程中的自動測試設備(ATE)上都將面臨很大的挑戰(zhàn)，而將高速RF設備的測試轉(zhuǎn)至生產(chǎn)環(huán)境中卻完全是令人怯步的。為了便于甚高頻RF接收器在生產(chǎn)環(huán)境中的測試，您可以使用一種將誤碼率和信噪比與ACR相關聯(lián)的技術。此項技術專為自動測試設備開發(fā)，可大大減少測試時間和內(nèi)存需求，同時保證高度可靠的測試結果。
為了將試驗臺設置順利轉(zhuǎn)至預期的自動測試設備上，并使其保持較強的關聯(lián)性，我們進行了詳盡的測試。主要的問題是，我們在試驗臺上使用了基帶設備，以便通過降頻轉(zhuǎn)換接收到的數(shù)字RF信號，而一個設備的好壞取決于比特誤碼率的結果。為了解決這個問題，ACR成為接近容許公差的規(guī)范，它需要兩個RF信號發(fā)生器用于試驗臺的設置。由于這是個復雜的測試方法，我們不可能在自動測試設備環(huán)境中完全復制試驗臺的設置，所以需要為大批量生產(chǎn)測試找到新的測試技術。
相鄰信道抑制測試
VHF接收器的ACR性能基于一系列的機制，包括鏡頻抑制、相位噪聲以及互調(diào)失真性能。所有這些都是交互的，不能孤立地對待。
針對甚高頻接收器的目標應用使用編碼正交頻分多路復用(COFDM)信號，該信號包含多個載波(許多元件在不同頻率)，且他們會相互影響。遺憾的是，使用單或雙聲調(diào)準確地測試這些副載波的交互影響是不可能的。因此，我們開發(fā)了一種技術，這種技術在不必要的相鄰信道使用代表信號，并在需要的信道中測量生成的噪聲以作為結果。
我們首先將接收器調(diào)整到較低的、需要的信號水平，以此開始我們的ACR測試，然后使得另一個信號出現(xiàn)在其相鄰信道(或者下方)。
當相鄰信道中的信號功率降低了所需信道中的信號，使其超過比特誤碼率規(guī)定范圍時，就可以達到性能極限。因此，當超出比特誤碼率范圍時，ACR是所需功率和相鄰功率之間的差別所在。與用于試驗臺測試設置同樣的調(diào)試方案，通過在自動測試設備上設置一個頻率生成器，我們能夠真正地比較系統(tǒng)性能。
調(diào)制波形(DOFDM)
大多數(shù)試驗設置使用調(diào)制技術，猶如真實的應用程序，例如一個程序包含幾個數(shù)據(jù)包或數(shù)據(jù)幀。由于測試時間和硬件內(nèi)存的約束，在自動測試設備上追溯并測量這些數(shù)據(jù)是不現(xiàn)實的。對于這個應用，一個完整的數(shù)據(jù)幀將展現(xiàn)96ms的傳輸時間并需要12Mbytes的內(nèi)存。因此，我們決定使用數(shù)據(jù)的兩個符號來形容調(diào)制信號。這相當于大約320kbytes的內(nèi)存，對自動測試設備來說，這仍然是相當大的捕獲陣列。我們選擇具有最大峰均比(peak-to-average ratio)的兩個符號來檢測其在設備上的最大影響。
RF發(fā)生器需要根據(jù)信號的峰均比(PAR)進行調(diào)整以達到所需的輸出功率。圖1顯示了從試驗臺波形中提取的兩個DQPSK(差分四相相移鍵控)星座的特征。
圖1，DQPSK星座圖顯示了所有從試驗臺波形中提取的星座點。
在這個示例中，測試人員測量到一個35dB ACR的設備在1.3-MHz帶寬下的功率密度大約為-169dBm/Hz。圖3顯示了鄰近信道的信號干擾“所需要的”頻帶。
比較了帶內(nèi)和帶外信噪比實際測量差異的對比圖顯示，其與在試驗臺上測量的ACR具有緊密的關聯(lián)性(圖5)。
由于準確地復制試驗臺上的測試設置、使用相同的激勵信號，并測量應用所使用的相同帶寬下的信號輸出，才能取得該結果。這種方法捕捉到了我們在試驗臺上看到的從相位噪聲至鏡頻抑制的所有影響。通過使用相同的調(diào)制技術，并在收到帶外信號的同時測量帶內(nèi)功率，就有可能取得與試驗臺ACR測試結果相一致的關聯(lián)性。
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